Verbum

КАМП’Ю́ТЭРНАЯ ТАМАГРА́ФІЯ,

метад рэнтгеналагічнага даследавання, пры якім атрымліваюць аксіяльны (папярочны) «зрэз» цела пацыента шляхам апрацоўкі праз ЭВМ даных пра паглынальную здольнасць тканак пры праходжанні праз іх кругавога сканіруючага пучка рэнтгенаўскіх прамянёў. Мае высокую кантрастную здольнасць, што дазваляе дыферэнцыраваць тканкі з розніцай шчыльнасці ў межах 0,5—2%. Метад заснаваны на вымярэнні паказчыкаў аслаблення. Шкала шчыльнасці — ад -1000 (паветра) да +1000 (косці) умоўных адзінак; таўшчыня зрэзаў пры К.т. 2—10 мм. Адзінку вымярэння К.т. — аслабленне — наз. адзінкай Хаўнсфілда. За распрацоўку і выкарыстанне К.т. амер. вучоны А.​Кормак і англ. вучоны Г.​Хаўнсфілд у 1979 атрымалі Нобелеўскую прэмію.

К.т. — метад удакладнення дыягназу (выяўленне пухлін, кіст, паразітарных пашкоджанняў, змен пасля запаленняў і траўм, заган развіцця, дэгенератыўна-дыстрафічных працэсаў і інш.) у галаўным мозгу, прыдаткавых пазухах носа, арбітах, пазваночніку і спінным мозгу, органах грудной клеткі, брушной поласці, малога таза, касцях і мяккіх тканках. Дапамагае вызначыць лакалізацыю і велічыню паталаг. працэсу, дынаміку развіцця хваробы і вынікі лячэння, месца і аб’ём для хірург. ўмяшання, для тапаметрыі пры прамянёвай тэрапіі і інш. К.т. робяць тамографамі. Існуе К.Т., заснаваная на эфекце ядзерна-магн. рэзанансу, пазітронная.

Л.​Л.​Аўдзей.

т. 7, с. 539

ДЫФРА́КЦЫЯ РЭНТГЕ́НАЎСКІХ ПРАМЯНЁЎ,

з’ява, што выяўляецца пры пругкім рассеянні рэнтгенаўскіх прамянёў крышталямі (або малекуламі вадкасцей і газаў), пры якім з першаснага пучка прамянёў узнікаюць другасныя адхіленыя пучкі той жа даўжыні хвалі.

Д.р.п. эксперыментальна выяўлена ням. фізікамі М.​Лаўэ, В.​Фрыдрыхам і П.​Кніпінгам (1912) як доказ хвалевай прыроды рэнтгенаўскіх прамянёў. Крышталь з’яўляецца натуральнай трохмернай дыфракцыйнай рашоткай (адлегласці паміж атамамі аднаго парадку з даўжынёй хвалі λ); напрамак дыфракцыйных максімумаў у агульным выпадку падпарадкоўваецца ўмовам Лаўэ: a(cosα − cosα₀) = hλ, b(cosβ − cosβ₀) = kλ, c(cosγ − cosγ₀) = lλ, дзе a, b, c — памеры крышт. рашоткі, α₀, β₀, γ₀ — вуглы, што ўтварае падаючы прамень, α, β, γ — рассеяны прамень з восямі крышталя, h, k, l — цэлыя лікі (індэксы Мілера). Дыфракцыйную карціну назіраюць на нерухомым крышталі з выкарыстаннем поліхраматычнага выпрамянення (Лаўэ метад), пры вярчэнні або ваганнях крышталя, а таксама на полікрышталях пры асвятленні монахраматычным выпрамяненнем (гл. Дэбая—Шэрэра метад). Д.р.п. выкарыстоўваецца для даследаванняў атамнай структуры рэчыва, рашэння задач матэрыялазнаўства, у рэнтгенаўскай спектраскапіі. Гл. таксама Рэнтгенаўскі структурны аналіз, Рэнтгенаграфія матэрыялаў.

Літ.:

Иверонова В.И., Ревкевич Г.П. Теория рассеяния рентгеновских лучей. 2 изд. М., 1978.

