дэфект крышталя, калі ў вузле крышталічнай рашоткі адсутнічае атам. Узнікае ў выніку цеплавых ваганняў атамаў, пры радыяцыйным апрамяненні, пластычнай дэфармацыі. Вакансіі абменьваюцца месцамі з суседнімі атамамі і хаатычна рухаюцца па крышталі. Рух вакансій — асн. прычына самадыфузіі (перамешвання атамаў у крышталях) і гетэрадыфузіі (узаемнай дыфузіі крышталёў, якія кантактуюць). Вакансіі могуць аб’ядноўвацца і ўтвараць складаныя дэфекты (ды- і трывакансіі, кластэры), а таксама спалучацца з дамешкамі і ўтвараць комплексы вакансій-дамешак. Наяўнасць вакансій істотна ўплывае на ўласцівасці крышталёў і фіз. працэсы (шчыльнасць, іонную праводнасць, унутр. трэнне, тэрмаапрацоўку, рэкрышталізацыю і інш.).
Літ.:
Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. М., 1981.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
КВАЗІЧАСЦІ́ЦЫ,
элементарныя ўзбуджэнні, з дапамогай якіх у статыстычнай фізіцы апісваюць станы вадкасцей і цвёрдых цел. Напр., кванты гукавых ваганняў крышталічнай рашоткі (фаноны), кванты спінавых хваль у ферамагнетыках (магноны). Маюць цэлы або паўцэлы спін. Паводзіны К. вызначаюцца законамі квантавай механікі.
Паняцце «К.» ўзнікае ў сувязі з квантава-мех. апісаннем калектыўнага руху атамаў у рэчыве (іх нельга атаясамліваць з рэальнымі часціцамі). Паводле карпускулярна-хвалевага дуалізму элементарныя ўзбуджэнні можна апісваць як К., якія рухаюцца ў целе і маюць пэўныя энергіі, імпульсы і спіны. Пры нізкіх т-рах узбуджаныя станы цела апісваюцца невялікім лікам устойлівых К., якія слаба ўзаемадзейнічаюць паміж сабой і іх сукупнасць можа разглядацца як ідэальны газ.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ГІПЕРГУ́К,
пругкія хвалі з частатой 109—1013Гц. Па фізічнай прыродзе не адрозніваецца ад ультрагуку (2∙104—109Гц). Існуе гіпергук прыродны (цеплавыя ваганні крышталічнай рашоткі) і штучны (генерыруецца пры дапамозе спец. выпрамяняльнікаў; гл.П’езаэлектрычнасць, Магнітастрыкцыя).
Пругкія хвалі распаўсюджваюцца ў асяроддзі, калі іх даўжыні большыя за даўжыню свабоднага прабегу малекул у газах ці міжатамных адлегласцей у вадкіх і цвёрдых целах. Таму ў газах, у т. л. ў паветры, пры нармальных умовах гіпергук не распаўсюджваецца, у вадкасцях хутка затухае; параўнальна добрыя праваднікі гіпергуку — монакрышталі пры нізкіх т-рах. Гіпергук выкарыстоўваюць для даследавання стану рэчыва, асабліва ў фізіцы цвёрдага цела, для стварэння акустычных ліній затрымкі ў ЗВЧ дыяпазоне і інш. прылад акустаэлектронікі і акустаоптыкі.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
КРЫШТАЛЯФІ́ЗІКА,
раздзел фізікі, у якім вывучаюцца фіз. ўласцівасці крышталёў у сувязі з іх атамным (хімічным) саставам і будовай крышталічнай рашоткі. Для крышталёў характэрна анізатрапія, іх анізатропныя ўласцівасці характарызуюцца сукупнасцю некалькіх незалежных велічынь і апісваюцца тэнзарамі.
