Verbum

МАМЛЮ́КІ, мамелюкі (араб. белыя рабы, нявольнікі),

воіны-рабы пераважна з цюркаў, а таксама закаўказскіх народаў, з якіх была сфарміравана гвардыя правіцеляў дынастыі Айюбідаў (1171—1250). Налічвалі 9—12 тыс. чал., паводле інш. крыніц — да 24 тыс. чал. У 1250 М. скінулі Айюбідаў і захапілі ўладу. Вядомы 2 дынастыі М.: Бахры (пераважна цюркскага паходжання, кіравалі ў 1250—1390) і Бурджы (пераважна выхадцы з Каўказа, кіравалі ў 1390—1517). Пры М. у 13—14 ст. рэарганізавана сістэма кіравання, палепшана якасць штучнага арашэння, пачаўся ўздым культуры і інш. У 2-й пал. 13 ст. М. разбілі манголаў, ліквідавалі апошнія заваёвы крыжакоў у Палесціне і Сірыі. У 1517 дзяржаву М. заваявалі туркі і ўключылі ў склад Асманскай імперыі, але іх улада была намінальнай. У час аслаблення Асманскай імперыі (канец 17 — пач. 18 ст.) М. фактычна аднавілі сваю ўладу ў Егіпце. Канчаткова панаванне М. ліквідавана ў пач. 19 ст. егіп. пашой Мухамедам Алі.

Літ.:

История стран зарубежной Азии в средние века. Гл. 23. М., 1970;

Семенова Л.А. Салахад-дин и мамлюки в Египте. М., 1966.

т. 10, с. 54

МЕДЫЦЫ́НСКАЯ АДУКА́ЦЫЯ,

сістэма падрыхтоўкі і павышэння кваліфікацыі мед. кадраў. Падрыхтоўка мед. персаналу вышэйшай адукацыі праводзіцца ў медыцынскіх інстытутах, мед. акадэміях, на мед. ф-тах ун-таў; сярэдняй адукацыі — у медыцынскіх вучылішчах; павышэнне кваліфікацыі — у ін-тах удасканалення ўрачоў.

Звесткі пра М.а. вядомы з стараж. часоў (Стараж. Егіпет, Кітай, Грэцыя). У ант. Грэцыі існавалі «сямейныя» школы для падрыхтоўкі ўрачоў. Першая свецкая мед. школа заснавана ў г. Салерна (Італія) у 9 ст. У Расіі ў 1654 адкрыта першая школа для падрыхтоўкі лекараў. З 18 ст. ўрачоў рыхтавалі мед. школы пры шпіталях. У 1755 адкрыты мед. ф-т пры Маскоўскім ун-це, у 1798 у Пецярбургу — Медыка-хірург. акадэмія (з 1881 Ваенна-мед. акадэмія).

На Беларусі першая мед. навуч. ўстанова — Гродзенская медыцынская акадэмія (1775—81). У 1865 засн. Магілёўская цэнтральная школа павітух, у 1872—79 існавала Віцебская фельчарская школа. Працуюць (1999): Віцебскі, Гомельскі, Гродзенскі, Мінскі мед. ін-ты (гл. адпаведныя арт.), удасканалення ўрачоў Беларускі інстытут; мед. работнікаў сярэдняй адукацыі рыхтуюць у 17 мед. вучылішчах.

Э.​А.​Вальчук.

т. 10, с. 254

МЕХАТРО́НІКА [ад меха(ніка) + (элек)троніка],

галіна навукі і тэхнікі, якая аб’ядноўвае дасягненні механікі, мікраэлектронікі, інфарматыкі і найноўшых тэхналогій для пабудавання складаных аўтам. сістэм. Узнікла ў 1980-я г. ў Японіі. Асн. мэта — камп’ютэрызацыя вытв-сці. Механізмы М. спалучаюць хуткадзеянне логіка-выліч. аперацый камп’ютэра з сілавымі характарыстыкамі мех. выканаўчых органаў машын і механізмаў. Машына (напр., аўтамабіль, робат, гібкі вытворчы модуль), прылада ці інш. тэхн. сістэма пры аснашчэнні мікракамп’ютэрам набывае «інтэлект».

