Verbum

ГАЎС ((Gauß) Карл Фрыдрых) (30.4.1777, г. Браўншвайг, Германія — 23.11.1855),

нямецкі матэматык, астраном і фізік. Чл. Лонданскага каралеўскага т-ва (1804), акад. Парыжскай (1820) і Пецярбургскай (1824) АН. Вучыўся ў Гётынгенгскім ун-це (1795—98), з 1807 праф. і дырэктар астр. абсерваторыі гэтага ун-та. Навук. працы па матэматыцы, астраноміі, фізіцы і геадэзіі. Даказаў асн. тэарэму алгебры пра існаванне хоць бы аднаго кораня ва ўсякім алгебраічным ураўненні, прапанаваў метад вылічэння эліптычнай арбіты нябеснага цела Сонечнай сістэмы па трох назіраннях. У 1832 стварыў абс. сістэму адзінак (міліметр, міліграм, секунда), разам з В.​Веберам пабудаваў першы ў Германіі эл.-магн. тэлеграф (1833). Вывучаў зямны магнетызм, распрацаваў тэорыю патэнцыялу і сфармуляваў асн. тэарэму электрастатыкі (гл. Гаўса тэарэма). Заклаў матэм. асновы вышэйшай геадэзіі, прапанаваў найменшых квадратаў метад. Распрацаваў тэорыю пабудовы відарысаў у складаных аптычных сістэмах (1840), выказаў думку пра канечнасць скорасці распаўсюджвання эл.-магн. узаемадзеянняў, прыйшоў да высновы аб магчымасці існавання нееўклідавай геаметрыі.

Тв.:

Рус. пер. — Избр. тр. по земному магнетизму. Л., 1952.

Літ.:

Карл Фридрих Гаус. М., 1956.

т. 5, с. 92

ДЫЯФРА́ГМА,

дэталь машын, прылад, апаратаў, збудаванняў у выглядзе сценкі або пласціны (з адтулінай ці суцэльная). У некаторых прыладах Д. наз. мембранай. 1) Д. вымяральная — дыск з адтулінай; адно са стандартных звужвальных прыстасаванняў. Выкарыстоўваецца пры вымярэнні расходу вадкасцей, газаў і пары, якія працякаюць па трубаправодзе.

2) Д. канструкцыі — суцэльны або рашотчаты элемент прасторавай канструкцыі для павелічэння яе жорсткасці. Выкарыстоўваецца ў танкасценных канструкцыях, каркасна- і буйнапанэльных збудаваннях і інш. 3) Д. плаціны — проціфільтрацыйная верт. сценка ўнутры цела земляной ці каменна-накідной плаціны. Вырабляецца з бетону, жалезабетону, металу, пластмас або драўніны.

4) Д. ў оптыцы — элемент аптычнай сістэмы ў выглядзе перагародкі, якая абмяжоўвае папярочнае сячэнне светлавых пучкоў. Вызначае апертуру, поле зроку, глыбіню рэзка адлюстраванай прасторы і інш., уплывае на аберацыі аптычных сістэм і раздзяляльную здольнасць сістэмы. Адрозніваюць Д. апертурную (вызначае памеры светлавых пучкоў, што праходзяць праз сістэму) і палявую (памеры прасторы прадметаў, што адлюстроўваюцца сістэмай). Д. перад аб’ектывам кіна- ці фотаапарата наз. святлоахоўнай блендай.

т. 6, с. 319

ПАВЕЛІЧЭ́ННЕ АПТЫ́ЧНАЕ,

адносіны лінейных ці вуглавых памераў відарыса аптычнага, атрыманага з дапамогай аптычнай сістэмы, да адпаведных памераў аб’екта.

