Verbum

О́ПТЫКА РАССЕ́ЙВАЛЬНЫХ АСЯРО́ДДЗЯЎ,

раздзел фіз. оптыкі, які вывучае распаўсюджванне светлавых хваль у дысперсных сістэмах, аснова метадаў вызначэння структуры рэчыва па характарыстыках рассеяння святла.

Праблемы распаўсюджвання выпрамянення ў рассейвальных асяроддзях праяўляюцца ў касм. маштабах Сусвету і на атамарным узроўні. Рассеянне святла ў дысперсных сістэмах (напр., у атмасферы, акіяне, біял. тканках) абумоўлена аптычнымі неаднастайнасцямі асяроддзя (яго камплексным паказчыкам пераламлення) і ўзнікае за кошт іншародных часцінак у асяроддзі (напр., у аэразолях, дымах, суспензіях, эмульсіях, на пабочных уключэннях крышталяў). У інш. выпадках асяроддзе не мае пабочных украпін, а змены паказчыка пераламлення вынікаюць з флуктуацый шчыльнасці рэчыва. Даследуюцца аб’екты з высокай канцэнтрацыяй цэнтраў рассейвання (напр., снег, біял. тканкі, дысперсійныя фільтры, фотаматэрыялы), якія адрозніваюцца частковай упарадкаванасцю часцінак і праяўленнем хвалевых уласцівасцей святла. На вывучэнні рассеяння святла на неаднастайнасцях у газах, вадкасцях і цвёрдых целах заснаваны метады нефеламетрыі і ультрамікраскапіі (гл. Ультрамікраскоп).

На Беларусі даследаванні па праблемах О.р.а. праводзяцца з сярэдзіны 1950-х г. у Ін-це фізікі, пазней у Ін-це прыкладной оптыкі Нац. АН (г. Магілёў). Створаны цвердацелыя дысперсійныя фільтры, распрацаваны спосабы мадэліравання пераносу святла ў мутных асяроддзях адвольнага паходжання. Створана прыкладная тэорыя пераносу, якая апісвае распаўсюджванне святла ў натуральных асяроддзях ад накіраваных, вузкіх, імпульсных, палярызаваных і інш. крыніц святла. Распрацаваны метады рашэння адваротных задач тэорыі рассеяння, метады вызначэння аптычных і мікраструктурных характарыстык асяроддзяў, у т. л. біял. аб’ектаў, люмінесцэнтных экранаў, фатагр. і вадкакрышталічных слаёў.

Літ.:

Иванов А.П. Оптика рассеивающих сред. Мн., 1969;

Пришивалко А.П., Бабенко В.А., Кузьмин В.Н. Рассеяние и поглощение света неоднородными и анизотропными сферическими частицами. Мн., 1984;

Зеге Э.П., Иванов А.П., Кацев И.Л. Перенос изображения в рассеивающей среде. Мн., 1985;

Иванов А.П., Лойко В.А., Дик В.П. Распространение света в плотноупакованных дисперсных средах. Мн., 1988.

А.​П.​Іваноў.

т. 11, с. 443

НЕПАКАЙЧЫ́ЦКІ (Анатоль Рыгоравіч) (н. 17.10.1927, г. Магілёў),

бел. фізік. Д-р фіз.-матэм. н. (1987). Скончыў Магілёўскі пед. ін-т (1957). З 1961 у Ін-це фізікі АН Беларусі. З 1965 у Магілёўскім маш.-буд. ін-це (з 1968 прарэктар), з 1970 у Ін-це прыкладной оптыкі Нац. АН Беларусі (заг. лабараторыі). Навук. працы па спектраскапіі і фізіцы плазмы, па даследаванні лакальных тэрмахім. і структурных пераўтварэнняў аксідаў металаў і іх кампазіцый пад уздзеяннем высокаканцэнтраваных патокаў энергіі.

Тв.:

О механизме поступления вещества в источниках света для спектрального анализа (разам з А.​А.​Янкоўскім) // Журн. прикладной спектроскопии. 1965. Т. 2, вып. 3;

Локальная кристаллизация титансодержащих стекол под действием лазерного излучения (у сааўт.) // Физика и химия стекла. 1991. Т. 17, № 2.

