АНТЭ́НА (ад лац. antenna рэя),

прыстасаванне для выпрамянення і прыёму электрамагнітных хваляў, адзін з асн. элементаў ліній радыёсувязі. Перадавальная антэна пераўтварае энергію эл.-магн. ваганняў, засяроджаную ў выхадных вагальных ланцугах радыёперадатчыка, у энергію радыёхваляў. Прыёмная антэна выконвае адваротнае пераўтварэнне энергіі радыёхваляў у энергію ВЧ-ваганняў і аддзяляе карысны сігнал ад перашкод. У большасці перадавальных антэн інтэнсіўнасць выпрамянення залежыць ад напрамку (накіраванасць выпрамянення), што павышае напружанасць эл.-магн. хвалі ў бок найб. выпрамянення (раўназначная эфекту, выкліканаму павышэннем выпрамяняльнай магутнасці); вызначаецца каэфіцыентам накіраванага дзеяння (КНДз). Залежнасць напружанасці эл. поля ад напрамку назірання графічна адлюстроўваецца дыяграмай накіраванасці (ДН). Звычайна ДН мае многапялёсткавы характар (вынік інтэрферэнцыі выпрамянення ад асобных элементаў антэны); адрозніваюць гал. пялёстак і бакавыя. Чым большыя памеры антэны ў параўнанні з даўжынёй хвалі, тым вузейшы гал. пялёстак, большы яго КНДз і большая колькасць бакавых пялёсткаў. Асн. характарыстыкі антэны (ДН, КНДз і ўваходнае супраціўленне, што характарызуе ўзгадненне антэны з лініяй перадачы) аднолькавыя ў рэжымах перадачы і прыёму. Паводле канструкцыі і прынцыпу работы антэны бываюць: бягучай хвалі антэна, дыяпазонная антэна, рамачная антэна, хваляводна-рупарная антэна, люстраная антэна, вібратарная, шчылінная, лінзавая, антэнная рашотка і інш.

Вібратарная антэна — праваднік даўжынёй L = 0,5λ, дзе λ — даўж. хвалі; КНДз=1,64, для яго павелічэння звычайна выкарыстоўваюць многавібратарныя антэны (гл. Тэлевізійная антэна), выкарыстоўваюць ва ўсіх дыяпазонах радыёхваляў. Шчылінная антэна — метал. экран з прамавугольнымі адтулінамі; выкарыстоўваюць у дыяпазоне ЗВЧ. Лінзавая антэна складаецца з абпрамяняльніка (вібратарная, шчылінная або інш. антэны) і дыэлектрычнай лінзы, якая факусіруе хвалю ў вузкі прамень; КНДз да 10​4; выкарыстоўваецца ў радыёлакацыйных і вымяральных устаноўках. Антэнная рашотка — сістэма слабанакіраваных антэн, якія ў рэжыме перадачы далучаюцца да агульнага генератара праз сістэму размеркавання магутнасці, у рэжыме прыёму — да агульнага прыёмніка; КНДз прыблізна роўны здабытку КНДз асобнага выпрамяняльніка і іх колькасці. Асаблівасць — магчымасць павароту ДН адносна самой рашоткі (эл. сканіраванне), што дасягаецца зменай рознасці фазаў паміж суседнімі выпрамяняльнікамі з дапамогай спец. фазавярчальнікаў па камандах ЭВМ.

А.А.Юрцаў.

т. 1, с. 406

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

МЕТАЛАГРА́ФІЯ (ад металы + ...графія),

раздзел металазнаўства, які вывучае структуру металаў і сплаваў з дапамогай аптычнай і электроннай мікраскапіі, дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў. Даследуе заканамернасці ўтварэння структуры, яе змен пад уплывам знешніх уздзеянняў.

