Verbum

ДЭФЕ́КТ (лац. defectus),

недахоп чаго-н., загана. Гл., напр., Дэфект мас, Дэфекты металаў.

т. 6, с. 363

ДЭФЕКТАЛО́ГІЯ (ад дэфект + ...логія),

навука пра заканамернасці псіхічнага развіцця, выхавання і навучання дзяцей, якія патрабуюць асаблівай увагі: глухіх, сляпых, са слабым зрокам ці слыхам, разумова адсталых, з затрымкай псіхічнага развіцця, цяжкімі парушэннямі маўлення, вынікамі дзіцячага цэрэбральнага паралічу, комплекснымі парушэннямі (слепаглухіх, глухіх з разумовай адсталасцю, сляпых з затрымкай псіхічнага развіцця і інш. камбінацыямі). Як самаст. галіна навукі склалася ў пач. 19 ст. Сучасная Д. апіраецца на дасягненні псіхалогіі, педагогікі, у т. л. народнай, прыродазнаўства, медыцыны, тэхнікі, радыёэлектронікі. Вызначае структуру і сістэму метадаў і методык дыягностыкі і дыферэнцыяльнай дыягностыкі стану своеасаблівага псіхічнага развіцця дзяцей з парушэннямі ў сістэме аналізатараў, ц. н. с., маўленчай дзейнасці; распрацоўвае прынцыпы, абгрунтоўвае змест, метады і сродкі карэкцыйна накіраванага навучання і выхавання; даследуе праблемы абілітацыі (стварэнне механізмаў кампенсацыі ў дзяцей з прыроджаным дэфектам), рэабілітацыі (сістэма мер па рэадаптацыі асоб з набытым дэфектам), сац. адаптацыі, прафарыентацыі. У Беларусі праблемы Д. распрацоўваюцца на кафедрах дэфекталагічнага ф-та Бел. пед. ун-та, у сектарах аддзялення Д. Нац. ін-та адукацыі, на кафедры Д. Акадэміі паслядыпломнай адукацыі. Спецыялістаў для спец. дзіцячых устаноў рыхтуе Бел. пед. ун-т і педвучылішча № 2 у Мінску.

Т.​А.​Грыгор’ева.

т. 6, с. 363

ДЭФЕКТАСКАПІ́Я (ад дэфект + ...скапія),

комплекс фізічных метадаў і сродкаў неразбуральнага кантролю якасці матэрыялаў і вырабаў (парушэння суцэльнасці, адхілення ад зададзеных фіз.-мех. уласцівасцей, хім. саставу, структуры, геам. памераў і інш.).

Да метадаў Д. адносяцца: аптычныя (візуальныя), акустычныя (ультрагукавыя), магнітныя, радыяцыйныя (у т. л. гама-метады і рэнтгенаўскія), радыёхвалевыя, цеплавыя (інфрачырвоныя), віхратокавыя (электраіндуктыўныя), электрычныя (у т. л. тэрма- і трыбаэлектрычныя, электрастатычныя), капілярныя (люмінесцэнтныя, каляровыя) і інш. Большасць метадаў Д. заснавана на ўзаемадзеянні акустычных або электрамагнітных ваганняў, фіз. палёў (магнітных, электрамагнітных, радыёхвалевых і інш.) з выпрабавальнымі вырабамі на лакальных іх участках або па ўсім аб’ёме. Д. рашае задачы з выкарыстаннем гэтых метадаў па выяўленні ў вырабах розных тыпаў паверхневых і ўнутраных дэфектаў — трэшчын, валасавін, ракавін, шлакавых уключэнняў, адслаенняў і інш.

На Беларусі навук. работы па Д. вядуцца з 1964 у Ін-це прыкладной фізікі Нац. АН. Развіваецца капілярны метад (у прыватнасці, для кантролю керамічных, кампазітных і інш. вырабаў), ультрагукавы метад з выкарыстаннем магн. вадкасці; распрацоўваюцца асновы магн., эл.-магн. і радыёхвалевага метадаў; створаны прылады магн., магнітаграфічнага, віхратокавага і радыёхвалевага кантролю.

Літ.:

Ермолов И.Н. Теория и практика ультразвукового контроля. М., 1981;

Прохоренко П.П., Мигун Н.П. Введение в теорию капиллярного контроля. Мн., 1988;

Зацепин Н.Н., Коржова Л.В. Магнитная дефектоскопия. Мн., 1981.

М.​М.​Зацэпін.

