ГРАВІМЕ́ТРЫЯ (ад лац. gravis цяжкі + ...метрыя),

галіна геафізікі, якая вывучае гравітацыйнае поле Зямлі. Паскарэнне свабоднага падзення і яго змяненні вымяраюць абс. і адноснымі метадамі з дапамогай гравіметраў, маятнікавых прылад, гравітацыйных варыёметраў, градыентаметраў, а таксама назіранняў за ШСЗ. Гравіметрычныя даныя выкарыстоўваюцца ў астраноміі, метралогіі, геадэзіі, геалогіі, касманаўтыцы і інш.

Паскарэнне свабоднага падзення вызначыў Г.Галілей (каля 1590). У 1673 Х.Гюйгенс выявіў залежнасць паміж паскарэннем свабоднага падзення і перыядам ваганняў маятніка. Тэарэт. асновы гравіметрыі заклаў І.Ньютан. Работамі А.К.Клеро, Дж.Стокса і інш. створана сучасная гравіметрыя. За аснову сусв. гравіметрычнай сістэмы прынята значэнне паскарэння свабоднага падзення для г. Патсдам (ФРГ) g = 9,81274 м/с2 = 981,274 Гал, атрыманае ў 1898—1904 (у 1971 15-я ген. асамблея Міжнароднага геад. і геагр. саюза зацвердзіла папраўку: -14∙10​−5 м/с2). У СССР сістэматычныя гравіметрычныя вымярэнні пачаліся ў 1932; у 1950—56 створана сетка гравіметрычных пунктаў высокай дакладнасці: геафіз. абсерваторыі «Пулкава», «Казань», «Масква», «Палтава»; на Беларусі «Плешчаніцы» і «Нарач» (абс. вымярэнні з 1997).

Літ.:

Грушинский Н.П. Основы гравиметрии. М., 1983.

Г.​І.​Каратаеў.

т. 5, с. 382

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ДВАЙНІКАВА́ННЕ,

утварэнне ў монакрышталі абласцей з заканамерна змененай арыентацыяй крышт. структуры. Структуры двайніковых утварэнняў з’яўляюцца люстраным адбіткам атамнай структуры зыходнага крышталя (матрыцы) у пэўнай плоскасці (плоскасці Д.) ці ўтвараюцца паваротам структуры матрыцы вакол крышталеграфічнай восі (восі Д.) на пастаянны для дадзенага рэчыва вугал або іншым пераўтварэннем сіметрыі крышталёў. Матрыца з двайніковым утварэннем наз. двайніком.

У залежнасці ад колькасці зрошчаных двайніковых утварэнняў структуры наз. трайнікамі, чацвернікамі ці наогул полісінт. двайнікамі. Д. можа адбывацца пры крышталізацыі, мех. дэфармацыі, зрастанні суседніх зародкаў (двайнікі росту), хуткім цеплавым расшырэнні ці сцісканні, награванні дэфармаваных крышталёў (двайнікі рэкрышталізацыі), пры пераходзе ад адной крышт мадыфікацыі да другой. Напр., у крышталях сегнетавай солі двайнікі ўтвараюцца пры пераходзе крышталя ад рамбічнай структуры да монакліннай (пры т-ры Кюры). Д. ўплывае на мех. (трываласць, пластычнасць, крохкасць), м., магн., аптычныя ўласцівасці крышталёў, пагаршае якасць паўправадніковых прылад. Заканамернасці Д. выкарыстоўваюцца для дыягностыкі мінералаў, устанаўлення паходжання і ацэнкі некат. мінералаў як прамысл. сыравіны.

Літ.:

Современная кристаллография. Т. 2. М., 1979;

Т. 4. М., 1981.

Р.​М.​Шахлевіч.

Да арт. Двайнікаванне. Двайнікі росту: а — пірыт; б — кальцыт; в — полісінтэтычны двайнік альбіту.

т. 6, с. 73

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ДЭТЭКТЫ́РАВАННЕ,

пераўтварэнне электрычных (або інш.) ваганняў, у выніку чаго атрымліваюцца ваганні іншай (як правіла, больш нізкай) частаты. Найб. важны выпадак Д. — працэс, адваротны мадуляцыі (дэмадуляцыя; гл. Мадуляцыя ваганняў, Мадуляцыя святла) — выдзяленне нізкачастотнага мадулюючага сігналу (напр., ваганняў нізкай частаты ці сігналаў відарысу) з высокачастотных прамадуляваных ваганняў. У залежнасці ад віду мадуляцыі адрозніваюць амплітуднае, частотнае, фазавае і інш. Д.

