ЛО́РЭНЦ ((Lorentz) Хендрык Антон) (18.7.1853, г. Арнем, Нідэрланды — 4.2.1928),
нідэрландскі фізік-тэарэтык, стваральнік электроннай тэорыі і электрадынамікі рухомых асяроддзяў. Замежны чл.-кар.Пецярб.АН (1910), ганаровы чл.АНСССР (1925). Вучыўся ў Лейдэнскім ун-це (1870—72), з 1878 праф. гэтага ун-та. З 1923 дырэктар ін-та Тэйлара ў Харлеме. Арганізатар і старшыня Сальвееўскіх кангрэсаў фізікаў (1914—27). Навук. працы па электрадынаміцы, тэрмадынаміцы і статыстычнай механіцы, оптыцы і тэорыі выпрамянення. Зыходзячы з эл.-магн. тэорыі Дж.Максвела стварыў класічную электронную тэорыю (1880—1909), на падставе якой растлумачыў шэраг эл.-магн. з’яў, а таксама эл.-магн. і аптычныя ўласцівасці рэчыва, атрымаў формулу для вызначэння сілы, што дзейнічае на рухомы зарад у магн. полі (гл.Лорэнца сіла), растлумачыў Зеемана з’яву. Незалежна ад Дж.Лармара атрымаў рэлятывісцкія пераўтварэнні каардынат і часу (гл.Лорэнца пераўтварэнні). Даследаванні Л. спрыялі стварэнню адноснасці тэорыі. Нобелеўская прэмія 1902 (разам з П.Зееманам).
Літ.:
Кляус Е.М., Франкфурт У.И., Френк А.М. Г.А.Лоренц, 1853—1928. М., 1974.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
МОНАКРЫШТА́ЛЬ (ад мона... + крышталі),
асобны крышталь з адзінай неперарыўнай крышт. рашоткай. Характэрная асаблівасць М. — залежнасць большасці яго фіз. уласцівасцей ад напрамку (анізатрапія). Усе яго фіз. ўласцівасці (эл., магн., аптычныя, акустычныя, мех. і інш.) звязаны паміж сабой і абумоўлены крышт. структурай, сіламі сувязі паміж атамамі і энергет. спектрам электронаў (гл.Зонная тэорыя).
Многія М. маюць асаблівыя фіз. ўласцівасці: алмаз вельмі цвёрды, сапфір, кварц, флюарыт — надзвычай празрыстыя, ніткападобныя крышталі карунду рэкордна моцныя. Многія М. адчувальныя да знешніх уздзеянняў (святла, мех. напружанняў, магн. і эл. палёў, радыяцыі і інш.) і выкарыстоўваюцца як пераўтваральнікі ў квантавай электроніцы, радыёэлектроніцы, лазернай фізіцы, акустыцы і інш. Прыродныя М. трапляюцца рэдка, найчасцей маюць малыя памеры і вял. колькасць дэфектаў структуры (гл.Дэфекты ў крышталях) Таму ў электронным прыладабудаванні выкарыстоўваюць штучныя М. з дасканалай крышт. структурай, зададзенымі ўласцівасцямі і памерамі (гл.Сінтэтычныя крышталі). Створана вял. колькасць сінтэтычных М., якія не маюць прыродных аналагаў.
Літ.:
Лодиз Р.А., Паркер Р.Л. Рост монокристаллов: Пер. с англ.М., 1974;
Нашельский А.Я. Монокристаллы полупроводников. М., 1978.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ВЫЛІЧА́ЛЬНАЯ МАШЫ́НА,
інструментальны сродак (або сукупнасць сродкаў) для апрацоўкі інфармацыі, у т. л. вылічэнняў, кіравання, рашэння задач. Бываюць мех., эл., электронныя, гідраўл., пнеўматычныя, аптычныя і камбінаваныя; у залежнасці ад формы выяўлення інфармацыі адрозніваюць аналагавыя вылічальныя машыны, лічбавыя вылічальныя машыны і гібрыдныя вылічальныя сістэмы.