М.​М.​Аляхновіч.

т. 6, с. 302

ЛІНЕ́ЙНЫ ПАСКАРА́ЛЬНІК,

паскаральнік зараджаных часціц (электронаў, пазітронаў, пратонаў, іонаў), у якім траекторыі часціц блізкія да прамых ліній. Адрозніваюць Л.п. высакавольтныя (электрастатычныя), індукцыйныя, рэзанансныя і калектыўныя. Найб. пашыраны Л.п. электронаў з энергіяй 45 ГэВ. Л.п. электронаў і пазітронаў дазваляюць эфектыўна пераўтвараць пачатковую энергію пры сутыкненні 2 пучкоў у т. зв. калайдэры. Выкарыстоўваюцца для фіз. даследаванняў, у дэфектаскапіі, матэрыялазнаўстве, медыцыне, для іоннай імплантацыі, пры радыяцыйна-хім. апрацоўцы матэрыялаў, стэрылізацыі прадуктаў і інш.

У высакавольтных Л.п. часціцы паскараюцца пастаянным эл. полем паміж электродамі, крыніцай напружання служаць высакавольтныя выпрамнікі, Ван-дэ-Граафа генератары і інш.; у індукцыйных — эрс электрамагнітнай індукцыі, якая ствараецца кольцападобным імпульсным магн. полем; у рэзанансных — пераменным эл. ВЧ-полем; у калектыўных — уласнымі эл.-магн. палямі часціц, што ўзнікаюць пры ўзаемадзеянні адной групы зарадаў з другой або з эл.-магн. хваляй, з плазмай. Л.п. ў параўнанні з цыклічнымі адрозніваюцца магчымасцю атрымання пучкоў паскораных часціц павышанай інтэнсіўнасці і шчыльнасці, прастатой вываду пучка, адсутнасцю тармазнога выпрамянення часціц. Апошняе асабліва важна для паскарэння электронаў і пазітронаў да вельмі высокіх энергій. Таму паскаральнікі гэтых часціц для фіз. даследаванняў праектуюцца толькі лінейныя. У цыклічных паскаральніках цяжкіх часціц (пратонаў, іонаў) Л.п. выкарыстоўваюцца як інжэктары-перадпаскаральнікі.

І.​С.​Сацункевіч.

т. 9, с. 267

МАС-СПЕКТРАМЕ́ТРЫЯ, мас-спектраскапія, мас-спектральны аналіз,

фізічны метад даследавання рэчыва, заснаваны на вызначэнні масы часціц, што ўтвараюцца пры іанізацыі малекул. Пачатак развіццю М.-с. дадзены англ. фізікам Дж.​Дж.​Томсанам, які прапанаваў прынцып дзеяння мас-спектрометра і атрымаў першыя мас-спектры (1910).

Пры М.-с. даследуемае рэчыва пераводзяць награваннем ці інш. спосабам у лятучы стан для атрымання малекулярнага пучка, на які ўздзейнічаюць іанізавальным выпрамяненнем. У выніку ўзаемадзеяння нейтральных малекул з выпрамяненнем утвараецца пучок дадатна зараджаных часціц (іонаў) і нейтральных фрагментаў малекул рознай малекулярнай масы і атамнага саставу. Пры аднолькавых умовах выпрамянення колькасць дадатна зараджаных часціц рознага саставу, што ўтвараюцца пры іанізацыі, з’яўляецца велічынёй пастаяннай і залежыць толькі ад будовы малекул рэчыва. Раздзяленне сумарнага патоку часціц на патокі часціц з аднолькавай малекулярнай масай і вымярэнне токаў раздзеленых іонаў ажыццяўляюць з дапамогай мас-спектральных прылад. Найб. шырока М.-с. выкарыстоўваюць у арган. хіміі для ідэнтыфікацыі хім. злучэнняў (па мас-спектрах), вызначэння малекулярнай масы, элементнага і ізатопнага саставу рэчыва, якаснага і колькаснага аналізу складаных сумесей арган. злучэнняў.