Вывучэнне паверхні металу няўзброеным вокам, праз лупу або мікраскоп з павелічэннем да 10 разоў дазваляе выявіць макраструктуру (крышталічную, хім. або мех. неаднастайнасць у выглядзе буйных зярнят, дэфектаў і дамешкаў). Даследаванне паліраванай і траўленай паверхні пры дапамозе мікраскопа з павелічэннем у 50—1500 разоў дазваляе выявіць мікраструктуру (памеры і формы зярнят, размеркаванне структурных фаз, уключэнняў і дэфармацый). Металаграфскае траўленне (уздзеянне кіслотным і інш. актыўным рэагентам) дае магчымасць устанавіць унутр, структурную будову сплаву. З дапамогай трансмісійнага мікраскопа вядуць электронна-мікраскапічнае даследаванне (выяўляюць фрагменты структуры памерам у некалькі нанаметраў, назіраюць скопішчы дыслакацый і скажэнняў крышт. рашоткі); электроннага сканіруючага мікраскопа — атрымліваюць відарысы дэфектаў структуры з вял. глыбінёй рэзкасці пры павелічэнні да 20 тыс. разоў (вывучаюць паверхні разбурэння, аб’ёмныя ўключэнні і інш.); рэнтгенаўскага дыфрактометра — атрымліваюць інфармацыю аб крышталеграфічных параметрах асобных фаз, унутр. напружаннях, раствораных у металах атамах. Адначасова з металаграфскімі даследаваннямі будовы металаў і сплаваў вывучаюць умовы, што выклікаюць змену іх унутр. структуры (уздзеянне награвання і ахаладжэння, пластычнай дэфармацыі, адпачыну, рэкрышталізацыі, спякання, насычэння хім. элементамі і інш.), а таксама даследуюць фіз. (мех.) уласцівасці. Даныя выкарыстоўваюць для вывучэння працэсаў атрымання метал. матэрыялаў з зададзенымі ўласцівасцямі. М. выкарыстоўваецца як адзін з метадаў кантролю якасці пры ліцці, тэрмаапрацоўцы, апрацоўцы ціскам, зварцы і інш. Першыя даследаванні структуры з выкарыстаннем аптычнага мікраскопа праведзены ў 1931 П.А.Аносавым.

На Беларусі М. выкарыстоўваюць пры распрацоўцы новых матэрыялаў у Фізіка-тэхн. ін-це Нац. АН Беларусі, Бел. навукова-вытв. канцэрне парашковай металургіі, БПА, у металургічнай і металаапрацоўчай прам-сці.

Літ.:

Смолмен Р., Ашби К. Современная металлография: Пер. с англ. М., 1970;

Лившиц Б.Г. Металлография. 3 изд. М., 1990;

Приборы и методы физического металловедения: Пер. с англ. Вып. 1—2. М., 1973—74.

Г.М.Гайдалёнак.

т. 10, с. 304

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

АНІЗАТРАПІ́Я (ад грэч. anisos неаднолькавы + tropos напрамак),

1) у фізіцы — залежнасць фіз. (мех., аптычных, магн. і інш.) уласцівасцяў рэчыва ад напрамку. Натуральная анізатрапія — характэрная асаблівасць крышталёў; абумоўлена іх сіметрыяй і выяўляецца тым больш, чым яна меншая. Анізатрапія некаторых вадкасцяў (напр., вадкіх крышталёў) тлумачыцца асіметрыяй і пэўнай арыентацыяй малекул. У аморфных і полікрышталічных рэчывах анізатрапія бывае пры наяўнасці прыроднай (напр., драўніна) або штучнай тэкстуры (напр., пры пракатцы ліставой сталі зерні металу арыентуюцца ўздоўж напрамку пракаткі, у выніку чаго ствараецца анізатрапія мех. уласцівасцяў). Анізатрапія многіх уласцівасцяў крышталёў, напр. лінейнага цеплавога расшырэння, электраправоднасці, пругкіх уласцівасцяў, характарызуецца значэннямі адпаведных пастаянных уздоўж гал. восі сіметрыі і ўпоперак да яе. Аптычная анізатрапія выяўляецца ў выглядзе падвойнага праменепраламлення, дыхраізму, змен характару палярызацыі і вярчэння плоскасці палярызацыі святла. Натуральная аптычная анізатрапія крышталёў абумоўлена неаднолькавасцю ў розных напрамках поля сіл, якія ўтрымліваюць атамы ці іоны рашоткі. Штучная анізатрапія ствараецца ў ізатропных асяроддзях пад уздзеяннем вонкавых сіл ці палёў, што вызначаюць у асяроддзях пэўныя напрамкі, напр., у выніку ўздзеяння пругкіх дэфармацый, эл. поля, магн. поля (гл. Катона—Мутона эфект, Фарадэя эфект).