Кожны крышталь у адносінах да адных уласцівасцей можа. быць анізатропным, да другіх — ізатропным. Наяўнасць залежнасці якой-н. уласцівасці ад напрамку ў крышталі і колькасць незалежных велічынь, якімі гэтая ўласцівасць апісваецца, вызначаюцца прыродай самой уласцівасці і сіметрыяй крышталя. Некаторыя фіз. ўласцівасці крышталёў не могуць залежаць ад напрамку, напр., цеплаёмістасць, шчыльнасць. Гл. таксама Крышталяграфія, Крышталяоптыка.
Літ.:
Най Дж. Физические свойства кристаллов и их описание при помощи тензоров и матриц: Пер. с англ. 2 изд. М., 1967;
Сиротин Ю.И. Шаскольская М.П. Основы кристаллофизики. 2 им, М., 1979;
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
МАГНІ́ТНАЯ СТРУКТУ́РА,
размеркаванне самаадвольнай намагнічанасці ўнутры ферамагнетыкаў пры т-рах, ніжэйшых за Кюры пункт Адрозніваюць М.с. атамную (характарызуецца упарадкаваным размеркаваннем атамных магнітных момантаў па вузлах крышталічнай рашоткі) і даменную (размеркаваннем даменаў з рознай арыентацыяй магн. момантаў па аб’ёме ўзору).
Атамная М.с. апісваецца сярэднім значэннем мікраскапічнай шчыльнасці магн моманту M(x, y, z) у кожным пункце крышталя. Крышталі з M(x, y, z) = 0 не маюць атамнай М.с. (дыямагнетыкі і парамагнетыкі). Крышталі з M(x, y, z) ≠ 0 бываюць з адрозным ад нуля (ферамагнетыкі) і роўным нулю (антыферамагнетыкі) сумарным магн. момантам элементарнай ячэйкі. Даменная М.с. можа назірацца эксперыментальна з дапамогай магн. парашку, які асядае на межах даменаў. У ферамагнетыках пры зададзенай т-ры форма даменаў, іх памеры і арыентацыя магн. момантаў залежаць ад памераў і формы ўзору, арыентацыі паверхні крышталя, дэфектаў крышталічнай рашоткі, унутр. напружанняў, а ў полікрышталічных узорах — і ад віду магн структуры суседніх крышталёў. Пад уплывам знешніх уздзеянняў (пруткіх напружанняў, знешніх магн. палёў, змен т-ры) адбываецца перабудова даменнай структуры. На сувязі паміж асн.магн. характарыстыкамі ферамагн. матэрыялу і яго структурай заснаваны магнітаструктурны аналіз, які найчасцей выкарыстоўваюць для вызначэння мех. уласцівасцей сталі і чыгуну пасля тэрмічнай апрацоўкі. На аснове залежнасці магн. характарыстык пэўнай маркі сталі ад т-ры загартоўкі, адпалу і да т.п., робяць неразбуральны кантроль якасці тэрмічнай апрацоўкі вырабаў. Найб. пашыраны магн. метады (з выкарыстаннем пастаянных магн. палёў для намагнічвання вырабаў), эл.-магн. (з выкарыстаннем пераменных эл.-магн. палёў), імпульсныя (імпульсных магн. палёў). Даследуецца таксама тэкстура металаў (на аснове выкарыстання сувязі тэкстуры з анізатрапіяй магн. уласцівасцей), спосабы кантролю ферамагн. складальнай у аўстэнітных сталях, каляровых металах і горных пародах.
На Беларусі праблемы М.с. і магнітаструктурнага аналізу даследуюцца ў Ін-це прыкладной фізікі Нац.АН.
Літ.:
Вонсовский С.В. Магнетизм. М., 1971;
Ивановский В.И., Черникова Л.А. Физика магнитных явлений. М., 1981;
Михеев М.Н., Горкунов Э.С. Магнитные методы структурного анализа и неразрушающего контроля. М., 1993: Мельгуй М.А. Магнитный контроль механических свойств сталей. Мн., 1980.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
КРЫШТАЛІ́ЧНАЯ РАШО́ТКА рэгулярнае размяшчэнне часціц (атамаў, іонаў, малекул) у крышталях, якое характарызуецца перыядычнай паўтаральнасцю ў трох вымярэннях. Для апісання К.р. дастаткова ведаць размяшчэнне часціц у элементарнай ячэйцы, паўтарэннем якой шляхам паралельных пераносаў (трансляцый) утвараецца ўся структура крышталя.