т. 6, с. 363

ДЭФЕКТАСКО́П (ад дэфект + ...скоп),

прылада або ўстаноўка для выяўлення дэфектаў (тыпу парушэнняў суцэльнасці ці аднароднасці, адхіленняў у хім. саставе) у матэрыялах, паўфабрыкатах і вырабах метадамі неразбуральнага кантролю. Стацыянарныя і лабараторныя Д. абсталёўваюць асцылаграфічнымі і лічбавымі індыкатарамі, самапіснымі прыстасаваннямі; пераносныя — стрэлачнымі прыладамі, гукавымі або асвятляльнымі сігналізатарамі. Існуюць Д., якія кантралююць рухомыя вырабы або самі рухаюцца адносна вырабаў (рэйкавыя Д., Д.-цялежкі і інш.).

Адрозніваюць Д.: ультрагукавыя (выкарыстоўваюць уласцівасць ультрагукавых хваль адбівацца ад дэфектаў, напр., трэшчын); рэнтгенаўскія і гама-Д. (прасвечваюць вырабы і матэрыялы адпаведнымі прамянямі, фіксуюць трэшчыны, ракавіны, пабочныя ўключэнні); магнітныя (з дапамогай магн. поля збіраюць магн. парашок або суспензію ў месцах дэфектаў); электраіндуктыўныя (узбуджаюць у вырабе або матэрыяле віхравыя токі, сіла і шчыльнасць якіх залежаць ад наяўнасці дэфектаў); люмінесцэнтныя (выяўляюць парушэнні пакрыццяў на дэталях электронных прылад); аптычныя (устаноўкі з прасветным экранам для візуальнага кантролю або сістэмай аўтам. аналізу відарысу; выяўляюць мікрашчыліны, мех. напружанні, адшчэпы, драпіны, скопішчы дыслакацый па змене інтэнсіўнасці адбітых прамянёў) і інш. Гл. таксама Дэфектаскапія.

П.​П.​Прахарэнка.

т. 6, с. 364

ДЭФЕ́КТЫ МЕТАЛАЎ,

недасканаласці (парушэнні) будовы металаў і сплаваў (пераважна рэгулярнай крышт. структуры), якія пагаршаюць іх фіз.-мех. ўласцівасці. Дэфектамі лічацца адхіленні ад нармальнай (прадугледжанай тэхн. ўмовамі, стандартамі) якасці металу па хім. саставе, структуры, суцэльнасці, стане паверхні, якія вядуць да зніжэння сортнасці або забракоўкі вырабаў. Выяўляюць Д.м. метадамі дэфектаскапіі, металаграфіі, рэнтгенаструктурным аналізам і інш., ліквідуюць найчасцей тэрмічнай апрацоўкай.

Адрозніваюць Д.м.: тонкай структуры (вакансіі, дыслакацыі і інш., гл. Дэфекты ў крышталях), мікрадэфекты (дэндрыты, мікрапоры, мікратрэшчыны, мікрапузыры газаў, плёны, неправары і інш., выяўляюцца аптычнымі мікраскопамі); макрадэфекты (валасавіны, трэшчыны, поры, газавыя пузыры, умяціны, драпіны, ірваніны і інш.). Д.м. узнікаюць з-за недасканаласці або парушэнняў тэхнал. працэсаў пры плаўленні металаў і атрыманні адлівак (неметал. ўключэнні, шлакавіны, усадачная і газавая порыстасць, ракавіны і г.д.), пры апрацоўцы ціскам (расслаенні, заковы, валасавіны, флокены і г.д.), пры тэрмічнай, хімікатэрмічнай, электрахім. і мех. апрацоўцы (трэшчыны, прыпяканні, абезвугляроджванні і г.д.), пры зварцы, паянні, кляпанні (неправары, непрапаі, карозія і г.д.). Дэфекты ў паўфабрыкатах і гатовых вырабах могуць узнікаць таксама пры транспарціроўцы, захоўванні і эксплуатацыі (напр., карозія металаў). Высокая якасць металаў і вырабаў з іх забяспечваецца ўдасканаленнем тэхналогіі вытв-сці і метадаў кантролю іх якасці.

т. 6, с. 364

ДЭФЕ́КТЫ Ў КРЫШТА́ЛЯХ,

парушэнні перыядычнасці размяшчэння часціц у крышталічнай рашотцы. Узнікаюць пры росце крышталёў ці іх фазавых ператварэннях, цеплавых, мех., эл. і інш. уздзеяннях, увядзенні дамешкаў. Адрозніваюць дэфекты кропкавыя (нульмерныя), лінейныя (аднамерныя), паверхневыя (двухмерныя) і аб’ёмныя (трохмерныя).