2) Анізатрапія ў геалогіі абумоўлена мікраслаістасцю, упарадкаванай арыентацыяй зерняў і крышталёў і мікратрэшчынаватасцю горных парод і мінералаў. Крышталі розных мінералаў выяўляюць анізатрапію розных уласцівасцяў: слюды — аптычных, мех. (спайнасці, пругкасці, трываласці); дыстэну — цвёрдасці; кварцу, турмаліну — аптычных, п’езаэлектрычнага эфекту; магнетыту — ферамагнітных; кальцыту — аптычных. Анізатрапія некаторых мінералаў выкарыстоўваецца ў прыладабудаванні. Анізатрапія масіваў горных парод вызначаецца ўпарадкаванымі лінейнымі ці плоскаснымі элементамі будовы (стратыфікаваныя асадкавыя і метамарфічныя тоўшчы горных парод з лінейна арыентаванымі структурамі, слаістасцю, макратрэшчынаватасцю і інш.). Пры горных работах найб. значэнне маюць дэфармацыйныя ўласцівасці парод.

3) У батаніцы — здольнасць розных органаў адной і той жа расліны займаць рознае становішча пры аднолькавым ўздзеянні пэўнага фактара вонкавага асяроддзя. Напр., пры бакавым асвятленні расліны яе верхавінка выгінаецца ў бок крыніцы святла, а лісцевыя пласцінкі займаюць перпендыкулярнае напрамку прамянёў становішча.

Літ.:

Шаскольская М.П. Очерки о свойствах кристаллов. 2 изд. М., 1978;

Сиротин Ю.М., Шаскольская М.П. Основы кристаллофизики. 2 изд. М., 1979.

т. 1, с. 368

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

БРО́НЗА (франц. bronze),

1) у тэхніцы — сплаў на аснове медзі, у якім асн. дабаўкамі з’яўляюцца волава, алюміній, берылій, крэмній, свінец, хром і інш. элементы, за выключэннем цынку (яго сплаў з меддзю наз. латунь) і нікелю (медна-нікелевы сплаў). Адпаведна бронза называецца алавянай, алюмініевай і г.д. Бронза мае значную трываласць, пластычнасць, цвёрдасць, высокія антыкаразійныя і антыфрыкцыйныя ўласцівасці.

Алавяная бронза мае да 11% волава і невялікія дабаўкі цынку, свінцу, фосфару, нікелю. Вызначаецца малым каэф. трэння па сталі. З яе робяць рабочы слой падшыпнікаў слізгання і антыкаразійную арматуру. Алюмініевая бронза мае 11% алюмінію і дабаўкі жалеза, нікелю і марганцу, якія павялічваюць трываласць сплаву. Устойлівая да сернай і большасці арган. кіслот. З яе робяць стужкі, палосы на спружыны, пруткі, трубы і фасонныя адліўкі. Берыліевая бронза мае да 2,4% берылію. Ідзе на выраб мембран, спружын, кантактаў, шасцерняў. Крэмніевая бронза мае 1—3% крэмнію, а таксама нікель, цынк, свінец, марганец. Вызначаецца высокімі мех. характарыстыкамі, антыфрыкцыйнымі ўласцівасцямі, добра зварваецца, паяецца і апрацоўваецца рэзаннем. З яе робяць пруткі, стужкі, сеткі, рашоткі, электроды. Марганцавая бронза вызначаецца павышанай каразійнай устойлівасцю, гарачатрываласцю. Свінцовістая бронза можа мець да 60% свінцу. Ёю ўкрываюць (тонкім слоем) укладышы і ўтулкі, якія працуюць у рэжыме слізгання. Хромістая бронза вызначаецца высокай электра- і цеплаправоднасцю. Ідзе на выраб калектараў эл. рухавікоў, электродаў.