Літ.:

Вульфсон Н.С., Заикин В.Г., Микая А.И. Масс-спектрометрия органических соединений. М., 1986;

Чепмен Д. Практическая органическая масс-спектрометрия: Пер. с англ. М., 1988.

В.​П.​Собач.

т. 10, с. 191

НЕЙТРОНАГРА́ФІЯ (ад нейтрон + ...графія),

сукупнасць метадаў даследавання рэчыва з дапамогай рассеяння нейтронаў нізкіх энергій (E < 1 эВ). Падзяляецца на структурную і магнітную. Выкарыстоўваецца ў фізіцы вадкасцей і цвёрдага цела, біял. макрамалекул.

Структурная Н. заснавана на тым, што даўжыня хвалі дэ Бройля павольных электронаў (~0,1 нм) сувымерная з міжатамнымі адлегласцямі ў кандэнсаваных асяроддзях і гэта дазваляе вывучаць ўзаемнае размяшчэнне атамаў. Метад яе грунтуецца на з’яве дыфракцыі нейтронаў (гл. Дыфракцыя часціц) і аналізе залежнасці інтэнсіўнасці рассеянага пучка нейтронаў ад даўжыні хвалі або вугла рассеяння (падобна метаду рэнтгенаструктурнага аналізу, адрозненне гэтых метадаў у тым, што нейтроны рассейваюцца ядрамі атамаў, а рэнтгенаўскія прамяні — атамнымі электронамі). Сячэнне рассеяння нейтронаў на ядрах атамаў, што ўваходзяць у крышталічную структуру, нерэгулярна залежыць ад ат. н. ядра-рассейвальніка, што дазваляе даследаваць структуру, у склад якой адначасова ўваходзяць лёгкія і цяжкія атамы (вадародзмяшчальныя злучэнні, вокіслы цяжкіх элементаў), а таксама вызначаць каардынаты атамаў у злучэннях, утвораных элементамі з блізкімі атамнымі нумарамі (напр., FeCo, Al-Mg — сплавы). Магнітная Н. даследуе лікавае значэнне, узаемную арыентацыю і размяшчэнне магн. момантаў атамаў, што выкарыстоўваецца для вызначэння магн. структуры магнітаўпарадкаваных рэчываў.

Літ.:

Изюмов Ю.А., Озеров Р.П. Магнитная нейтронография. М., 1966;

Александров Ю.А., Шарапов Э.И., Чер Л. Дифракционные методы в нейтронной физике. М., 1981.

Г.​І.​Макавецкі.

т. 11, с. 276

РАДЫЕХІРУРГІ́Я (ад радые... + хірургія),

метад лячэння злаякасных пухлін чалавека, заснаваны на выкарыстанні прамянёвай тэрапіі ў час аперацыі з выкарыстаннем дыстанцыйнага або ўнутрытканкавага апрамянення пухліны (ці яе ложа). Узнікла ў сувязі з абмежаванымі магчымасцямі выкарыстання дыстанцыйнага апрамянення глыбока размешчаных пухлін. У аперабельных выпадках пухліна выдаляецца, пасля чаго ў тканкі, якія складаюць ложа пухліны, а таксама па шляхах лімфаадтоку ўводзяць кобальт (​⁶⁰Co), каліфорній (​²⁵²Cf, ірыдый (​¹⁹²Ir), ёд (​¹²⁵I) і інш. Пры немагчымасці правядзення аперацыі забяспечваецца доступ да пухліны (хірург. шляхам), увядзенне ў яе гэтых прэпаратаў; праз некалькі дзён прэпараты дастаюць. Пры Р. ў час аперацыі таксама ўводзяць радыеактыўныя прэпараты з дапамогай мікраселектрона. Выкарыстоўваецца аднаразовае дыстанцыйнае апрамяненне (з дапамогай апаратаў блізкафокуснай рэнтгенатэрапіі). Прапанавана выкарыстанне высокаэнергет. электронаў, якія генерыруюцца лінейнымі або цыклічнымі паскаральнікамі. Метады Р. маюць рэальную магчымасць мінім. апрамянення нармальных тканак і макс. апрамянення пухлін і зон рэгіянарных метастазаў шляхам рэгулявання энергіі электроннага пучка і выкарыстання тубусаў або спец. фарміруючых блокаў, што зніжае частату мясц. рэцыдываў і пасляаперацыйных ускладненняў у анкалагічных хворых.

