геаметрычная фігура, утвораная двума прамянямі (старанамі вугла), якія выходзяць з аднаго пункта (вяршыні вугла). Кожны вугал з вяршыняй у цэнтры некаторай акружнасці (цэнтральны вугал) вызначае на акружнасці дугу, абмежаваную пунктамі перасячэння акружнасці са старанамі вугла, што дае магчымасць вымяраць вугал адпаведнымі ім дугамі. Адзінка вымярэння вугла — градус або радыян.
Вугал можна разглядаць і як фігуру, атрыманую вярчэннем фіксаванага праменя вакол пункта, з якога прамень выходзіць, да зададзенага становішча. У залежнасці ад напрамку вярчэння адрозніваюць дадатныя і адмоўныя вуглы. Пад вуглом паміж дзвюма крывымі, што перасякаюцца ў адным пункце, разумеюць вугал паміж датычнымі да крывых у гэтым пункце. Гл. таксама Вертыкальныя вуглы, Двухгранны вугал, Знешні вугал, Мнагагранны вугал, Сумежныя вуглы, Цялесны вугал.
Вугал: 1 — плоскі; 2 — цэнтральны; 3 — паміж дзвюма крывымі.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ДЭНСІТО́МЕТР (ад лац. densitas шчыльнасць + ...метр),
прылада для вымярэння аптычнай шчыльнасці праяўленых фатаграфічных матэрыялаў. Д. адрозніваюць паводле прынцыпу вымярэнняў (прамы адлік і метад параўнання), характару фотапрыёмніка (вока, фотаэлемент ці фотапамнажальнік), характару выхадных даных (нерэгістравальныя і аўтаматызаваныя рэгістравальныя прылады) і па велічыні вымеранага поля (уласна Д. і мікрафатометры).
Прынцып работы Д. заснаваны на Бугера—Ламберта—Бэра законе. У прыладах прамога адліку выкарыстоўваецца 1 светлавы пучок, зыходная інтэнсіўнасць якога параўноўваецца з інтэнсіўнасцю пучка, што прайшоў праз фотаслой. Прылады, якія працуюць на прынцыпе параўнання, маюць 2 пучкі (вымяральны і параўнання) ад адной крыніцы святла, што паступаюць на 2 фотапрыёмнікі (ці па чарзе на 1). Рознасны сігнал даводзяць да нулявога ўзроўню з дапамогай пераменнага аслабляльніка святла, калібраванага па значэннях аптычнай шчыльнасці.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ДАКЛА́ДНАСЦЬ,
ступень прыбліжэння сапраўднага значэння параметраў працэсу, прадмета, рэчыва да іх тэарэт. намінальнага значэння.
Д. апрацоўкі — ступень прыбліжэння формы, памераў і становішча апрацаванай паверхні дэталі да патрабаванняў чарцяжа і тэхн. умоў. Вызначаецца квалітэтам. Д. вымярэнняў — характарыстыка вымярэнняў, якая паказвае ступень блізкасці да нуля хібнасці вымярэнняў. Лікава выражаецца значэннем, адваротным модулю адноснай хібнасці (АХ) вымярэння. Напр., пры АХ, роўнай 2% (або 0,02), Д. вымярэнняў роўная 1/0,02 = 50. Д. меры і вымяральнай прылады — ступень блізкасці значэнняў меры або паказання прылады да сапраўднага значэння велічыні, якая ўзнаўляецца мерай або вымяраецца прыладай (гл.Класы дакладнасці). Д. лічбавай вымяральнай машыны характарызуецца значэннем макс. хібнасці выніку вылічэнняў. Павышаецца зменай метаду вылічэнняў (павелічэннем ліку аперацый, зменай іх парадку і г.д.) або ўвядзеннем аперацый з лікамі павялічанай разраднасці.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ІНДУКТЫ́ЎНАСЦІ ВЫМЯРА́ЛЬНІК,
прылада для вымярэнняіндуктыўнасці вагальных контураў, абмотак трансфарматараў і дроселяў, шпуль індуктыўнасці і інш.Найб. пашыраныя І.в., прынцып дзеяння якіх заснаваны на метадах «вальтметра-амперметра», маставым і рэзанансным. Выкарыстоўваецца ў інфарм.-вымяральных сістэмах, аўтаматызаваных сістэмах кантролю і інш.