Для Д. выкарыстоўваецца нелінейнасць вольт-ампернай характарыстыкі электронных прылад (вакуумных і паўправадніковых дыёдаў, трыёдаў, транзістараў і інш.). Пры амплітудным Д. ў ланцугу дэтэктара амплітудна мадуляваныя ваганні пераўтвараюцца ў высокачастотныя імпульсы адной палярнасці, амплітуда якіх змяняецца паводле закону мадуляцыі. Пры частотным (ці фазавым) Д. частотна (фазава) мадулявання ваганні спачатку пераўтвараюцца ў амплітудна мадуляваныя, а потым падаюцца на амплітудны дэтэктар. Пры прамым Д. святла на фотакатод прыёмніка падаецца толькі карысны аптычны сігнал; выхадны сігнал прыёмніка мае інфармацыю аб амплітуднай мадуляцыі зыходнай хвалі. Пры гетэрадзінным Д. святла зыходнае выпрамяненне камбінуецца на фотакатодзе з эталонным выпрамяненнем (напр., ад лазера) і выхадны сігнал нясе інфармацыю аб амплітудзе, частаце і фазе зыходнай хвалі.

т. 6, с. 361

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ДЭФЕКТАСКО́П (ад дэфект + ...скоп),

прылада або ўстаноўка для выяўлення дэфектаў (тыпу парушэнняў суцэльнасці ці аднароднасці, адхіленняў у хім. саставе) у матэрыялах, паўфабрыкатах і вырабах метадамі неразбуральнага кантролю. Стацыянарныя і лабараторныя Д. абсталёўваюць асцылаграфічнымі і лічбавымі індыкатарамі, самапіснымі прыстасаваннямі; пераносныя — стрэлачнымі прыладамі, гукавымі або асвятляльнымі сігналізатарамі. Існуюць Д., якія кантралююць рухомыя вырабы або самі рухаюцца адносна вырабаў (рэйкавыя Д., Д.-цялежкі і інш.).

Адрозніваюць Д.: ультрагукавыя (выкарыстоўваюць уласцівасць ультрагукавых хваль адбівацца ад дэфектаў, напр., трэшчын); рэнтгенаўскія і гама-Д. (прасвечваюць вырабы і матэрыялы адпаведнымі прамянямі, фіксуюць трэшчыны, ракавіны, пабочныя ўключэнні); магнітныя (з дапамогай магн. поля збіраюць магн. парашок або суспензію ў месцах дэфектаў); электраіндуктыўныя (узбуджаюць у вырабе або матэрыяле віхравыя токі, сіла і шчыльнасць якіх залежаць ад наяўнасці дэфектаў); люмінесцэнтныя (выяўляюць парушэнні пакрыццяў на дэталях электронных прылад); аптычныя (устаноўкі з прасветным экранам для візуальнага кантролю або сістэмай аўтам. аналізу відарысу; выяўляюць мікрашчыліны, мех. напружанні, адшчэпы, драпіны, скопішчы дыслакацый па змене інтэнсіўнасці адбітых прамянёў) і інш. Гл. таксама Дэфектаскапія.

П.​П.​Прахарэнка.

Схема аптычнага дэфектаскопа: 1 — аб’ект даследавання (паўправадніковая пласціна); 2 — пучок светлавых прамянёў; 3 — крыніца выпрамянення; 4 — экран.

т. 6, с. 364

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ЗАЗЯМЛЕ́ННЕ,

электрычнае злучэнне з зямлёю эл. машын, апаратаў, прылад, правадоў і інш., а таксама прыстасаванне, што забяспечвае такое злучэнне. Бывае ахоўнае (для засцярогі людзей), рабочае і маланкаахоўнае.

Ахоўнае З. (карпусоў эл. машын, апаратаў і інш.) засцерагае людзей ад паражэння эл. токам. Яно зніжае да небяспечных значэнняў напружанне дотыку або крокавае напружанне (пры прабоях ізаляцыі ці кароткіх замыканнях). Рабочае З. забяспечвае нармальную работу эл. машын, апаратаў, установак (зазямляюцца нейтралі трансфарматараў, нулявыя правады нізкавольтных ЛЭП, радыётэхн. антэны і інш.). Маланкаахоўнае З. засцерагае эл. ўстаноўкі і абсталяванне ад перанапружання і току маланкі. Зазямляюцца ахоўныя тросы паветраных ЛЭП, разраднікі, маланкаадводы на тэхн. збудаваннях і інш. З. складаецца з метал. электродаў (зазямляльнікаў) і праваднікоў, што злучаюць электроды з аб’ектам. Зазямляльнікі (стальныя трубы, рэйкі, стрыжні, стальныя або медныя лісты, палосы, правады і інш.) забіваюцца або закопваюцца ў зямлю (пажадана на глыбіню ўзроўню грунтавых вод), злучаюцца палосамі з дапамогай зваркі. Эл. супраціўленне кожнага тыпу З. строга рэгламентуецца і падлягае перыядычнай праверцы (замяраецца вымяральнікамі З., якія працуюць паводле прынцыпу вымяральнага моста або па кампенсацыйным прынцыпе з выкарыстаннем дапаможных зондаў-зазямляльнікаў).