т. 11, с. 285

РАГАЎЦО́Ў (Мікалай Мікалаевіч) (н. 18.5.1947, в. Старая Каменка Жлобінскага р-на Гомельскай вобл.),

бел. вучоны ў галіне оптыкі і прыкладной матэм. фізікі. Д-р фіз.-матэм. н. (1995), праф. (2000). Скончыў БДУ (1970). З 1979 у БПА. Навук. працы па тэорыі пераносу выпрамянення, скарыстанні ўласцівасцей і прынцыпаў інварыянтнасці пры рашэнні задач матэм. фізікі. Сфармуляваў прынцып інварыянтнасці як абагульненне асн. аспектаў тэарэтыка-групавога падыходу, на аснове чаго атрымаў рашэнні мнагамерных задач тэорыі пераносу, бесканечных лінейных сістэм алг. і Дыферэнцыяльных ураўненняў і інш.

Тв.:

Восстановление внутреннего распределения поля излучения по его характеристикам на границах рассеивающей среды // Изв. АН СССР. Физика атмосферы и океана. 1980. Т. 16, №3;

Свойства и принципы инвариантности: Приложение к решению задач мат. физики. Ч. 1. Мн., 1999.

т. 13, с. 194

НЕЛІНЕ́ЙНАЯ СПЕКТРАСКАПІ́Я,

раздзел нелінейнай оптыкі, які вывучае залежнасць нелінейных аптычных з’яў ад частаты святла і змен характарыстык рэчыва. Выкарыстоўваецца для вымярэння аптычных уласцівасцей рэчыва і яго энергет. узроўняў, шырыні квантавых пераходаў і іх імавернасці, эфектыўнасці і рэлаксацыі розных працэсаў у рэчыве.

Метады Н.с. грунтуюцца на назіранні нелінейных аптычных з’яў (гл. Нелінейная оптыка) і вывучэнні іх залежнасці ад параметраў выпрамянення (частаты, палярызацыі, інтэнсіўнасці, напрамку распаўсюджвання і інш.) Дае магчымасць атрымліваць прынцыпова новую інфармацыю, таксама даныя, даступныя метадам звычайнай лінейнай спектраскапіі са значна большай дакладнасцю, адчувальнасцю і раздзяленнем. Гл. таксама Лазерная спектраскапія.

На Беларусі даследаванні па Н.с. пачаты ў 1956 у Ін-це фізікі Нац. АН пад кіраўніцгвам Б.І.Сцяпанава і праводзяцца ў розных ін-тах Нац. АН і ун-тах.

Літ.:

Проблемы современной оптики и спектроскопии. Мн., 1980.

П.​А.​Апанасевіч.

т. 11, с. 281

ГАНЧАРЭ́НКА (Андрэй Маркавіч) (н. 2.1.1933, в. Версанка Крупскага р-на Мінскай вобл.),

бел. фізік. Акад. АН Беларусі (1984, чл.-кар. 1972), д-р фізіка-матэм. н. (1972), праф. (1974). Засл. дз. нав. Беларусі (1978). Скончыў БДУ (1956). З 1959 у Ін-це фізікі, з 1970 нам. дырэктара ін-та і кіраўнік Магілёўскага аддз. Ін-та фізікі, у 1987—97 гал. вучоны сакратар Прэзідыума, адначасова з 1991 дырэктар Аддзела антычных аптычных праблем інфарматыкі АН Беларусі. Навук. працы ў галіне фіз. і інтэгральнай оптыкі, квантавай і аптычнай электронікі. Распрацаваў тэорыю дыэлектрычных хваляводаў і святлаводаў, тэорыю анізатропных рэзанатараў аптычных квантавых генератараў. Дзярж. прэмія Беларусі 1984.

Тв.:

Гауссовы пучки света. Мн., 1977;

Основы теории оптических волноводов. Мн., 1983 (разам з В.​А.​Карпенкам).