2) У мастацтве — адзін з найб. пашыраных матэрыялаў для дэкар.-прыкладных вырабаў і скульптуры. Ліццё з алавянай бронзы (сплаў медзі з волавам, часам з дадаткамі інш. металаў) дае магчымасць з макс. дакладнасцю ўзнаўляць найдрабнейшыя дэталі мадэлі. Добра паддаецца апрацоўцы (чаканцы, паліроўцы, таніроўцы). Матэрыял пластычна вельмі выразны, на паверхні скульптуры (манум., дэкар., станковай) стварае своеасаблівыя святлоценявыя эфекты. Пад дзеяннем атм. з’яў набывае спецыфічныя адценні (паціну).

Вырабы з бронзы вядомы ў мастацтве Месапатаміі (3-е тыс. да н.э.), Стараж. Егіпта (2-е тыс. да н.э.); час росквіту — эпоха італьян. Адраджэння. З 17 ст. маст. ліццё з бронзы пашырана ў Францыі. Вядомыя творы з бронзы ў бел. мастацтве: помнікі Я.Коласу (1972, скульпт. З.Азгур), Я.Купалу (1972, А.Анікейчык, Л.Гумілеўскі, А.Заспіцкі), М.Багдановічу (1981, С.Вакар) у Мінску, Ф.Скарыне (1974, А.Глебаў) у Полацку, С.Буднаму (1980, С.Гарбунова) у Нясвіжы і інш.

т. 3, с. 260

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ЗО́ННАЯ ТЭО́РЫЯ крышталічных цвёрдых цел,

квантавая тэорыя спектра энергій электронаў крышталя. Паводле З.т. гэты спектр складаецца з зон дазволеных і забароненых энергій. З.т. тлумачыць шэраг уласцівасцей і з’яў у крышталях, у прыватнасці, розны характар іх электраправоднасці.

Аснова З.т. — аднаэлектроннае прыбліжэнне: скорасць руху атамных ядраў каля становішчаў раўнавагі многа меншая за скорасць электронаў; кожны электрон рухаецца ў трохмерна-перыядычным полі, якое ствараецца ядрамі і астатнімі электронамі. Зона праводнасці (с) і валентная зона (v) утвораны сукупнасцю атамных энергет. узроўняў, «расшчэпленых» у выніку аб’яднання свабодных атамаў у крышт. рашотку. Узроўні энергіі валентных электронаў (е) атама расшчапляюцца і зрушваюцца значна больш, чым узроўні ўнутраных электронаў (і). Шырыня забароненай зоны Eg (энергет. шчыліна паміж v- і с-зонамі) вызначаецца раўнаважнай адлегласцю паміж ядрамі (пастаяннай крышт. рашоткі d) У крышталі з N ідэнтычных атамаў кожны атамны ўзровень расшчапляецца на N узроўняў, якія ўтвараюць квазінеперарыўную дазволеную зону або яе частку. Электроны запаўняюць дазволеныя зоны энергій у адпаведнасці з Паўлі прынцыпам: на N узроўнях зоны можа знаходзіцца не больш за 2N электронаў. Уласцівасці крышталя залежаць ад колькасці электронаў у зоне праводнасці і/ці ад колькасці незапоўненых узроўняў (вакансій для электронаў) у валентнай зоне. Калі энергет. зона запоўнена электронамі часткова, то пад уздзеяннем знешняга эл. поля яны пераразмяркоўваюцца па ўзроўнях у зоне. Пры гэтым парушаецца сіметрыя размеркавання электронаў па скорасцях — узнікае эл. ток. Таму крышталь з часткова запоўненай c-зонай з’яўляецца правадніком электрычнасці — металам. Электроны ў поўнасцю запоўненай v-зоне з-за прынцыпу Паўлі не могуць пераразмяркоўвацца па ўзроўнях энергіі; крышталь з пустой с-зонай і поўнасцю запоўненай электронамі v-зонай — дыэлектрык. Калі цеплавая энергія дастатковая для пераводу часткі электронаў з v-зоны ў c-зону, то электраправоднасць крышталя расце пры награванні; такі крышталь — паўправаднік. Пры слаба перакрытых с- і v-зонах крышталь з’яўляецца паўметалам (напр., вісмут), а пры змыканні гэтых зон (Eg=0) — бясшчылінным паўправадніком (напр., шэрае волава). З.т. — набліжэнне да рашэння фундаментальнай задачы: вывесці ўласцівасці крышталя з уласцівасцей атамаў, з якіх ён складаецца.