Кропкавыя дэфекты — парушэнні перыядычнасці ўласнай атамнай структуры крышталя: вакансіі атамы і іоны, што перамясціліся з нармальнага становішча ў міжвузелле (міжвузельныя атамы і іоны); атамы і іоны ў крышталях хім. злучэнняў, якія займаюць вузлы «чужой» падрашоткі; дэфекты, што ўзнікаюць пры ўвядзенні ў крышталь дамешкавых атамаў. Узаемадзеянне такіх дэфектаў паміж сабой прыводзіць да ўзнікнення складаных дэфектаў: дывакансій (падвойных вакансій), кластараў (скопішчаў дэфектаў) і інш. Лінейныя дэфекты — ланцужкі кропкавых дэфектаў, краявыя і вінтавыя дыслакацыі. Паверхневыя дэфекты: няправільна ўкладзеныя слаі атамаў (дэфекты ўпакоўкі); заканамерныя парушэнні нармальнага чаргавання атамных плоскасцей; дэфекты двайнікавання з кропкавай сіметрыяй; межы ўключэнняў; сама паверхня крышталя і інш. Аб’ёмныя дэфекты: парушэнні, звязаныя з адхіленнем ад законаў стэхіяметрыі; скопішчы вакансій; нерэгулярныя ўтварэнні ў выглядзе расколін, пустот, уключэнняў іншай фазы; скопішчы дамешкаў на дыслакацыях, у зонах росту і інш. макраскапічныя дэфекты. Д. ў к. уплываюць на мех., аптычныя, эл., магн. і інш. ўласцівасці крышталёў. У дасканалай крышт. рашотцы рух атамаў і іонаў немагчымы; у крышталях з дэфектамі міграцыя атамаў абумоўлівае ўзаемную дыфузію цвёрдых цел, хім. цвердафазныя рэакцыі і інш. з’явы. Д. ў к. могуць уводзіцца мэтанакіравана або ўзнікаць выпадкова пад уздзеяннем фактараў, якія не кантралююцца. Спец. ўвядзенне дэфектаў або іх выдаленне — важная частка тэхналогіі вытв-сці паўправадніковых матэрыялаў, люмінафораў, лазерных і фотахромных крышталёў і шкла, паўправадніковых прылад. Шчыльнасць непажаданых дэфектаў памяншаецца ўдасканаленнем метадаў вырошчвання і апрацоўкі крышталёў. Д. ў к. вывучаюцца аптычнымі метадамі, іоннай і электроннай мікраскапіяй, метадам выбіральнага траўлення, рэнтгенадыфракцыйнымі і ядз.-фіз. метадамі.

Літ.:

Современная кристаллография Т. 2. М., 1979;

Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. М., 1981;

Орлов А.Н. Введение в теорию дефектов в кристаллах. М., 1983;

Орлов А.Н., Трушин Ю.В. Энергии точечных дефектов в металлах. М., 1983.

Р.​М.​Шахлевіч.

т. 6, с. 364

ДЭФЕ́КТ МАС,

рознасць паміж сумай мас нуклонаў (нейтронаў і пратонаў), якія ўваходзяць у склад ядра атамнага, і масай ядра. Вызначаецца формулай Δ = ZM_p + (A−Z) M_n − M_я, дзе Z — лік пратонаў у ядры, A — масавы лік ядра, M_p, M_n — масы пратона і нейтрона адпаведна, M_я — маса ядра атама. Д.м. выражаецца ў атамных адзінках масы і роўны (з адваротным знакам) энергіі сувязі нуклонаў у ядры. Чым большы Д.м., тым вышэйшая энергія сувязі і тым больш устойлівае ядро. Гл. таксама Ядзерная энергія.

т. 6, с. 363

ДЭФІБРА́ТАР (ад дэ... + лац. fibra валакно),

апарат для прыгатавання драўнянай масы пры вытв-сці драўняна-стружкавых пліт, паперы і інш. Рабочыя органы — нерухомы і рухомы метал. дыскі, паміж якімі сціраецца папярэдне прапараная здробненая драўніна, атрыманая на рубільных машынах з балансаў або адходаў лесапілавання.

т. 6, с. 364

ДЭФІБРЭ́Р,

машына для атрымання драўнянай масы сціраннем балансавай драўніны на вярчальным абразіўным камені. У магутных Д. камяні дыяметрам 1500—1800 мм, шырынёй каля 1400 мм, у асн. штучныя — з кварцавага, карундавага або карбарундавага зерня на цэментнай, керамічнай ці інш. звязцы. Выкарыстоўваецца ў вытв-сці паперы, кардону і інш.

т. 6, с. 364

ДЭФІЦЫ́Т (ад лац. deficit не хапае),

1) недахоп чаго-н., няхватка ў чым-н. (напр., Д. матэрыялаў).

2) Страта, перавышэнне расходаў над даходамі (напр., Д. плацежнага балансу).

т. 6, с. 365