Verbum

сіметрыя крышталёў

т. 14, с. 386

спектры крышталёў аптычныя

т. 15, с. 108

ВУЛЬФ (Георгій) (Юрый) Віктаравіч (22.6.1863, г. Нежын, Украіна — 25.12.1925),

рускі крышталёграф. Чл.-кар. АН СССР (1921). Скончыў Варшаўскі ун-т (1885). Праф. Казанскага (1897), Варшаўскага (1898) і Маскоўскага (1918) ун-таў. Вынайшаў графічны метад апрацоўкі вынікаў вымярэння крышталёў з дапамогай стэрэаграфічнай сеткі (названа яго імем). Даў новы спосаб вываду ўсіх груп сіметрыі крышталёў. Навук. працы ў галіне росту крышталёў, вывучэння вадкіх крышталёў і крышталяоптыкі. Упершыню ў Расіі паставіў дослед па рэнтгенаструктурных даследаваннях крышталёў. У 1913 адкрыў закон інтэрферэнцыі рэнтгенаўскіх прамянёў, адлюстраваных атамнымі плоскасцямі крышталёў, і незалежна ад У.​Г.​Брэга вывеў асн. формулу рэнтгенаструктурнага аналізу (гл. Брэга—Вульфа ўмовы).

т. 4, с. 294

ВІЦЫНА́ЛЬНЫЯ ГРА́НІ (лац. vicinalis ад vicinus суседні, блізкі, падобны),

грані крышталёў, на якіх ёсць спадзістыя пірамідальныя ўзвышэнні (віцынальныя піраміды) або ямкі. Утвараюцца пры росце крышталёў у пункце выхаду вінтавой дыслакацыі. У розных крышталёў маюць розную форму, што дае магчымасць па іх вызначаць сіметрыю ў крышталяграфіі.

т. 4, с. 237

КРЫШТАЛЯГРА́ФІЯ (ад крышталі + ...графія),

навука пра крышталі і крышт. стан матэрыі. Вывучае вонкавую форму, унутр. будову, фіз. ўласцівасці, рост, разбурэнне, сувязь паміж будовай і хім. саставам крышталёў. Даследуе прыродныя і сінт. крышталі. Падзяляецца на крышталяфізіку, крышталяхімію, геам. К. і крышталегенезіс. Геаметрычная К. вывучае вонкавую і ўнутр. сіметрыю крышталёў, формы крышт. мнагаграннікаў; крышталегенезіс — вывучэнне працэсаў зараджэння і росту крышталёў, іх фазавых пераходаў, структурных дэфектаў, зросткаў і інш. Звязана з мінералогіяй, петраграфіяй, геахіміяй і інш.

Зарадзілася ў старажытнасці. Як самаст. навука развіваецца з 2-й пал. 17 ст., з адкрыццём законаў пастаянства вуглоў у крышталях (Н.​Стэна, 1669), падвойнага праменепраламлення (Э.​Барталін, 1669), пастаянства пунктаў плаўлення крышт. рэчываў (Р.​Гук, 1668), з’явы аднароднасці і анізатропнасці крышталёў. Першы дапаможнік па К. апублікаваны Н.​Рамэ дэ Лілем (1772). У 2-й пал. 18 ст. М.​В.​Ламаносаў, Р.Ж.Гаюі (1784) і інш. выказалі меркаванне пра рашэцістую будову крышталёў. У 18—19 ст. Гаюі, А.​В.​Гадалін, Г.​В.​Вульф і інш. распрацавалі вучэнне пра сіметрыю крышталёў, яе развіў Я.С.Фёдараў (1890). У 19—20 ст. пачалося аптычнае вывучэнне шліфаў горных парод. Адкрыццё з’явы дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў (ням. фізік М.​Лаўэ, 1912) і распрацоўка метадаў рэнтгенаструктурнага аналізу (англ. фізікі У.Г. і У.Л.Брэг, 1913) дазволілі расшыфраваць крышт. структуру матэрыі. Уклад у К. зрабілі сав. вучоныя М.В.Бялоў, А.В.Шубнікаў, І.​В.​Абраімаў. Г.​Б.​Бокій, А.​І.​Кітайгародскі, І.​І.​Шафраноўскі і інш.

Прыкладное значэнне К. — распрацоўка метадаў штучнага вырошчвання крышталёў з папярэдне зададзенымі якасцямі, стварэнне новых сінт. матэрыялаў. Развіваецца вытв-сць сінт. крышталёў (кварцу, алмазу, германію, крэмнію і інш.).

Літ.:

Уиттекер Э. Кристаллография: Пер. с англ. М., 1983;

Егоров-Тисменко Ю.К., Литвинская Г.П., Загальская Ю.Г. Кристаллография. М., 1992.

С.​А.​Ціханаў.