І.в., заснаваныя на метадзе «вальтметра-амперметра», выкарыстоўваюцца для ўскосных вымярэнняў параўнальна вял. індуктыўнасцей (больш за 0,1 Гн) з малым амічным супраціўленнем. Індуктыўнасць вызначаецца на аснове Ома закона для пераменнага току (гл.Індуктыўнае супраціўленне). У маставых І.в. асн. элемент — мост вымяральны пераменнага току, які мае ўзорныя ёмістасці (найчасцей) ці шпулі індуктыўнасці. Пры ўраўнаважванні моста вызначаюцца амічнае супраціўленне і індуктыўнасць. Рэзанансныя метады заснаваны на выкарыстанні рэзанансных уласцівасцей вагальнага контуру, утворанага дадзенай індуктыўнасцю і ўзорнай ёмістасцю (гл.Дыхтоўнасці вымяральнік).
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ІНФРАЧЫРВО́НАЯ ТЭ́ХНІКА,
галіна прыкладной фізікі і тэхнікі, што ўключае распрацоўку і выкарыстанне ў навук. даследаваннях, вытв-сці і ваен. справе прылад і прыстасаванняў, прынцып дзеяння якіх засн. на выкарыстанні інфрачырвонага выпрамянення. Такія прылады бываюць актыўныя (маюць уласныя штучныя крыніцы выпрамянення) і пасіўныя (выкарыстоўваюць натуральныя крыніцы выпрамянення).
Да І.т. адносяць распрацоўку і стварэнне прыёмнікаў і крыніц інфрачырвонага выпрамянення, святлафільтраў (гл.Дысперсійныя фільтры), матэрыялаў, празрыстых у інфрачырвонай вобласці, прылад для вывучэння спектраў паглынання і выпрамянення (гл.Інфрачырвоная спектраскапія), прылад для назірання (гл.Электронна-аптычныя пераўтваральнікі) і фатаграфавання ў цемнаце, дыстанцыйнага вымярэння т-ры нагрэтых цел па іх цеплавым выпрамяненні (гл.Балометр, Пірометр), сушкі драўніны і лакафарбавых пакрыццяў, дыягностыкі захворванняў, скрытай сігналізацыі, зямной і касм. сувязі і інш.Гл. таксама Інфрачырвоная дэфектаскапія.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
КАМПЕНСАЦЫ́ЙНЫ МЕ́ТАД ВЫМЯРЭ́ННЯЎ,
метад, заснаваны на кампенсацыі (ураўноўванні) напружання (эрс), якое вымяраецца, напружаннем, што ствараецца на вядомым супраціўленні токам ад дапаможнай крыніцы. Рабочы ток устанаўліваюць па нармальным элеменце з вядомай эрс. К.м.в. выкарыстоўваюць для вымярэння розных эл. велічынь (эрс, напружанняў, токаў, супраціўленняў), а таксама інш.фіз. велічынь (мех., светлавых, т-ры і інш.), якія папярэдне пераўтвараюць у эл. велічыні.
Пры К.м.в. выніковы эфект уздзеяння велічынь, што вымяраюцца, на прыладу параўнання (нулявую прыладу) даводзяць да нуля (гл.Нулявы метад вымярэнняў). К.м.в. вызначаецца высокай дакладнасцю, якая залежыць ад адчувальнасці нулявой прылады. Электравымяральныя прылады, заснаваныя на К.м.в., наз.патэнцыёметрамі або электравымяральнымі кампенсатарамі.
Літ.:
Электрические измерения. 5 изд. Л., 1980;
Электрические измерения. М., 1985;
Справочник по электроизмерительным приборам. 3 изд. Л., 1983.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ЛІ́КАВАЯ ПРАМА́Я, лікавая вось,
прамая, на якой адлюстраваны сапраўдныя лікі. Кожны такі лік адлюстроўваецца пунктам на Л.п. і тым самым устанаўліваецца ўзаемна адназначная адпаведнасць паміж мноствам сапраўдных лікаў і мноствам пунктаў на Л.п.