т. 6, с. 500

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ІЗАЛЯ́ТАР ЭЛЕКТРЫ́ЧНЫ,

прыстасаванне для электраізаляцыі і мацавання правадоў, шын і частак эл. прылад і апаратаў, якія знаходзяцца пад напружаннем. Складаецца з уласна ізалятара (робіцца з цвёрдых дыэлектрыкаў — керамікі электратэхн., шкла, пластмасы, сіталаў і інш.) і мацавальных дэталей (з чыгуну, сталі, немагнітных матэрыялаў). Паверхню керамічных ізалятараў звычайна пакрываюць глазурай.

І.э. бываюць: нізка- (да 1000 В) і высакавольтавыя (больш за 1000 В); лінейныя, апорныя і прахадныя; унутранай і знадворнай устаноўкі. Лінейныя (штыравыя і падвесныя талеркавыя) прызначаны падтрымліваць правады — мацаваць іх да апор ліній электраперадачы; апорныя (штыравыя, флянцавыя) — для жорсткага мацавання шын, правадоў і асобных частак апаратаў; прахадныя — для ўводу вонкавых токаправодных частак эл. установак у памяшканні, апараты і інш. Пры напружанні 35 кВ і вышэй у трансфарматарах, выключальніках і інш. адказных апаратах ставяцца масланапоўненыя ізалятары (кандэнсатарныя ўводы). Высокачастотныя І.э. робяць з матэрыялаў з малымі дыэлектрычнымі стратамі (ультрафарфор, стэатыт). Да І.э. адносяцца таксама ролікі ўнуранай эл. праводкі, ізалявальныя трубкі, утулкі, шайбы і інш.

У.​М.​Сацута.

Асноўныя тыпы ізалятараў электрычных: 1, 2 — лінейныя штыравы і падвесны (талеркавы); 3, 4 — станцыйныя апорны флянцавы і прахадны; 5 — кандэнсатарны ўвод.

т. 7, с. 174

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

МАДУЛЯ́ЦЫЯ ВАГА́ННЯЎ змена амплітуды, частаты ці інш. параметраў ваганняў па зададзеным законе, павольная ў параўнанні з перыядам гэтых ваганняў. У тэхн. прыладах і сістэмах мадуляцыя эл.-магн. ваганняў радыё- і аптычнага дыяпазонаў, а таксама акустычных хваль выкарыстоўваецца для трансфармацыі частотнага спектра зыходнага вагання з мэтай павышэння эфектыўнасці перадачы інфармацыі, для частотнага раздзялення розных сістэм і прылад, для забеспячэння іх адначасовай работы на розных нясучых частотах, змены часавых параметраў сігналаў і інш.

Найб. пашыраны амплітудная мадуляцыя, фазавая мадуляцыя, частотная мадуляцыя, розныя віды імпульснай мадуляцыі, а таксама іх камбінацыі, напр., амплітудна-фазавая. У залежнасці ад віду мадуляцыі амплітуда, частата ці фаза высокачастотных ваганняў («носьбіт» інфармацыі), а таксама палярызацыя (у выпадку святла; гл. Мадуляцыя святла) змяняецца (мадулюецца) у адпаведнасці з нізкачастотным сігналам, што перадаецца. Выкарыстанне канкрэтнага віду М.в. залежыць ад параметраў ліній сувязі, патрабаванняў да якасці перададзенай інфармацыі, характарыстык прыёмнай апаратуры і інш. Працэс, адваротны М.в., наз. дэмадуляцыяй і ажыццяўляецца ў прыёмнай апаратуры (гл. Дэтэктыраванне).

Амплітудная (б) і частотная (в) мадуляцыя ваганняў пры пілападобнай мадулюючай функцыі (а).

