ДЭФЕКТАСКО́П (ад дэфект + ...скоп),

прылада або ўстаноўка для выяўлення дэфектаў (тыпу парушэнняў суцэльнасці ці аднароднасці, адхіленняў у хім. саставе) у матэрыялах, паўфабрыкатах і вырабах метадамі неразбуральнага кантролю. Стацыянарныя і лабараторныя Д. абсталёўваюць асцылаграфічнымі і лічбавымі індыкатарамі, самапіснымі прыстасаваннямі; пераносныя — стрэлачнымі прыладамі, гукавымі або асвятляльнымі сігналізатарамі. Існуюць Д., якія кантралююць рухомыя вырабы або самі рухаюцца адносна вырабаў (рэйкавыя Д., Д.-цялежкі і інш.).

Адрозніваюць Д.: ультрагукавыя (выкарыстоўваюць уласцівасць ультрагукавых хваль адбівацца ад дэфектаў, напр., трэшчын); рэнтгенаўскія і гама-Д. (прасвечваюць вырабы і матэрыялы адпаведнымі прамянямі, фіксуюць трэшчыны, ракавіны, пабочныя ўключэнні); магнітныя (з дапамогай магн. поля збіраюць магн. парашок або суспензію ў месцах дэфектаў); электраіндуктыўныя (узбуджаюць у вырабе або матэрыяле віхравыя токі, сіла і шчыльнасць якіх залежаць ад наяўнасці дэфектаў); люмінесцэнтныя (выяўляюць парушэнні пакрыццяў на дэталях электронных прылад); аптычныя (устаноўкі з прасветным экранам для візуальнага кантролю або сістэмай аўтам. аналізу відарысу; выяўляюць мікрашчыліны, мех. напружанні, адшчэпы, драпіны, скопішчы дыслакацый па змене інтэнсіўнасці адбітых прамянёў) і інш. Гл. таксама Дэфектаскапія.

П.П.Прахарэнка.

Схема аптычнага дэфектаскопа: 1 — аб’ект даследавання (паўправадніковая пласціна); 2 — пучок светлавых прамянёў; 3 — крыніца выпрамянення; 4 — экран.

т. 6, с. 364

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)