Verbum

ЛА́ЎЭ ((Laue) Макс Фелікс Тэадор фон) (9.10.1879, г. Кобленц, Германія — 24.4.1960),

нямецкі фізік. Член Берлінскай АН (1921), замежны чл. АН СССР (1930). Скончыў Берлінскі ун-т (1903). Праф. Цюрыхскага (1912—14), Франкфурцкага (1914—19), Берлінскага (1919—43) і Гётынгенскага (з 1946) ун-таў, у 1951—59 дырэктар Ін-та фіз. хіміі і электрахіміі (Берлін). Навук. працы па оптыцы, крышталяфізіцы, тэорыі адноснасці, квантавай і атамнай фізіцы, гісторыі фізікі. У 1912 распрацаваў тэорыю дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў на крышталях і прапанаваў метад даследавання іх структуры (гл. Лаўэ метад), што дало пачатак рэнтгенаструктурнаму аналізу. Нобелеўская прэмія 1914.

Тв.:

Рус. пер. — История физики. М., 1956;

Статьи и речи. М., 1969.

Літ.:

Льоцци М. История физики: Пер. с итал. М., 1970.

А.​І.​Болсун.

т. 9, с. 163

ЛА́ЎЭ МЕ́ТАД,

метад даследавання монакрышталёў з дапамогай дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў. Выкарыстоўваецца для вызначэння прасторавай арыентацыі і рэальнай структуры монакрышталёў, іх пунктавай групы сіметрыі, змен крышталічнай структуры пад уздзеяннем т-ры, ціску, апрамянення і інш.

У Л.м. тонкі пучок рэнтгенаўскіх прамянёў неперарыўнага спектра падае на нерухомы монакрышталь. Рассеянае выпрамяненне ў напрамках, вызначаных паводле Брэга—Вульфа ўмоў, рэгіструецца на фотаплёнцы, размешчанай за крышталём, перпендыкулярна праменю; атрыманы відарыс наз. лаўэграмай (у выпадку вял. крышталёў плёнка размяшчаецца перад імі і лаўэграма наз. эпіграмай). Гл. таксама Рэнтгенаўскі структурны аналіз.

М.​М.​Аляхновіч.

т. 9, с. 163

ДЫФРА́КЦЫЯ РЭНТГЕ́НАЎСКІХ ПРАМЯНЁЎ,

з’ява, што выяўляецца пры пругкім рассеянні рэнтгенаўскіх прамянёў крышталямі (або малекуламі вадкасцей і газаў), пры якім з першаснага пучка прамянёў узнікаюць другасныя адхіленыя пучкі той жа даўжыні хвалі.

Д.р.п. эксперыментальна выяўлена ням. фізікамі М.​Лаўэ, В.​Фрыдрыхам і П.​Кніпінгам (1912) як доказ хвалевай прыроды рэнтгенаўскіх прамянёў. Крышталь з’яўляецца натуральнай трохмернай дыфракцыйнай рашоткай (адлегласці паміж атамамі аднаго парадку з даўжынёй хвалі λ); напрамак дыфракцыйных максімумаў у агульным выпадку падпарадкоўваецца ўмовам Лаўэ: a(cosα − cosα₀) = hλ, b(cosβ − cosβ₀) = kλ, c(cosγ − cosγ₀) = lλ, дзе a, b, c — памеры крышт. рашоткі, α₀, β₀, γ₀ — вуглы, што ўтварае падаючы прамень, α, β, γ — рассеяны прамень з восямі крышталя, h, k, l — цэлыя лікі (індэксы Мілера). Дыфракцыйную карціну назіраюць на нерухомым крышталі з выкарыстаннем поліхраматычнага выпрамянення (Лаўэ метад), пры вярчэнні або ваганнях крышталя, а таксама на полікрышталях пры асвятленні монахраматычным выпрамяненнем (гл. Дэбая—Шэрэра метад). Д.р.п. выкарыстоўваецца для даследаванняў атамнай структуры рэчыва, рашэння задач матэрыялазнаўства, у рэнтгенаўскай спектраскапіі. Гл. таксама Рэнтгенаўскі структурны аналіз, Рэнтгенаграфія матэрыялаў.

Літ.:

Иверонова В.И., Ревкевич Г.П. Теория рассеяния рентгеновских лучей. 2 изд. М., 1978.