Літ.:

Харрисон У.А Электронная структура и свойства твердых тел: Физика химической связи: Пер. с англ. Т. 1—2. М., 1983;

Анималу А. Квантовая теория кристаллических твердых тел: Пер. с англ. М., 1981.

М.А.Паклонскі.

Да арт. Зонная тэорыя.

т. 7, с. 107

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ГАЛАГРА́ФІЯ (ад грэч. holos увесь, поўны + ...графія),

метад атрымання поўнага аб’ёмнага відарыса аб’екта, заснаваны на інтэрферэнцыі і дыфракцыі кагерэнтных хваль; галіна фізікі, што вывучае заканамернасці запісу, узнаўлення і пераўтварэння хвалевых палёў рознай прыроды (аптычных, акустычных і інш.). Галаграфію вынайшаў (1948) і атрымаў першыя галаграмы (ГЛ) найпрасцейшых аб’ектаў Д.Габар. У 1962—63 амер. фізікі Э.Лэйтс і Ю.Упатніекс выкарысталі для атрымання ГЛ лазер, а сав. фізік Ю.М.Дзенісюк (1962) прапанаваў метад запісу аб’ёмных ГЛ. У 1960-я г. створаны тэарэт. і эксперым. асновы галаграфіі.

Аб’ёмны відарыс аб’екта фіксуецца на ГЛ у выглядзе інтэрферэнцыйнай карціны, створанай прадметнай хваляй (ПХ), адбітай ад аб’екта, і кагерэнтнай з ёй апорнай хваляй (АХ). У адрозненне ад фатаграфіі, дзе зафіксаваны відарыс аптычны, ГЛ дае прасторавае размеркаванне амплітуды і фазы ПХ. Паколькі ПХ не плоская, ГЛ мае структуру нерэгулярнай дыфракцыйнай рашоткі. Інфармацыя аб размеркаванні амплітуды ПХ запісваецца ў выглядзе кантрасту інтэрферэнцыйнай карціны, а фазы — у выглядзе формы і перыяду інтэрферэнцыйных палос (гл. Інтэрферэнцыя святла). Пры асвятленні галаграмы АХ у выніку дыфракцыі святла ўзнаўляецца амплітудна-фазавае размеркаванне поля ПХ. ГЛ пераўтварае частку АХ у копію ПХ, пры ўспрыманні якой вокам ствараецца ўражанне непасрэднага назірання аб’екта. Галаграфія мае шэраг спецыфічных уласцівасцей, адрозных ад фатаграфіі: ГЛ узнаўляе аб’ёмны (монахраматычны або каляровы) відарыс аб’екта, кожны ўчастак ГЛ дазваляе ўзнавіць увесь відарыс аб’екта, аб’ёмныя ГЛ Дзенісюка ўзнаўляюцца пры дапамозе звычайных крыніц святла (сонечнае асвятленне, лямпа напальвання), галаграфічны запіс мае вял. надзейнасць і інфарм. ёмістасць, што вызначае шырокі спектр практычнага выкарыстання галаграфіі: для атрымання аб’ёмных відарысаў твораў мастацтва, стварэння галаграфічнага кіно, для неразбуральнага кантролю формы складаных аб’ектаў, вывучэння неаднароднасцей матэрыялаў, захоўвання і апрацоўкі інфармацыі, для візуалізацыі акустычных і эл.-магн. палёў і інш.