Літ.:

Козлова А.В. Лучевая терапия злокачественных опухолей. М. 1976;

Голдобенко Г.Г., Чехонадский В.Н., Ожерельев А.С. Интраоперационное облучение злокачественных опухолей // Мед. радиология. 1989. Т. 34, № 9;

Coquard R. et al. Intraoperative radiotherapy in resected pancreatic cancer: feasibility and results // Radiotherapy and oncology. 1997. Vol. 44.

Н.​А.​Арцёмава.

т. 13, с. 230

ЛІ́НЗА (ням. Linse ад лац. lens сачавіца),

празрыстае для светлавых прамянёў цела, якое абмежавана дзвюма пераламляльнымі паверхнямі (крывалінейнымі або крывалінейнай і плоскай) і мае вось або плоскасць сіметрыі. Найб. пашыраны Л. са сферычнымі паверхнямі. Яны прызначаны для пераўтварэння формы светлавога пучка і з’яўляюцца асн. элементам аптычных сістэм (напр., Аб’ектыў, Акуляр).

Адрозніваюць збіральныя і рассейвальныя Л. Збіральная пераўтварае пучок паралельных прамянёў у пучок, які сыходзіцца ў адным пункце F′ (гал. фокусе Л.). Такая Л. ўтварае сапраўдны відарыс аб’екта, калі ён знаходзіцца перад фокусам Л., і ўяўны — калі аб’ект размешчаны паміж фокусамі і Л. (гл. Лупа). Рассейвальная Л. пераўтварае пучок паралельных прамянёў у пучок, што разыходзіцца, і заўсёды ўтварае ўяўны відарыс аб’екта. Асн. характарыстыкі Л. — фокусная адлегласць і аптычная сіла, якія характарызуюць яе пераламляльную здольнасць. Калі таўшчыня Л. значна меншая за радыусы крывізны пераламляльных паверхняў, яна наз. тонкай. Аптычная сіла Д і фокусная адлегласць 𝑓​¹ тонкай Л. вызначаюцца формулай Д = ​¹/_𝑓​¹ = (n−1) (​¹/_r​¹−​¹/_r​²), дзе n — паказчык пераламлення матэрыялу Л., r₁ і r₂ — радыусы крывізны яе паверхняў; для выпуклай адносна аб’екта паверхні r>0, для ўвагнутай r<0. Адлегласці ад аптычнага цэнтра Л. да аб’екта (x) і яго відарыса (x′) звязаны паміж сабой формулай Л.: 1/x₁ − 1/x = 1/ƒ′ (адлегласці ад Л. ўздоўж ходу светлавога праменя лічацца дадатнымі, супраць ходу — адмоўнымі). Гл. таксама Аберацыі аптычных сістэм, Відарыс аптычны, Павелічэнне аптычнае.

А.​І.​Болсун.

т. 9, с. 268

ПРЫ́ЗМА АПТЫ́ЧНАЯ,

цела, абмежаванае плоскімі паверхнямі і празрыстае для аптычнага выпрамянення (святла) у пэўным інтэрвале частот (даўжынь хваль). Бывае дысперсійная (спектральная), адбівальная і палярызацыйная.