У адпаведнасці з сіметрыяй крышталя элементарная ячэйка мае форму паралелепіпеда ці прызмы; памеры рэбраў наз. пастаяннымі або перыядамі К.р. ці (у вектарнай форме) вектарамі трансляцый. Матэм. схемай К.р. з’яўляецца прасторавая рашотка (Бравэ рашоткі). Існаваннем К.р. тлумачыцца анізатрапія ўласцівасцей крышталёў, плоская форма іх граней, пастаянства вуглоў і інш. законы крышталяграфіі. Памеры ячэек і размяшчэнне ў іх часціц вызначаюць пры дапамозе дыфрактаметрычных метадаў аналізу (рэнтгенаграфія, нейтронаграфія, электронаграфія). Структура рэальнага крышталя адрозніваецца ад ідэалізаванай схемы, якая апісваецца паняццем К.р.: у рэальных крышталях маюць месца ваганні крышталічнай рашоткі, дэфекты ў крышталях. Гл. таксама Сіметрыя крышталёў, Крышталяхімія.
Р.М.Шахлевіч.
Крышталічныя рашоткі: 1 — кухоннай солі NaCl; 2 — сфалерыту ZnS; 3 — алмазу C; 4 — графіту C.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
МАГНІТАСТРЫ́КЦЫЯ (ад магніт + лац. strictio сцісканне, нацягванне),
змена памераў і формы цела пры намагнічванні. Выяўлена для жалеза Дж.П.Джоўлем у 1842. Адлюстроўвае ўзаемасувязь падсістэм атамных магнітных момантаў і крышталічнай рашоткі; уласціва ўсім рэчывам.
Тлумачыцца тым, што ўзаемадзеянні, якія вызначаюць магн. стан крышталя, залежаць ад адлегласці паміж атамамі (ці іонамі). Змены магн. стану пры зменах магн. поля, т-ры, пругкіх напружанняў і інш. вядуць да зрушэння атамаў і іонаў ад стану раўнавагі і тым самым да дэфармацыі цела. Характарызуецца адноснай зменай лінейных памераў цела λ = Δl/l (лінейная М.) або аб’ёму (аб’ёмная М.) і залежыць ад напрамку вымярэння адносна знешняга магн. поля. Пры вымярэннях уздоўж поля М. наз. падоўжнай, перпендыкулярна полю — папярочнай, напр., у фера- і ферымагнетыках λ дасягае 10−2, у антыфера-, пара- і дыямагнетыках — да 10−6. Гл. таксама Магнітастрыкцыйныя матэрыялы.
Літ.:
Белов К.П. Магнитострикционные явления и их технические приложения. М., 1987.
рассеянне святла рэчывам, якое суправаджаецца зменай частаты зыходнага святла на частату ваганняў малекул асяроддзя ці крышталічнай рашоткі. Бывае спантаннае, вымушанае і кагерэнтнае. Выкарыстоўваецца для вывучэння структуры і ўласцівасцей рэчыва і для пераўтварэння частаты святла.
Адкрыта ў 1928 сав. вучонымі Г.С.Ландсбергам і Л.І.Мандэльштамам на крышталях і незалежна інд. фізікамі Ч.Раманам і К.С.Крышнанам на вадкасцях. Назіраецца ў выглядае спектральных ліній, зрушаных адносна ліній рэлееўскага рассеяння святла ў бок меншых частот (стоксавы кампаненты) ці большых частот (антыстоксавы кампаненты). Спантаннае К.р.с. адбываецца пры апраменьванні ад магутных нялазерных крыніц святла (напр., ртутных лямпаў), вымушанае і кагерэнтнае — ад магутных лазерных крыніц. Яно можа выклікаць перапампоўку да 90% энергіі першаснага пучка ў стоксавыя і антыстоксавыя кампаненты.