На Беларусі даследаванні па галаграфіі пачаліся ў 1968 у Ін-це фізікі АН і праводзяцца ў ін-тах фіз. і фіз.-тэхн. профілю АН, БДУ і інш. Распрацаваны фіз. прынцыпы дынамічнай галаграфіі, развіты метады апрацоўкі інфармацыі і пераўтварэння прасторавай структуры лазерных пучкоў (П.А.Апанасевіч, А.А.Афанасьеў, Я.В.Івакін, А.С.Рубанаў, Б.І.Сцяпанаў і інш.). Створаны галаграфічныя метады для даследавання дэфармацый і вібрацый аб’ектаў, рэльефу паверхні, уласцівасцей плазмы, сістэмы аптычнай памяці (У.А.Піліповіч, А.А.Кавалёў, Л.В.Танін і інш.), развіты метады радыё- і акустычнай галаграфіі (П.Дз.Кухарчык, А.С.Ключнікаў, М.А.Вількоцкі).

Літ.:

Кольер Р., Беркхарт К., Лин Л. Оптическая голография: Пер. с англ. М., 1973;

Островский Ю.И. Голография и ее применение. Л., 1973;

Денисюк Ю.Н. Изобразительная голография // Наука и человечество, 1982. М., 1982;

Рубанов А.С. Некоторые вопросы динамической голографии // Проблемы современной оптики и спектроскопии. Мн., 1980.

А.С.Рубанаў.

т. 4, с. 446

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

МІ́НСКІ ЦАРКО́ЎНА-АРХЕАЛАГІ́ЧНЫ МУЗЕ́Й.

Існаваў у 1908—15 пры Мінскім царкоўным гісторыка-археалагічным камітэце. З 1909 музеем кіраваў А.К.Снітка. Экспазіцыя мела 1363 экспанаты (1910), сярод іх рэчы царк. даўніны, рэліг. культу, тэксты нар. песень, казак, паданняў, матэрыялы этнагр. экспедыцый, па гісторыі гербаў і пячатак, каля 500 стараж. манет, археал. знаходкі з раскопак пад Пінскам, Радашковічамі, Слуцкам, Туравам. Сярод збораў кніжнага фонду (каля 1900 тамоў, 1910) Апостал і Тыпікон (16 ст.), Мінея агульная (канец 17 ст.), Сінопсіс (18 ст.), архіў Слуцкага Троіцкага (Трайчанскага) манастыра. У музеі зберагалася частка калекцыі бел. археолага Г.Х.Татура. У пач. 1-й сусв. вайны экспанаты музея эвакуіраваны ў Разань (Расія). У 1922 вернутая частка фонду і 250 кніг трапілі ў царк. аддзел Бел. дзярж. музея, астатнія выданні кніжнага фонду перададзены дзярж. б-цы, архівы — цэнтр. архіву. Некаторыя рэчы, у т.л. рукапісы, зберагаюцца ў Нац. музеі гісторыі і культуры Беларусі.