Дысперсійная П.а. прызначана для прасторавага раздзялення прамянёў з рознымі даўжынямі хваль. Яе дзеянне заснавана на залежнасці пераламлення паказчыка ад даўжыні хвалі святла (гл. Дысперсія святла). Адбівальная П.а. прызначана для змены напрамку светлавога пучка. Характэрная асаблівасць — святло ўнутры П.а. паслядоўна адбіваецца ад адной ці некалькіх яе граней і ў большасці выпадкаў гэта поўнае ўнутранае адбіццё. Выкарыстоўваецца ў аптычных сістэмах для змяншэння іх падоўжных памераў. Палярызацыйная П.а. служыць для атрымання плоскапалярызаванага святла (гл. Палярызацыя святла). Складаецца з 2 ці 3 трохгранных прызмаў, з якіх 1 (ці больш) зроблена з аптычна анізатропнага крышталю; складальныя склейваюць (канадскім бальзамам, гліцэрынай, рыцынай і інш.), часам яны раздзелены паветр. прамежкам. Святло падае на нахіленую мяжу падзелу двух асяроддзяў так, што ўмовы пераламлення для звычайнага і незвычайнага прамянёў (гл. Падвойнае праменепераламленне) розныя. У залежнасці ад асаблівасцей будовы П.а. могуць даваць 1 ці 2 выхадныя пучкі святла, палярызаваныя ва ўзаемна перпендыкулярных плоскасцях. Выкарыстоўваюцца як палярызатары і аналізатары.

В.​В.​Валяўка.

т. 13, с. 66

ПАСКАРА́ЛЬНІКІ ЗАРА́ДЖАНЫХ ЧАСЦІ́Ц,

устаноўкі для атрымання зараджаных часціц (электронаў, пратонаў, атамных ядраў, іонаў і інш.) высокіх энергій (больш за 1 МэВ) за кошт іх паскарэння ў эл. полі.

У 1919—32 развіццё П.з.ч. грунтавалася на атрыманні высокіх напружанняў і іх выкарыстанні для паскарэння зараджаных часціц. У 1931 створаны электрастатычны генератар (гл. Ван-дэ-Граафа генератар), у 1932 — каскадны генератар, што дазволіла атрымліваць патокі паскораных часціц з энергіяй да 10 МэВ. У 1931—44 распрацаваны рэзанансныя метады паскарэння часціц, пры якіх паскораныя часціцы шматразова праходзілі паскаральны прамежак і набіралі энергію пры адносна невял. паскаральным напружанні (гл. Цыклатрон). У 1940 пабудаваны цыклічны індукцыйны паскаральнік электронаў — бэтатрон. У 1950-я г. прапанаваны прынцыпы аўтафазіроўкі і моцнай факусіроўкі часціц, у выніку павялічыліся межы дасягальных энергій у цыклічных і лінейных П.З.Ч. Існуюць лінейны паскаральнік даўжынёй больш за 3 км, дзе электроны і пазітроны маюць энергію да 45 ГэВ (г. Станфард. ЗША); цыклічны паскаральнік з даўжынёй арбіты каля 27 км з энергіяй да 103 ГэВ (г. Жэнева, Швейцарыя); тэватрон паскарае пратоны і антыпратоны да энергіі 940 ГэВ (г. Батавія, ЗША). Развіццё паскаральнікаў звязана з павелічэннем энергій паскораных часціц, нарошчваннем іх інтэнсіўнасці (сілы току ў пучку) і працягласці імпульсу паскоранага пучка. Распрацоўваюцца новыя і ўдасканальваюцца метады паскарэння, дзе выкарыстоўваюцца звышправодныя матэрыялы ў магнітах і паскаральных сістэмах. аўтам. кіраванне, паскаральнікі 3 накапляльнымі кольцамі (гл. Паскаральнік з сустрэчнымі пучкамі) і інш. Выкарыстоўваюцца для навук. мэт (нараджэння новых часціц, атрымання штучных нуклідаў, вывучэння ядз. рэакцый, для доследаў у радыебіялогіі, хіміі, фізіцы цвёрдага цела і інш.), а таксама ў металургіі (для дэфектаскапіі), дрэваапр. прам-сці (для хуткай высакаякаснай апрацоўкі вырабаў), харч. прам-сці (для стэрылізацыі прадуктаў), медыцыне (для прамянёвай тэрапіі, «бяскроўнай хірургіі» і інш.). Гл. таксама Фазатрон, Сінхрафазатрон.

Літ.:

Комар Е.Г. Основы ускорительной техники. М., 1975;

Лебедев АН., Шальнов А.В. Основы физики и техники ускорителей. 2 изд. М., 1991.

І.​С.​Сацункевіч.

т. 12, с. 163