т. 8, с. 529

КРЫШТАЛЯХІ́МІЯ,

раздзел хіміі, у якім вывучаюцца прасторавае размяшчэнне і характар узаемадзеяння паміж атамамі, іонамі, малекуламі, з якіх складаюцца крышталі, а таксама сувязь паміж структурай крышталёў і іх уласцівасцямі.

Асн. характарыстыкай структуры крышталёў з’яўляецца элементарная ячэйка, якая адлюстроўвае характар сіметрыі крышталёў, узаемнае размяшчэнне, каардынацыйны лік і адлегласці паміж атамамі (іонамі, малекуламі) у крышталях. Элементарныя ячэйкі маюць форму шматграннікаў, а сукупнасць такіх шматграннікаў з агульнымі гранямі складае прасторавую крышталічную рашотку. К. вызначае фактары, якімі абумоўлены характар сіметрыі і структура элементарнай ячэйкі; устанаўлівае тып крышталёў — іх прыналежнасць да кавалентных (атамы ў рашотцы злучаны кавалентнай сувяззю), іонных крышталёў, метал. (атамы злучаны металічнай сувяззю) ці малекулярных крышталёў, а таксама вывучае ўплыў структуры і характару хім. сувязі на ўласцівасці крышт. рэчываў. Устанаўленне колькаснай залежнасці паміж крышт. структурай і ўласцівасцямі рэчываў неабходна для стварэння новых матэрыялаў з зададзенымі ўласцівасцямі. К. вылучылася з крышталяграфіі і як самастойная навука сфарміравалася пасля адкрыцця дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў (1912) і даследаванняў У.Г.Брэгам і У.Л.Брэгам крышт. структуры шэрагу хім. індывідуальных цвёрдых рэчываў (1913—15) з дапамогай рэнтгенаструктурнага аналізу. Гл. таксама Хімія цвёрдага цела.

Літ.:

Бокий Г.Б. Кристаллохимия. 3 изд. М., 1971;

Урусов В.С. Теоретическая кристаллохимия. М., 1987;

Уэллс А.Ф. Структурная неорганическая химия: Пер. с англ. Т. 1—3. М., 1987—88.

В.​В.​Свірыдаў.

т. 8, с. 529

МАНАЭ́ДР (ад мана... + грэч. hedra грань),

простая форма (габітус) крышталёў, якая складаецца з непаўторных граней. Крышталі такой формы аб’яднаны ў 1-ы клас сіметрыі — монаэдрычны, які характарызуецца трыкліннай сінганіяй, адсутнасцю элементаў сіметрыі, няроўнасцю рэбраў і вуглоў паміж імі. М. прысутнічае ў форме крышталёў усіх сінганій, акрамя кубічнай, напр., мінералы бустаміт, клінаэдрыт, валастаніт і інш.

Р.​Р.​Паўлавец.

т. 10, с. 64

ПАЛАСА́ТЫЯ СПЕ́КТРЫ,

аптычныя спектры малекул і крышталёў. Узнікаюць пры электронных пераходах у малекулах і міжзонных пераходах у крышталях, складаюцца з шырокіх спектральных палос, размяшчэнне якіх у спектрах рознае для розных рэчываў. П.с. простых малекул распадаюцца на больш вузкія вагальныя палосы і вярчальныя лініі, у складаных малекул звычайна суцэльныя (не маюць дыскрэтнай структуры). Гл. таксама Малекулярныя спектры, Спектры крышталёў.

т. 11, с. 538

ДЫЭ́ДР,

двухграневая простая форма крышталёў з двайной воссю сіметрыі. Выкарыстоўваецца ў крышталяграфіі.

т. 6, с. 305

КРЫШТАЛЯФІ́ЗІКА,

раздзел фізікі, у якім вывучаюцца фіз. ўласцівасці крышталёў у сувязі з іх атамным (хімічным) саставам і будовай крышталічнай рашоткі. Для крышталёў характэрна анізатрапія, іх анізатропныя ўласцівасці характарызуюцца сукупнасцю некалькіх незалежных велічынь і апісваюцца тэнзарамі.

Кожны крышталь у адносінах да адных уласцівасцей можа. быць анізатропным, да другіх — ізатропным. Наяўнасць залежнасці якой-н. уласцівасці ад напрамку ў крышталі і колькасць незалежных велічынь, якімі гэтая ўласцівасць апісваецца, вызначаюцца прыродай самой уласцівасці і сіметрыяй крышталя. Некаторыя фіз. ўласцівасці крышталёў не могуць залежаць ад напрамку, напр., цеплаёмістасць, шчыльнасць. Гл. таксама Крышталяграфія, Крышталяоптыка.

Літ.:

Най Дж. Физические свойства кристаллов и их описание при помощи тензоров и матриц: Пер. с англ. 2 изд. М., 1967;

Сиротин Ю.И. Шаскольская М.П. Основы кристаллофизики. 2 им, М., 1979;

Современная кристаллография. Т. 4. М., 1981.

Б.​Б.​Бойка.

т. 8, с. 529