Будынак музея пастаўлены на тэр. архірэйскага падвор’я ў 1913 у азнаменаванне 300-годдзя дома Раманавых (арх. В.Струеў). Быў задуманы як частка арх.-маст. комплексу духоўнай рэзідэнцыі Мінскай епархіі, якая ўключала пабудовы архірэйскага падвор’я і праектуемыя будынак музея і агароджу з цэнтр. парадным уваходам. Выкананы ў неарускім стылі. 2-павярховы прамавугольны ў плане цагляны будынак пастаўлены на высокі цокаль і накрыты вальмавым дахам. Гал. фасад асіметрычнай кампазіцыі. З усх. боку да яго прыбудавана круглая ў плане вежа, завершаная шлемападобным купалам. Сцены вежы, стылізаванай пад стараж. абарончую, былі прарэзаны байніцамі, верхняя ч. аформлена машыкулямі і геам. арнаментам. З зах. боку фасад фланкіраваны невял. квадратнай у плане вежачкай, прарэзанай неглыбокімі нішамі і завершанай высокім 4-гранным шатром. Гал. ўваход падкрэслены кілепадобным франтонам, упрыгожаным арнаментам. Фасады падзелены карнізным паяском, прарэзаны высокімі лучковымі аконнымі праёмамі, упрыгожанымі дэкар. паўкалонамі, 2- і 3-лопасцевымі аркамі, філёнгамі і інш. элементамі. Агароджа з цэнтр. парадным уваходам аддзяляла архірэйскае падвор’е ад Аляксандраўскага сквера. Цэнтр. парадны ўваход меў тыя ж арх. формы, што і будынак музея: высокія фланкіруючыя квадратныя ў плане слупы-вежачкі завяршаліся вастраверхімі шатровымі дахамі, карнізныя паяскі, што апяразвалі вежачкі, з простым. геам. арнаментам. Лучковая металічная арка была вырашана ў духу венскага мадэрна. Кованыя рашоткі, агароджа, вароты, брамы былі зроблены высокакваліфікаванымі мясц. кавалямі. У 1930-я г. агароджа знішчана. У 1915—20 у будынку размяшчаўся Народны дом, з 1963 — Дом работнікаў мастацтваў.

Літ.:

Записки Северо-Западного отдела имп. Русского географического общества. Кн. 1. Вильна, 1910;

Шыбека З.В., Шыбека С.Ф. Мінск: Старонкі жыцця дарэв. горада: Пер. з рус. Мн., 1994;

Чернатов В.М. Памятнік творческого содружества // Стр-во и архитектура Белоруссии. 1979. № 2.

А.С.Жмуроўскі, В.М.Чарнатаў (архітэктура).

Мінскі царкоўна-археалагічны музей. Здымак 1914.

т. 10, с. 453

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ЛА́ЗЕРНАЯ ТЭХНАЛО́ГІЯ,

сукупнасць тэхнал. прыёмаў і спосабаў апрацоўкі, змены ўласцівасцей, стану і формы матэрыялу або паўфабрыкату з дапамогай выпрамянення лазераў. Асн. аперацыі Л.т. звязаны з цеплавым дзеяннем лазернага выпрамянення (пераважна цвердацелых лазераў і газавых лазераў). Эфектыўнасць Л.т. абумоўлена высокай лакальнасцю і кароткачасовасцю ўздзеяння, вял. шчыльнасцю патоку энергіі ў зоне апрацоўкі, магчымасцю вядзення тэхнал. працэсаў у празрыстых асяроддзях (у вакууме, газе, вадкасці, цвёрдым целе). Выкарыстоўваецца ў мікраэлектроніцы і электравакуумнай тэхніцы, паліграфіі, машынабудаванні, у прам-сці буд. матэрыялаў для свідравання адтулін, рэзкі і скрайбіравання (нанясення малюнкаў на паверхню) плёнак і паўправадніковых пласцін, зваркі (гл. Лазерная зварка), загартоўкі, гравіроўкі, нарэзкі рэзістараў, рэтушы фоташаблонаў і інш.