На Беларусі работы па вывучэнні і выкарыстанні К.р.с. вядуцца ў Ін-це фізікі, Ін-це малекулярнай і атамнай фізікі Нац.АН, БДУ і НДІ прыкладных фіз. праблем імя А.Н.Сеўчанкі.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ПАЗІТРО́Н [ад лац. positivus дадатны + (элек)трон],
дадатна зараджаная элементарная часціца; антычасціца электрона. Абазначаецца е+ або е− Мае аднолькавыя з электронам масу і спін, а магн. момант і эл. зарад роўныя па модулі і процілеглыя па знаку. П. мае спін, роўны 1/2 (ферміён), адносіцца да лептонаў, удзельнічае ў эл.-магн., слабым і гравітацыйным узаемадзеяннях.
Існаванне П. тэарэтычна вынікае з Дзірака ўраўнення, эксперыментальна адкрыты К.Д.Андэрсанам (1932) у складзе касм. прамянёў і стаў першым прыкладам антычасціц. Пры пэўных умовах утварае з электронам вадародападобную сістэму (гл.Пазітроній). Узнікае пры ўзаемапераўтварэннях свабодных элементарных часціц, напр., пры распадах мюонаў, а таксама пры бэта-распадзе некаторых ізатопаў. Прадказаныя Дзіракам і эксперыментальна назіраныя працэсы анігіляцыі і нараджэння пар (П. — электрон) былі першымі доказамі ўзаемапераўтварэнняў элементарных часціц, на аснове якіх распрацаваны метады нараджэння новых элементарных часціц у накапляльных кольцах паскаральнікаў. П. выкарыстоўваецца пры даследаваннях размеркавання скарасцей электронаў праводнасці, дэфектаў крышталічнай рашоткі, кінетыкі некаторых хім. рэакцый і інш.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ДЫЛАТО́МЕТР,
прылада, якая вымярае змены памераў цела, выкліканыя ўздзеяннем знешніх умоў (гл.Дылатаметрыя). Бывае оптыка-мех., ёмістасны, індукцыйны, інтэрферэнцыйны, рэнтгенаўскі, радыёрэзанансны і інш.Найб. важная характарыстыка — адчувальнасць да абс. змен памераў цела.
У оптыка-механічных Д. (адчувальнасць да 10−7см) змены памераў даследаванага ўзору выклікаюць адпаведныя зрушэнні светлавога паказальніка; у ёмістасных Д. (адчувальнасць да 10−9см) — змены ёмістасці калібраванага кандэнсатара; у індукцыйных Д. (адчувальнасць да 10−9см) пры зменах памераў узору змяняецца ўзаемаіндуктыўнасць двух шпуль індуктыўнасці; у інтэрферэнцыйных Д. (адчувальнасць да 10−8см) даследаваны ўзор размяшчаюць паміж аптычнымі пласцінамі і атрымліваюць інтэрферэнцыйную карціну пры асвятленні іх монахраматычным святлом (змены памераў выклікаюць зрушэнне інтэрферэнцыйных палос); у рэнтгенаўскіх Д. (адчувальнасць да 10−6см) вымяраюць змену параметраў крышталічнай рашоткі цела на рэнтгенаграмах; у радыёрэзанансных Д. (адчувальнасць да 10 12см) выяўляюцца змены рэзананснай частаты аб’ёмнага рэзанатара, сценкі якога выраблены з даследаванага матэрыялу.
Дылатометры: а — вадкасны (1 — рэзервуар; 2 — калібраваны капіляр); б — кварцавы (1 — штурхач; 2 — трымальнік; 3 — узор; 4 — награвальнік або халадзільнік).