Літ.:

А.М. Ганчарэнка // Весці АН Беларусі. Сер. фіз.-матэм. навук 1993. № 1.

М.​У.​Токараў.

т. 5, с. 35

КВАЗІО́ПТЫКА (квазі... + оптыка),

раздзел радыёфізікі, які вывучае выпрамяненне і распаўсюджванне эл.-магн. хваль з даўжынёй хвалі λ 1—2 мм ва ўмовах, калі іх распаўсюджванне падпарадкоўваецца законам геаметрычнай оптыкі, але з улікам таксама і дыфракцыйных з’яў. К. распрацоўвае асімптатычныя метады для апісання дыфракцыі кароткіх хваль (гл. Дыфракцыя хваль) у сістэмах, памеры якіх істотна перавышаюць даўжыню хвалі.

Метады даследавання ўмоўна падзяляюцца на 2 групы. У першай зыходныя дакладныя ўраўненні заменьваюцца прыбліжанымі і шукаюцца рашэнні гэтых ураўненняў, у другой адразу ў агульным выглядзе выкарыстоўваюцца раскладанні рашэнняў па элементарных хвалях, пасля чаго ўжываюцца прыбліжаныя метады даследаванняў. К. пачала хутка развівацца ў 1950—60-я г. з асваеннем міліметровага і субміліметровага дыяпазонаў эл.-магн. хваль і са стварэннем аптычных квантавых генератараў, выпрамяненне якіх само стала аб’ектам вывучэння К. Асн. дасягненне К. — стварэнне адкрытых аптычных рэзанатараў і квазіаптычных ліній сувязі.

М.​А.​Гусак.

т. 8, с. 206

ПОЛІКАРБАНА́ТЫ,

сінтэтычныя палімеры, складаныя поліэфіры вугальнай к-ты і дыгідроксізлучэнняў. Маюць агульную ф-лу [—ORO—C(O)—]_n, дзе R — араматычны ці аліфатычны радыкал.

Найб. пашыраны араматычныя П. на аснове дыфенілолпрапану (бісфенолу А), найважн. з іх П., які атрымліваюць полікандэнсацыяй бісфенолу А з фасгенам [—OC₆H₄C(CH₃)₂C₆H₄OC(O)—]_n. Цвёрдае аморфнае бясколернае рэчыва, мал. м. (2—12)∙10​⁴, шчыльн. 1200 кг/м³, t_пл 220—230 °C, раскладаецца пры t > 320 ​^oC. Тэрмапласт. Раствараецца ў метыленхларыдзе, хлараформе і інш. арган. растваральніках. Характарызуецца высокімі трываласцю і цвёрдасцю, добрымі электраізаляцыйнымі ўласцівасцямі. Аптычна празрысты, атмасфера- і марозаўстойлівы (т-ра эксплуатацыі ад -100 да 135 °C), цяжкагаручы матэрыял. Выкарыстоўваюць П. як канстр. матэрыялы ў аўтамабілебудаванні, электроннай і электратэхн. прам-сці, як высокачастотныя дыэлектрыкі ў радыёэлектроніцы, у вытв-сці фільтраў для крыві, касцявых пратэзаў, абалонак для лек. сродкаў пралангаванага дзеяння, вочных лінзаў, лінзаў для оптыкі, асвятляльнай арматуры і інш.

М.​Р.​Пракапчук.

т. 12, с. 474

АПТЫ́ЧНАЯ ПРЫЛА́ДА вымяральная,

прылада, прынцып дзеяння якой заснаваны на выкарыстанні эл.-магн. хваляў аптычнага дыяпазону. З дапамогай аптычнай прылады вымяраюць лінейныя і вуглавыя памеры, некаторыя фіз. велічыні, параўноўваюць форму вырабу ці стан апрацаваных паверхняў з эталонам. Адрозніваюць рабочыя (для практычных вымярэнняў) і ўзорныя, па якіх вывяраюць рабочыя аптычныя прылады.