Першы праект універсальнай «аналітычнай машыны» (гіганцкага арыфмометра з праграмным кіраваннем, арыфм. і запамінальным блокам), які, аднак, не быў поўнасцю рэалізаваны, распрацаваў англ. вынаходца і матэматык Ч.Бэбідж у 1883. Асн. ідэі праекта закладзены ў аснову работы сучаснай вылічальнай машыны: праграма вылічэнняў захоўваецца ў памяці машыны і выконваецца аўтаматычна. Развіццё электратэхнікі і радыёэлектронікі прывяло да стварэння ў 1930-я г. спецыялізаваных аналагавых вылічальных машын. Першыя электронныя вылічальныя машыны, заснаваныя на выяўленні інфармацыі ў лічбавай двайковай форме, распрацаваны ў 1940-я г. на аснове развіцця эл. пераключальных схем у аўтам.тэлеф. сувязі, электроннай кантрольна-вымяральнай апаратуры, радыёлакацыі. Гл. таксама Вылічальная машына «Мінск», Вылічальная тэхніка, Вылічальны цэнтр, Вылічальная сістэма.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ДВАЙНІКАВА́ННЕ,
утварэнне ў монакрышталі абласцей з заканамерна змененай арыентацыяй крышт. структуры. Структуры двайніковых утварэнняў з’яўляюцца люстраным адбіткам атамнай структуры зыходнага крышталя (матрыцы) у пэўнай плоскасці (плоскасці Д.) ці ўтвараюцца паваротам структуры матрыцы вакол крышталеграфічнай восі (восі Д.) на пастаянны для дадзенага рэчыва вугал або іншым пераўтварэннем сіметрыі крышталёў. Матрыца з двайніковым утварэннем наз. двайніком.
У залежнасці ад колькасці зрошчаных двайніковых утварэнняў структуры наз. трайнікамі, чацвернікамі ці наогул полісінт. двайнікамі. Д. можа адбывацца пры крышталізацыі, мех. дэфармацыі, зрастанні суседніх зародкаў (двайнікі росту), хуткім цеплавым расшырэнні ці сцісканні, награванні дэфармаваных крышталёў (двайнікі рэкрышталізацыі), пры пераходзе ад адной крышт мадыфікацыі да другой. Напр., у крышталях сегнетавай солі двайнікі ўтвараюцца пры пераходзе крышталя ад рамбічнай структуры да монакліннай (пры т-ры Кюры). Д. ўплывае на мех. (трываласць, пластычнасць, крохкасць), м., магн., аптычныя ўласцівасці крышталёў, пагаршае якасць паўправадніковых прылад. Заканамернасці Д. выкарыстоўваюцца для дыягностыкі мінералаў, устанаўлення паходжання і ацэнкі некат. мінералаў як прамысл. сыравіны.
Літ.:
Современная кристаллография. Т. 2. М., 1979;
Т. 4. М., 1981.
Р.М.Шахлевіч.
Да арт.Двайнікаванне. Двайнікі росту: а — пірыт; б — кальцыт; в — полісінтэтычны двайнік альбіту.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ДЫСПЕРСІ́ЙНЫЯ ФІ́ЛЬТРЫ,
аптычныя прылады, якія прапускаюць параўнальна вузкі ўчастак спектра выпрамянення і прынцып дзеяння якіх заснаваны на выбіральным рассеянні святла. Існуюць Д.ф. з кампанентаў крышталь—вадкасць, крышталь—паветра, а таксама з розных крышт. матэрыялаў, палімераў і інш.
Паказчыкі пераламлення 2 кампанентаў Д.ф. аднолькавыя для некаторай частаты святла ω0, таму пасля праходжання праз такую сістэму святло становіцца амаль монахраматычным (частата, блізкая да ω0). Светлавыя пучкі іншых частот (ω ≠ ω0) рассейваюцца. На Беларусі ў 1970-я г. ў Ін-це фізікі АН пад кіраўніцтвам М.А.Барысевіча распрацаваны Д.ф., двума кампанентамі якіх з’яўляюцца крышт. матэрыялы або палімеры. Д.ф. крышталь—крышталь маюць высокую мех. трываласць і кантрастнасць; спектральныя характарыстыкі ў іх стабільныя ў шырокім інтэрвале т-р, адсутнічаюць пабочныя палосы прапускання, параўнальна простая тэхналогія вырабу. Выкарыстоўваюцца ў спектраскапіі, квантавай электроніцы, плазмавай фотаметрыі, піраметрыі, біялогіі, медыцыне, астрафізіцы, метэаралогіі.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ДЭФЕКТАСКО́П (ад дэфект + ...скоп),
прылада або ўстаноўка для выяўлення дэфектаў (тыпу парушэнняў суцэльнасці ці аднароднасці, адхіленняў у хім. саставе) у матэрыялах, паўфабрыкатах і вырабах метадамі неразбуральнага кантролю. Стацыянарныя і лабараторныя Д. абсталёўваюць асцылаграфічнымі і лічбавымі індыкатарамі, самапіснымі прыстасаваннямі; пераносныя — стрэлачнымі прыладамі, гукавымі або асвятляльнымі сігналізатарамі. Існуюць Д., якія кантралююць рухомыя вырабы або самі рухаюцца адносна вырабаў (рэйкавыя Д., Д.-цялежкі і інш.).