Свідраванне адтулін звычайна робіцца імпульсным лазерам (працягласць імпульсу 0,1—1 мс) у любых матэрыялах (цвёрдых, крохкіх, тугаплаўкіх, радыеактыўных). Лазерам свідруюць алмазныя фільеры для валачэння дроту, стальныя і керамічныя фільеры для вытв-сці штучных валокнаў, рубінавыя камяні для гадзіннікаў, ферытавыя пласціны для запамінальных прыстасаванняў ЭВМ, дыяфрагмы электронна-прамянёвых прылад, керамічныя ізалятары, вырабы са звышцвёрдых сплаваў і інш. Лазерная рэзка вядзецца ў імпульсным і бесперапынным рэжыме, з падачай у зону рэзкі струменю газу (звычайна паветра або кіслароду). Выкарыстоўваецца для раздзялення дыэлектрычных і паўправадніковых падложак (таўшчынёй 0,3—1 мм), скрайбіравання паўправадніковых пласцін, рэзання крохкіх вырабаў са шкла, сіталу і пад. (метадам тэрмічнага расколвання) і інш. Фігурная апрацоўка паверхні — стварэнне мікрарэльефа на матэрыялах выпарэннем, тэрмаапрацоўкай, акісляльна-аднаўляльнымі і інш рэакцыямі, выкліканымі награваннем, тэрмастымуляванымі дыфузійнымі працэсамі. Выкарыстоўваецца ў мікраэлектроніцы, паліграфічнай прам-сці, пры апрацоўцы цвёрдых сплаваў, ювелірных камянёў і інш. У электроннай тэхніцы перспектыўныя кірункі Л.т.: паверхневы адпал паўправадніковых пласцін з мэтай узнаўлення структуры іх крышталічнай рашоткі пры іонным легіраванні, стварэнне актыўных структур на паверхні паўправаднікоў, атрыманне p-n-пераходаў метадам лакальнай дыфузіі з лазерным нагрэвам, нанясенне тонкіх метал. і дыэл. плёнак лазерным выпарэннем і інш. У фоталітаграфіі Л.т. выкарыстоўваюцца для вырабу звышмініяцюрных друкарскіх плат, інтэгральных схем, відарысаў і інш. элементаў мікраэлектроннай тэхнікі; у хім. і мікрабіял. вытв-сці — для селектыўнага стымулявання хім. і біял. актыўнасці малекул; у медыцыне — для лячэння скурных захворванняў, язваў страўніка, кішэчніка і інш. Магутныя (ад 1 кВт і вышэй) лазеры выкарыстоўваюцца для рэзкі і зваркі тоўстых стальных лістоў, паверхневай загартоўкі, наплаўлення і легіравання буйнагабарытных дэталей, ачысткі будынкаў ад паверхневых забруджванняў, рэзкі мармуру, граніту, раскрою тканіны, скуры і інш.

На Беларусі распрацоўкі па Л.т. вядуцца ў ін-тах Нац. АН (фізікі, малекулярнай і атамнай фізікі, фізіка-тэхнічным, прыкладной фізікі, фотабіялогіі і інш.), Ін-це прыкладных фіз. праблем БДУ, Гомельскім ун-це, у шэрагу галіновых НДІ.

Літ.:

Лазерная и электронно-лучевая обработка материалов. М., 1985;

Дьюли У. Лазерная технология и анализ материалов: Пер. с англ. М., 1986;

Промышленное применение лазеров: Пер. с англ. М., 1988.

В.В.Валяўка, В.К.Паўленка.

Да арт. Лазерная тэхналогія. А Схема лазернай рэзкі з тэлекантролем працэсу. 1 — дэталь, якая апрацоўваецца; 2 — прыстасаванне факусіроўкі лазернага праменя; 3 — лазер; 4 — замкнёная тэлевізійная сістэма; 5 — дысплей. Б. Схема станка з рубінавым лазерам для святлопрамянёвай апрацоўкі: 1 — імпульсная лямпа; 2 — кандэнсатар; 3 — паралельныя люстэркі; 4 — штучны рубін; 5 — лінза; 6 — выраб, які апрацоўваецца.

т. 9, с. 101

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)