М.​М.​Аляхновіч.

т. 6, с. 302

МЁСБА́ЎЭР ((Mōssbauer) Рудольф Людвіг) (н. 31.1.1929, г. Мюнхен, Германія),

нямецкі фізік-эксперыментатар. Чл. Баварскай АН (1967), замежны чл. Нац. АН ЗША (1978), Рас. АН (1982) і інш.

Скончыў Мюнхенскі тэхн. ун-т (1955), у 1964—72 і з 1977 праф. гэтага ун-та. У 1960—64 у Каліфарнійскім тэхнал. ін-це (з 1961 праф.). У 1972—77 дырэктар Ін-та Лаўэ—Ланжэвэна ў г. Грэнобль (Францыя). Навук. працы па гама-спектраскапіі, фізіцы цвёрдага цела, ядз. і нейтрыннай фізіцы. У 1958 адкрыў з’яву ядз. гама-рэзанансу (гл. Мёсбаўэра эфект). Залаты медаль імя Ламаносава АН СССР (1985). Нобелеўская прэмія 1961 (разам з Р.Хофстэдтэрам).

Тв.:

Рус. пер. — Эффект RK и его значение для точных измерений // Наука и человечество. М., 1962;

Резонансная спектроскопия гамма-излучения: Лекция. М., 1970.

М.​М.​Касцюковіч.

т. 10, с. 329

КРЫШТАЛЯГРА́ФІЯ (ад крышталі + ...графія),

навука пра крышталі і крышт. стан матэрыі. Вывучае вонкавую форму, унутр. будову, фіз. ўласцівасці, рост, разбурэнне, сувязь паміж будовай і хім. саставам крышталёў. Даследуе прыродныя і сінт. крышталі. Падзяляецца на крышталяфізіку, крышталяхімію, геам. К. і крышталегенезіс. Геаметрычная К. вывучае вонкавую і ўнутр. сіметрыю крышталёў, формы крышт. мнагаграннікаў; крышталегенезіс — вывучэнне працэсаў зараджэння і росту крышталёў, іх фазавых пераходаў, структурных дэфектаў, зросткаў і інш. Звязана з мінералогіяй, петраграфіяй, геахіміяй і інш.

Зарадзілася ў старажытнасці. Як самаст. навука развіваецца з 2-й пал. 17 ст., з адкрыццём законаў пастаянства вуглоў у крышталях (Н.​Стэна, 1669), падвойнага праменепраламлення (Э.​Барталін, 1669), пастаянства пунктаў плаўлення крышт. рэчываў (Р.​Гук, 1668), з’явы аднароднасці і анізатропнасці крышталёў. Першы дапаможнік па К. апублікаваны Н.​Рамэ дэ Лілем (1772). У 2-й пал. 18 ст. М.​В.​Ламаносаў, Р.Ж.Гаюі (1784) і інш. выказалі меркаванне пра рашэцістую будову крышталёў. У 18—19 ст. Гаюі, А.​В.​Гадалін, Г.​В.​Вульф і інш. распрацавалі вучэнне пра сіметрыю крышталёў, яе развіў Я.С.Фёдараў (1890). У 19—20 ст. пачалося аптычнае вывучэнне шліфаў горных парод. Адкрыццё з’явы дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў (ням. фізік М.​Лаўэ, 1912) і распрацоўка метадаў рэнтгенаструктурнага аналізу (англ. фізікі У.Г. і У.Л.Брэг, 1913) дазволілі расшыфраваць крышт. структуру матэрыі. Уклад у К. зрабілі сав. вучоныя М.В.Бялоў, А.В.Шубнікаў, І.​В.​Абраімаў. Г.​Б.​Бокій, А.​І.​Кітайгародскі, І.​І.​Шафраноўскі і інш.

Прыкладное значэнне К. — распрацоўка метадаў штучнага вырошчвання крышталёў з папярэдне зададзенымі якасцямі, стварэнне новых сінт. матэрыялаў. Развіваецца вытв-сць сінт. крышталёў (кварцу, алмазу, германію, крэмнію і інш.).

Літ.:

Уиттекер Э. Кристаллография: Пер. с англ. М., 1983;

Егоров-Тисменко Ю.К., Литвинская Г.П., Загальская Ю.Г. Кристаллография. М., 1992.

С.​А.​Ціханаў.

т. 8, с. 529