Адрозніваюць Д.: ультрагукавыя (выкарыстоўваюць уласцівасць ультрагукавых хваль адбівацца ад дэфектаў, напр., трэшчын); рэнтгенаўскія і гама-Д. (прасвечваюць вырабы і матэрыялы адпаведнымі прамянямі, фіксуюць трэшчыны, ракавіны, пабочныя ўключэнні); магнітныя (з дапамогай магн. поля збіраюць магн. парашок або суспензію ў месцах дэфектаў); электраіндуктыўныя (узбуджаюць у вырабе або матэрыяле віхравыя токі, сіла і шчыльнасць якіх залежаць ад наяўнасці дэфектаў); люмінесцэнтныя (выяўляюць парушэнні пакрыццяў на дэталях электронных прылад); аптычныя (устаноўкі з прасветным экранам для візуальнага кантролю або сістэмай аўтам. аналізу відарысу; выяўляюць мікрашчыліны, мех. напружанні, адшчэпы, драпіны, скопішчы дыслакацый па змене інтэнсіўнасці адбітых прамянёў) і інш.Гл. таксама Дэфектаскапія.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ОП-АРТ (англ. op art скарочанае ад optikal art аптычнае мастацтва),
кірунак абстрактнага мастацтва. Узнік у канцы 1940-х г. у Парыжы ў творчасці групы мастакоў на чале з В.Вазарэлі (сапр. Ванархей) на аснове геам. абстракцыянізму. Блізкі да кінетычнага мастацтва, у адрозненне ад якога стылістычна не выходзіць за межы жывапіснага твора. З 1960-х г. пашырыўся ў зах.-еўрап. і амер. жывапісе, дызайне і рэкламе. У творах О.-а. выкарыстоўваюць аптычныя ілюзіі, заснаваныя на асаблівасцях зрокавага ўспрыняцця, што стварае фіктыўны вобраз, які існуе толькі ў свядомасці гледача (эфекты прасторавага перамяшчэння, зліцця ці бязважкасці форм, ілюзіі руху, паслядоўнай змены вобразаў і няўстойлівай формы і інш.). Гэта дасягаецца ўвядзеннем рэзкіх колеравых і танальных кантрастаў, рытмічных чаргаванняў, перасячэннем спіралепадобных і кратавых канфігурацый, закручаных ліній і інш. Часта выкарыстоўваюцца матэрыялы, якія не ўласцівы жывапісу (метал, шкло, пластык і інш.), але маюць паверхню, што адбівае святло, а таксама ўстаноўкі зменлівага асвятлення, дынамічныя канструкцыі і інш. Сярод прадстаўнікоў: Р.Анушкевіч, К.Крус-Дыес, Л.Пунс, Б.Райлі, Р.Сота і інш.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ПАДВО́ЙНЫЯ ЗО́РКІ,
зорная сістэма з 2 зорак, звязаных фізічна (фізічныя П.з.) ці размешчаных амаль на адным прамені назірання (аптычныя П.з.). Фіз. П.з. з прычыны ўзаемнага прыцяжэння рухаюцца па эліптычных арбітах вакол агульнага цэнтра мас.
Паводле ўмоў назірання фіз. П.з. падзяляюць на 4 групы. Візуальна-П.з. можна бачыць паасобна простым вокам ці ў тэлескоп, напр. зоркі Міцар і Алькор. Адлегласць паміж кампанентамі можа быць настолькі вялікая, што прыцяжэнне інш. зорак разбурае падвойную сістэму. Спектральна-П.з. выяўляюцца па зменах спектральных ліній (зрушэнне ці раздваенне) у іх спектрах. Зацьменна-П.з. (разнавіднасць спектральна-падвойных) бачныя як пераменныя: перыядычна трапляючы на адну лінію з праменем назірання, яны зацямняюць адна адну. Астраметрычныя П.з. — адна з кампанент вельмі малая і нябачная ў тэлескоп; выяўляецца па анамаліях у руху гал. кампаненты. Існуюць кратныя зорныя сістэмы (складаюцца з некалькіх зорак), напр.Кастар. Прыблізна 70% усіх зорак уваходзяць у склад падвойных ці кратных сістэм. Іх даследаванне мае важнае значэнне для высвятлення прыроды і эвалюцыі зорак.