Асноўная частка аптычнай прылады — аптычная сістэма з лінзаў, люстэркаў, прызмаў і інш., прызначаных для ўтварэння відарысаў прадметаў на сятчатцы вока, экране і інш. або перадачы светлавой энергіі. Для іх разліку карыстаюцца формуламі геам. оптыкі. Канструкцыя прылады абумоўлена метадам вымярэнняў. Паводле прынцыпу дзеяння аптычнай прылады бываюць з аптычным візіраваннем і мех. (электронным або інш. неаптычным) адлікам перамяшчэння пунктаў кантакту з аб’ектам вымярэння (праектары, інстр. мікраскопы, праекцыйныя насадкі), аптычным візіраваннем і аптычным адлікам перамяшчэння (вымяральныя мікраскопы, інтэрферэнцыйныя кампаратары), з мех. кантактам з аб’ектам вымярэння і аптычным адлікам перамяшчэння (аптыметры, кантактныя інтэрферометры, аптычныя даўжынямеры). Выкарыстоўваюцца ў машына- і прыладабудаванні, геадэзіі і інш.

т. 1, с. 438

АДБІЦЦЁ СВЯТЛА́,

частковае ці поўнае вяртанне ў першае асяроддзе светлавога патоку, які падае на мяжу двух асяроддзяў з рознымі паказчыкамі пераламлення. Адбівальная здольнасць цела залежыць ад аптычных уласцівасцяў сумежных рэчываў, даўж. хвалі λ святла, якое падае, і якасці адбівальнай паверхні.

Калі няроўнасці паверхні падзелу меншыя за λ, наглядаецца люстраное адбіццё святла. Пры гэтым выконваюцца 2 законы адбіцця святла: адбіты прамень S′ ляжыць у адной плоскасці з праменем S, што падае, і перпендыкулярам ON да адбівальнай паверхні ў пункце падзення; вугал адбіцця Z′ роўны вуглу падзення α (рыс. 1). Калі няроўнасці адбівальнай паверхні большыя за λ, святло адбіваецца па ўсіх напрамках у межах паўсферы — дыфузнае адбіццё (рыс. 2). У 1954 Ф.І.Фёдаравым адкрыта з’ява перпендыкулярнага да плоскасці падзення зруху адбітага пучка святла (гл. Фёдарава зрух). Асобны выпадак адбіцця святла — поўнае ўнутранае адбіццё. Памяншэнне адбіцця святла дасягаецца прасвятленнем оптыкі; для павелічэння адбіцця на люстраныя паверхні наносяць метал. дыэлектрычныя пакрыцці. Гл. таксама Пераламленне святла.

т. 1, с. 97

ГЮ́ЙГЕНСА—ФРЭНЕ́ЛЯ ПРЫ́НЦЫП,

асноўны прынцып хвалевай оптыкі, які дае магчымасць вызначаць амплітуду (інтэнсіўнасць) хвалі ў кожным пункце, калі вядомыя яе амплітуда і фаза на якой-н. адвольнай паверхні. Першапачаткова сфармуляваны К.Гюйгенсам (1690), развіты з улікам інтэрферэнцыі А.Ж.Фрэнелем (1818), строгую матэм. фармулёўку Гюйгенса—Фрэнеля прынцыпу даў Г.Р.Кірхгоф (1882).

Паводле Гюйгенса—Фрэнеля прынцыпу кожны пункт хвалевай паверхні (фронту хвалі), якой у дадзены момант дасягнула светлавая хваля, з’яўляецца цэнтрам другасных (фіктыўных) кагерэнтных хваль, агінальная якіх у кожны наступны момант часу вызначае новую хвалевую паверхню. Інтэнсіўнасць святла ў пункце назірання вызначаецца вынікам інтэрферэнцыі другасных хваль. Пры гэтым амплітуда другасных хваль залежыць ад вугла паміж нармаллю да хвалевай паверхні ў цэнтры другаснай хвалі і напрамкам на пункт назірання. Гюйгенса—Фрэнеля прынцып выкарыстоўваецца пры рашэнні дыфракцыйных задач. Гл. таксама Дыфракцыя святла, Інтэрферэнцыя святла.

А.​І.​Болсун.

т. 5, с. 554