На прамой выбіраюць пункт O (пачатак адліку) і з правага боку ад яго — пункт E (адзінкавы пункт), адрэзак OEназ. маштабным (адзінкавым) адрэзкам. Яго даўжыня прымаецца за адзінку вымярэння даўжынь усіх адрэзкаў Л.п. Напрамак ад O да E лічыцца дадатным, ад E да O — адмоўным. Дадатны сапраўдны лік a адлюстроўваецца адрэзкам OA, узятым у дадатным напрамку і даўжыня якога роўная a адзінкавых адрэзкаў. Калі пункт A з’яўляецца адлюстраваннем ліку a, то лік aназ. дэкартавай каардынатай (ці каардынатай) пункта A.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ПАЛЯРЫЗАЦЫ́ЙНЫЯ ПРЫЛА́ДЫ,
аптычныя прыстасаванні для атрымання, выяўлення, пераўтварэння і аналізу палярызаванага святла, а таксама для розных даследаванняў і вымярэнняў. Прынцып дзеяння П.п. заснаваны на змене стану палярызацыі святла, якое праз іх праходзіць або адбіваецца.
Асн. элементы П.п. — палярызатар, аналізатар, падвойнапераламляльныя пласцінкі, фазавыя і аптычныя кампенсатары. Адрозніваюць палярыметры (ценявыя і паўценявыя; выкарыстоўваюцца для вымярэння вуглоў вярчэння плоскасці палярызацыі, а таксама для вызначэння ступені палярызацыі часткова палярызаванага святла), палярыскопы (для даследаванняў мех. напружанняў у матэрыялах; гл.Фотапругкасць, Палярызацыйна-аптычны метад даследаванняў), палярызацыйныя мікраскопы (для вывучэння крышталяў), палярызацыйныя фатометры (для рэгулявання інтэнсіўнасці светлавога патоку). У спалучэнні са спектральнымі прыладамі П.п. выкарыстоўваюцца ў спектрапалярыметрыі для вывучэння ступені палярызацыі святла пры люмінесцэнцыі, паглынанні і адбіцці святла, а таксама аптычнай актыўнасці рэчыва.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ПУЗЫРКО́ВАЯ КА́МЕРА,
прылада для рэгістрацыі слядоў (трэкаў) зараджаных часціц высокіх энергій. Прынцып дзеяння заснаваны на закіпанні перагрэтай вадкасці ў наваколлі траекторыі часціцы. Выкарыстоўваецца для рэгістрацыі актаў узаемадзеяння часціц з ядрамі вадкасці або па прадуктах іх распаду на інш. часціцы. Вынайдзена амер. вучоным Д.Глезерам (1952).
Для вымярэння імпульсаў зараджаных часціц П.к. змяшчаюць у магн. поле. Пераграванне вадкасці ажыццяўляецца хуткім змяншэннем ціску ад пачатковага (раўнаважнага) значэння. Пры праходжанні зараджанай часціцы праз такую вадкасць уздоўж яе следу ўтвараюцца «зародкавыя» цэнтры кіпення.
Рабочая вадкасць П.к. — вадарод, у т. л. ў сумесі з неонам, прапан, фрэон, ксенон і інш.
Узаемадзеянне К−-мезона ў вадкавадароднай пузырковай камеры з пратонамі, у выніку якога нараджаюцца часціцы Σ+, K+, π+, π−, K0, якія распадаюцца на π+- і π−-мезоны.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
біт1
[англ. bit, ад bi(nary) (digi)t = дваісты знак]
інф. адзінка вымярэння колькасці інфармацыі ў дваічнай сістэме злічэння; адпавядае інфармацыі, якую атрымліваюць пры ажыццяўленні адной з дзвюх роўнаверагодных падзей.
Слоўнік іншамоўных слоў. Актуальная лексіка (А. Булыка, 2005, правапіс да 2008 г.)