Літ.:
Бэттен А. Двойные и кратные звезды: Пер. с англ.М., 1976;
Тесные двойные звездные системы и их эволюция. М., 1976.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
АПТЫ́ЧНЫ РЭЗАНА́ТАР,
сістэма люстраных адбівальных паверхняў, у якой узбуджаюцца і падтрымліваюцца стаячыя ці бягучыя электрамагнітныя хвалі аптычнага дыяпазону. У адрозненне ад аб’ёмнага рэзанатара аптычны з’яўляецца адкрытым (няма бакавых сценак). Аптычны рэзанатар — адзін з важнейшых элементаў лазера. Асн. характарыстыка аптычнага рэзанатара — дыхтоўнасць (вызначае страты светлавой энергіі і характарызуе рэзанансныя ўласцівасці).
Прасцейшы аптычны рэзанатар — інтэрферометр Фабры—Перо, які складаецца з 2 плоскіх строга паралельных люстэркаў, што знаходзяцца на адлегласці L, значна большай за даўжыню хвалі λ. Калі паміж люстэркамі ўздоўж восі рэзанатара распаўсюджваецца плоская светлавая хваля, то ў выніку адбіцця ад люстэркаў і інтэрферэнцыі адбітых хваляў утвараецца стаячая хваля. Умова рэзанансу: L = q∙λ/2. дзе q — падоўжны індэкс ваганняў (колькасць паўхваляў, што ўкладаюцца ўздоўж восі аптычнага рэзанатара). У лазернай тэхніцы выкарыстоўваюцца канфакальныя рэзанатары, утвораныя сферычнымі люстэркамі, якія разнесены на адлегласць, роўную радыусу іх крывізны, а таксама кальцавыя аптычныя рэзанатары, што складаюцца з 3 і болей плоскіх або сферычных люстэркаў. У аптычным рэзанатары са сферычнымі люстэркамі ўзбуджаюцца таксама незалежныя бягучыя насустрач адна адной хвалі.
Літ.:
Ананьев Ю.А. Оптические резонаторы и проблема расходимости лазерного излучения. М., 1979.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ЗАПАМІНА́ЛЬНАЕ ПРЫСТАСАВА́ННЕ,
сукупнасць тэхн. сродкаў для запісу, захоўвання і ўзнаўлення інфармацыі. Выкарыстоўваюцца ў выліч. тэхніцы, сувязі, аўтаматыцы, станках з лікава-праграмным кіраваннем, вымяральных прыладах і інш.Асн. параметры: ёмістасць (найб. колькасць інфармацыі, якую можна адначасова захоўваць), хуткадзеянне (характарызуе скорасць уводу-вываду інфармацыі і інш.) і энергаспажыванне.
Паводле функцыянальнага прызначэння адрозніваюць З.п. звышаператыўныя (ЗАЗП), аператыўныя (АЗП), пастаянныя (ПЗП, у т. л. перапраграмавальныя) і знешнія (ЗЗП); паводле характару звароту — адрасныя, бязадрасныя, асацыятыўныя (пошук і выбарка інфармацыі па пэўных прыкметах); паводле спосабу выбаркі інфармацыі — з паслядоўным (цыклічным) зваротам, з паралельным зваротам (адвольнай выбаркай). Запіс інфармацыі ў З.п. ажыццяўляецца пераўтварэннем яе ў эл., аптычныя, акустычныя ці інш. сігналы для змены стану, формы або цэласнасці пэўнага фіз. асяроддзя (гл.Накапляльнік, Носьбіт інфармацыі). ЗАЗП і АЗП прызначаны для захоўвання інфармацыі, неабходнай для аперацый, якія выконвае працэсар ЭВМ; у ПЗП захоўваюцца пастаянныя каэфіцыенты, даведачныя табліцы, падпраграмы, мікрапраграмы, знакагенератары і інш. ЗЗП і архіўная памяць прызначаны для захоўвання вял. масіваў інфармацыі для наступнай перадачы іх у АЗП; маюць накапляльнікі на магнітных дысках, барабанах, стужках, а таксама на магн.-аптычных і аптычных дысках. Гл. таксама Памяць ЭВМ.