Адзін з асн. прыкладных аспектаў М. — робататэхніка. У М. атрымалі далейшае развіццё ідэі кібернетыкі аб запазычанні ў жывой прыроды кіроўных рухальных і лагічных функцый пры стварэнні складаных тэхн. сістэм. Мехатронныя сістэмы ўтвараюць непадзельнае адзінства мех. і электронных вузлоў, дзе ажыццяўляецца абмен энергіяй і інфармацыяй, а праграмнае забеспячэнне мікра-ЭВМ рэалізуе арыгінальныя алгарытмы кіравання, адаптацыі, сачэння і інш. Тыповыя прадукты М. — механізмы прыводу (драйверы) дыскаводаў ЭВМ, прыводу кампакт-дыскаў, счытвальных прылад, відэатэхнікі.

На Беларусі работы па праблемах М. вядуцца ў Нац. АН (НДА «Кібернетыка», Навук. цэнтр праблем механікі машын), БПА, Бел. ун-це інфарматыкі і радыёэлектронікі і інш.

Літ.:

Мехатроника: Пер. с яп. М., 1988.

А.​І.​Дабралюбаў.

т. 10, с. 323

МІЖНАРО́ДНЫЯ МЕТРАЛАГІ́ЧНЫЯ АРГАНІЗА́ЦЫІ,

арганізацыі, створаныя на аснове міжнар. пагадненняў для ажыццяўлення і захоўвання эталонаў асн. адзінак фізічных велічынь і забеспячэння міжнар. адзінства мер і вымярэнняў. У адпаведнасці з Метрычнай канвенцыяй (падпісана ў 1875 у Парыжы 17 дзяржавамі) Генеральныя канферэнцыі па мерах і вазе склікаюцца не менш як 1 раз у 6 гадоў і з’яўляюцца найвышэйшым органам па ўстанаўленні адзінак фіз. велічынь.

Першая Ген. канферэнцыя адбылася ў 1889. Работу па падрыхтоўцы рашэнняў канферэнцый вядзе Міжнародны камітэт мер і вагі, пры якім працуюць 7 кансультатыўных камітэтаў (па электрычнасці, фота- і радыёметрыі, тэрмаметрыі, па вызначэнні метра, секунды, па эталонах для вымярэння іанізуючых выпрамяненняў, па адзінках). Ён таксама кіруе работай Міжнароднага бюро мер і вагі — міжнар. навуковай метралагічнай арг-цыі, створанай у 1875 (г. Сеўр, Францыя). У 1956 створана Міжнародная арганізацыя па заканадаўчай метралогіі, якая распрацоўвае мерапрыемствы па ліквідацыі перашкод у міжнар. гандл. і навук-тэхн. супрацоўніцтве, выкліканых няўзгодненасцю нарматыўных дакументаў розных краін. Пытанні метралогіі вывучаюць Міжнар. электратэхн. камісія (засн. ў 1906), Міжнар. арг-цыя па стандартызацыі (засн. ў 1947) і інш. Гл. таксама Метрычная сістэма мер.

У.​Л.​Саламаха.

т. 10, с. 346

ПРАГРА́МНАЕ ЗАБЕСПЯЧЭ́ННЕ ЭВМ,

сукупнасць праграм і праграмных дакументаў, неабходных для аўтаматызаванай наладкі праграм і рашэння прыкладных задач на ЭВМ. Забяспечвае рэалізацыю функцый ЭВМ і вылічальнай сістэмы. Кампаненты П.з. садзейнічаюць эфектыўнаму функцыянаванню тэхн. сродкаў і абслугоўваюць карыстальнікаў выліч. сістэм. Найважн. кампаненты П.з.: аперацыйная сістэма, пакеты прыкладных праграм, бібліятэкі стандартных праграм, комплексы праграм тэхн. абслугоўвання.

Адрозніваюць П.з. базавае (сістэмнае) і прыкладное. Базавае П.з. ўключае праграмы універсальнага карыстання (тэкставыя рэдактары, сродкі машыннай графікі, узаемадзеянне з камп’ютэрнымі сеткамі і WEB-дызайну (гл. Інтэрнет), праграмы апрацоўкі каманд карыстальніка] і праграмы аўтаматызацыі праграмавання (сістэмы аперацыйная, праграмавання і наладкі, кіравання базамі даных). З мэтай выкарыстання існуючага П.з. распрацоўваюцца праграмна-сумяшчальныя сем’і ЭВМ. Найб. пашыраныя і адпрацаваныя кампаненты базавага П.з. рэалізуюцца апаратна і ў выглядзе мікрапраграм. Прыкладное П.з. арыентавана на рашэнне канкрэтных задач: аўтаматызаванае праектаванне, распазнаванне вобразаў і апрацоўка відарысаў, кіраванне вытворчасцю, тэхнал. працэсамі.

