Verbum

БРЭ́ГА—ВУ́ЛЬФА ЎМО́ВА,

вызначае напрамак узнікнення максімумаў інтэнсіўнасці пры дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў на крышталях; аснова рэнтгенаўскага структурнага аналізу. Устаноўлена ў 1913 незалежна У.Л.Брэгам і Г.В.Вульфам. Паводле Брэга—Вульфа ўмовы 2dsinΘ=mλ, дзе d — адлегласць паміж адбівальнымі (крышталеграфічнымі) плоскасцямі, Θ — вугал паміж праменем, што падае, і адбівальнай плоскасцю (брэгаўскі вугал), λ — даўжыня хвалі выпрамянення, m — цэлы дадатны лік (парадак адбіцця). Брэга—Вульфа ўмова дае магчымасць вызначыць велічыню d (λ звычайна вядома, вугал Θ вымяраецца эксперыментальна). Брэга—Вульфа ўмова выконваецца таксама пры дыфракцыі γ-выпрамянення, электронаў, нейтронаў на крышталях, эл.-магн. выпрамянення радыё- і аптычнага дыяпазонаў на перыядычных структурах, пры дыфракцыі светлавых хваляў на ультрагуку.

т. 3, с. 280

ВУЛЬФ (Георгій) (Юрый) Віктаравіч (22.6.1863, г. Нежын, Украіна — 25.12.1925),

рускі крышталёграф. Чл.-кар. АН СССР (1921). Скончыў Варшаўскі ун-т (1885). Праф. Казанскага (1897), Варшаўскага (1898) і Маскоўскага (1918) ун-таў. Вынайшаў графічны метад апрацоўкі вынікаў вымярэння крышталёў з дапамогай стэрэаграфічнай сеткі (названа яго імем). Даў новы спосаб вываду ўсіх груп сіметрыі крышталёў. Навук. працы ў галіне росту крышталёў, вывучэння вадкіх крышталёў і крышталяоптыкі. Упершыню ў Расіі паставіў дослед па рэнтгенаструктурных даследаваннях крышталёў. У 1913 адкрыў закон інтэрферэнцыі рэнтгенаўскіх прамянёў, адлюстраваных атамнымі плоскасцямі крышталёў, і незалежна ад У.Г.Брэга вывеў асн. формулу рэнтгенаструктурнага аналізу (гл. Брэга—Вульфа ўмовы).

т. 4, с. 294

ЛА́ЎЭ МЕ́ТАД,

метад даследавання монакрышталёў з дапамогай дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў. Выкарыстоўваецца для вызначэння прасторавай арыентацыі і рэальнай структуры монакрышталёў, іх пунктавай групы сіметрыі, змен крышталічнай структуры пад уздзеяннем т-ры, ціску, апрамянення і інш.

У Л.м. тонкі пучок рэнтгенаўскіх прамянёў неперарыўнага спектра падае на нерухомы монакрышталь. Рассеянае выпрамяненне ў напрамках, вызначаных паводле Брэга—Вульфа ўмоў, рэгіструецца на фотаплёнцы, размешчанай за крышталём, перпендыкулярна праменю; атрыманы відарыс наз. лаўэграмай (у выпадку вял. крышталёў плёнка размяшчаецца перад імі і лаўэграма наз. эпіграмай). Гл. таксама Рэнтгенаўскі структурны аналіз.

М.М.Аляхновіч.

т. 9, с. 163

БРЭГ (Bragg),

англійскія фізікі, бацька і сын. Заснавальнікі рэнтгена-структурнага аналізу. Упершыню выкарысталі дыфракцыю рэнтгенаўскіх прамянёў у крышталях для выяўлення характарыстык гэтых прамянёў і для расшыфроўкі структуры крышталёў (1913). Нобелеўская прэмія 1915.

Уільям Генры (2.7.1862, Уігтан, графства Камбрыя, Вялікабрытанія — 12.3.1942), член (1906) і прэзідэнт (1935—40) Лонданскага каралеўскага т-ва. Скончыў Кембрыджскі ун-т. З 1886 праф. Адэлаідскага ун-та ў Аўстраліі, з 1909 у Лідсе, з 1915 у Лондане. Аўтар шэрагу навук-папулярных кніг.

Уільям Лорэнс (31.3.1890, г. Адэлаіда, Аўстралія — 1.7.1971), член Лонданскага каралеўскага т-ва (1921). Вучыўся ў Адэлаідскім і Кембрыджскім ун-тах. У 1919—37 праф. ун-та ў Манчэстэры, 1937—38 дырэктар Нац. фіз. лабараторыі, 1954—66 дырэктар Каралеўскага ін-та ў Кембрыджы. У 1913 адначасова з Г.В.Вульфам даў ураўненне, якое звязвае вугал адхілення рэнтгенаўскіх прамянёў, рассеяных крышталём без змены даўжыні хвалі, з адлегласцю паміж суседнімі атамнымі плоскасцямі ў крышталі (гл. Брэга—Вульфа ўмовы), практычна ажыццявіў указаны У.Г.Брэгам спосаб вызначэння структур пры дапамозе радоў Фур’е, вызначыў структуры шматлікіх сілікатаў.

Тв.:

Рус. пер. — Рентгеновские лучи и строение кристаллов. М.; Л., 1929;

Дифракция электронов. Л., 1936.

т. 3, с. 280