т. 9, с. 492

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

МЕХАТРО́НІКА [ад меха(ніка) + (элек)троніка],

галіна навукі і тэхнікі, якая аб’ядноўвае дасягненні механікі, мікраэлектронікі, інфарматыкі і найноўшых тэхналогій для пабудавання складаных аўтам. сістэм. Узнікла ў 1980-я г. ў Японіі. Асн. мэта — камп’ютэрызацыя вытв-сці. Механізмы М. спалучаюць хуткадзеянне логіка-выліч. аперацый камп’ютэра з сілавымі характарыстыкамі мех. выканаўчых органаў машын і механізмаў. Машына (напр., аўтамабіль, робат, гібкі вытворчы модуль), прылада ці інш. тэхн. сістэма пры аснашчэнні мікракамп’ютэрам набывае «інтэлект».

Адзін з асн. прыкладных аспектаў М. — робататэхніка. У М. атрымалі далейшае развіццё ідэі кібернетыкі аб запазычанні ў жывой прыроды кіроўных рухальных і лагічных функцый пры стварэнні складаных тэхн. сістэм. Мехатронныя сістэмы ўтвараюць непадзельнае адзінства мех. і электронных вузлоў, дзе ажыццяўляецца абмен энергіяй і інфармацыяй, а праграмнае забеспячэнне мікра-ЭВМ рэалізуе арыгінальныя алгарытмы кіравання, адаптацыі, сачэння і інш. Тыповыя прадукты М. — механізмы прыводу (драйверы) дыскаводаў ЭВМ, прыводу кампакт-дыскаў, счытвальных прылад, відэатэхнікі.

На Беларусі работы па праблемах М. вядуцца ў Нац. АН (НДА «Кібернетыка», Навук. цэнтр праблем механікі машын), БПА, Бел. ун-це інфарматыкі і радыёэлектронікі і інш.

Літ.:

Мехатроника: Пер. с яп. М., 1988.

А.​І.​Дабралюбаў.

т. 10, с. 323

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

НЕАДНАРО́ДНЫЯ ХВА́ЛІ,

электрамагнітныя ваганні, у якіх плоскасці роўных фаз і роўных амплітуд непаралельныя. Узнікаюць у празрыстых асяроддзях пры поўным адбіцці і ў паглынальных (узмацняльных) асяроддзях пры падзенні выпрамянення нахільна да мяжы асяроддзяў. Уласцівасці Н.х. улічваюцца ў разліках пры распрацоўцы аптычных прылад, напр., хваляводаў і аптычных ліній сувязі, лазераў хваляводнага тыпу і інш.

Тэорыя Н.х. распрацавана ў Ін-це фізікі АН Беларусі Ф.І.Фёдаравым у 1950—70-я г. на аснове каварыянтных метадаў. Н.х. адрозніваюцца тым, што вектары эл. і магн. палёў ляжаць у розных плоскасцях і апісваюць розныя крывыя (за выключэннем выпадку кругавой палярызацыі). Паток і шчыльнасць энергіі такіх хваль залежаць ад палярызацыі зыходнага выпрамянення. На ўласцівасцях Н.х. заснавана з’ява бакавога зрушэння адбітага праменя (Фёдарава зрух). У крышталях пры адсутнасці падвойнага праменепраламлення магчыма ўзнікненне Н.х., палярызацыя якіх змяняецца з глыбінёй пранікнення паводле лінейна-экспаненцыяльнага закону (хвалі Фёдарава—Пятрова).

Літ.:

Федоров Ф.И. Оптика анизотропных сред. Мн., 1958;

Петров Н.С., Федоров Ф.И. Новый вид плоских электромагнитных волн в поглощающих кристаллах // Оптика и спектроскопия. 1963. Т. 15, № 6.

М.​С.​Пятроў.

т. 11, с. 252

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

нармаліза́цыя

(фр. normalisation, ад лац. normalis = урэгуляваны)

1) прывядзенне да нормы, падпарадкаванне норме (напр. н. міжнародных адносін, н. правапісу);

2) вызначэнне адзіных нормаў і патрабаванняў па тыпах, памерах, якасці розных аб’ектаў, вырабаў, прылад ці іх вузлоў, а таксама па абазначэннях і маркіроўцы; адзін з відаў стандартызацыі;

3) від тэрмічнай апрацоўкі сталі, награванне яе да тэмпературы, вышэйшай за тэмпературу крытычнага пункту (750—950°С) з наступным ахаладжэннем на спакойным паветры.

Слоўнік іншамоўных слоў (А. Булыка, 1999, правапіс да 2008 г.)