На Беларусі П.з. распрацоўваецца з пачатку 1960-х г. на Мінскім заводзе ЭВМ, у НДІ ЭВМ, Ін-тах матэматыкі і тэхн. кібернетыкі Нац. АН, БДУ, Бел. ун-це інфарматыкі і радыёэлектронікі і інш.

С.​У.​Абламейка.

т. 12, с. 534

ПРЫЕ́НА (Priēnē),

старажытнагрэчаскі горад на р. Меандр, на мысе Мікале ў М. Азіі. Засн. ў сярэдзіне 11 ст. да н.э.; уваходзіла ў саюз 12 іанійскіх гарадоў. У канцы 6 ст. да н.э. трапіла пад уладу Персіі. У 5 ст. да н.э. ў Складзе Дэлоскага саюза, потым — дзяржавы Аляксандра Македонскага. У 3—2 ст. да н.э. належала Селеўкідам, пазней увайшла ў Пергамскае царства, потым — правінцыяльны горад Рым. імперыі і Візантыі. Росквіту дасягнула ў 4—1 ст. да н.э., калі была буйным гандл. і рамесніцкім цэнтрам.

П. мела прамавугольную сетку вуліц (сістэма Гіпадама). Падоўжныя вуліцы ішлі ўступамі; іх перасякалі 16 папярочных вуліц-лесвіц, што вялі ад падэшвы да вяршыні г. Мікале і падзялялі П. на роўныя прамавугольныя кварталы. У час раскопак адкрыты руіны будынкаў 4—2 ст. да н.э., размешчаных на тэрасах і ўмацаваных падпорнымі сценамі, у т. л. храмы Афіны (4 ст. да н.э., арх. Піфей) і Зеўса, эклесіястэрый (зала пасяджэнняў нар. сходу), тэатр, стадыён, 2 гімнасіі, рынкі, жылыя дамы перыстыльнага тыпу.

т. 13, с. 65

РАЗДЗЯЛЯ́ЛЬНАЯ ЗДО́ЛЬНАСЦЬ,

здольнасць сістэм, прылад і фотаматэрыялаў адрозніваць (узнаўляць) блізкія ў прасторы, часе ці па фіз. уласцівасцях аб’екты ці працэсы; колькасная мера такой здольнасці.

Р.з. аптычных сістэм — здольнасць аптычных сістэм даваць раздзельны відарыс двух блізкіх адзін ад аднаго пунктаў прадмета. З-за дыфракцыі святла аптычная сістэма адлюстроўвае святлівы пункт у выглядзе светлай плямы, абкружанай папераменна цёмнымі і светлымі кольцамі. Паводле крытэрыя У.Рэлея, 2 дыфракцыйныя плямы, адпаведныя відарысам пунктаў аднолькавай яркасці, лічацца раздзельнымі, калі светлы цэнтр адной з іх прыпадае на сярэдзіну першага цёмнага кольца суседняй. Р.з. спектральнай прылады — здольнасць такой прылады ўзнаўляць 2 спектральныя лініі з блізкімі даўжынямі хваль. Паводле крытэрыя Дж.​Рэлея такія лініі раздзяляюцца, калі адлегласць паміж максімумамі іх інтэнсіўнасцей не меншая за шырыню ліній. Р.з. фотаматэрыялаў — уласцівасць матэрыялу раздзельна ўзнаўляць у фотаматэрыяле дробныя суседнія дэталі аб’екта. Абумоўлена ступенню дысперснасці святлоадчувальных кампанентаў фотаслоя, залежыць ад кантрасту аптычнага відарыса, спектральнага складу аптычнага выпрамянення, часу асвятлення (экспазіцыі), умоў праяўлення і інш. Вызначаецца найб. колькасцю паралельных ліній на 1 мм фотавідарыса штрыхавой міры, якія бачныя паасобку ў мікраскопе.

т. 13, с. 257