Для восесіметрычных аптычных сістэм адрозніваюць лінейнае, вуглавое і падоўжнае П.а. Лінейнае (папярочнае) П.а. — адносіны даўжыні відарыса адрэзка, перпендыкулярнага аптычнай восі сістэмы, да даўжыні гэтага адрэзка. Для рэальных сістэм лінейнае П.а. для спалучальных паверхняў рознае ў розных пунктах поля зроку, што вядзе да парушэнняў геам. падобнасці паміж аб’ектам і яго відарысам (гл. Дысторсія). Вуглавое П.а. — адносіны тангенса вугла нахілу праменя да аптычнай восі ў прасторы відарысаў да тангенса вугла нахілу спалучанага яму праменя ў прасторы аб’ектаў. Падоўжнае П.а. — адносіны даўжыні адрэзка, адкладзенага ўздоўж аптычнай восі ў прасторы відарысаў, да даўжыні спалучальнага яму адрэзка ў прасторы аб’ектаў. Усе віды П.а. ўзаемазвязаны. Напр., для аптычнай сістэмы, якая знаходзіцца ў паветры, вуглавое павелічэнне адваротна прапарцыянальнае лінейнаму (чым большае лінейнае павелічэнне, тым больш вузкімі светлымі пучкамі будуецца відарыс і тым меншая яго асветленасць).

т. 11, с. 464

ПІЛІПО́ВІЧ (Уладзімір Антонавіч) (н. 5.1.1931, в. Слабада Мазырскага р-на Гомельскай вобл.),

бел. фізік. Акад. Нац. АН (1980; чл.-кар. 1977). Д-р фіз,матэм. н. (1972), праф. (1977). Засл. дз. нав. Беларусі (1978). Скончыў БДУ (1954). З 1967 у Ін-це фізікі, з 1971 заг. Лабараторыі электронікі, з 1973 у Ін-це электронікі Нац. АН Беларусі (да 1998 дырэктар). Адначасова ў 1983—87 гал. вучоны сакратар Прэзідыума Нац. АН Беларусі. Навук. працы па даследаваннях цвердацельных аптычных квантавых генератараў, імпульсных мадулятараў дыхтоўнасці рэзанатараў, узаемадзеянні магутнага выпрамянення з кандэнсаванымі асяроддзямі. Прапанаваў метады вызначэння страт выпрамянення ў працэсе генерацыі, устанавіў сувязь параметраў вымушанага выпрамянення з уласцівасцямі малекул фотатропных асяроддзяў. Распрацаваў галаграфічнае запамінальнае прыстасаванне і інш. Дзярж. прэмія СССР 1985. Дзярж. прэмія Беларусі 1996.

Тв.:

Оптические квантовые генераторы с просветляющимися фильтрами. Мн., 1975 (разам з А.​А.​Кавалёвым);

Фотоэлектрические преобразователи в системах оптической обработки информации. Мн., 1990 (разам з А.​К.​Есманам, А.​А.​Візнерам);

Многоэлементные фотоприемники в преобразователях перемещений. Мн., 1991 (разам з А.​К.​Есманам, В.​С.​Паседзькам).

т. 12, с. 357

РЭ́ЛЕЙ, Рэйлі (Rayleigh) Джон Уільям (12.11.1842, каля г. Малдан, Вялікабрытанія — 30.6.1919), англійскі фізік, адзін са стваральнікаў тэорыі ваганняў. Чл. Лонданскага каралеўскага т-ва (1873). Прозвішча да атрымання тытула лорда Рэлея (1873) — Стрэт (Strutt). Скончыў Кембрыджскі ун-т (1865), дзе і працаваў да 1871. У 1879—84 дырэктар Кавендышскай лабараторыі. У 1905—08 прэзідэнт Лонданскага каралеўскага т-ва. Навук. працы па акустыцы, оптыцы, гідрадынаміцы, электрамагнетызме і інш. Даследаваў дыфракцыю, рассеянне і паглынанне мех. хваль, устанавіў сувязь паміж фазавай і групавой скорасцю хваль. Заклаў асновы малекулярнага рассеяння святла (гл. Рэлея закон), вывеў адзін з законаў выпрамянення (гл. Рэлея—Джынса закон выпрамянення), устанавіў закон намагнічвання цел (гл. Рэлея закон намагнічвання). Стварыў тэорыю раздзяляльнай здольнасці аптычных прылад. Адкрыў (з У.Рамзаем) хім. элемент — аргон. Сканструяваў і вынайшаў шэраг фіз. прылад (дыск Р., манометр Р., рэфрактометр Р. і інш.). Нобелеўская прэмія 1904.

Тв.:

Рус. пер. — Волновая теория света. М.; Л., 1940;

Теория звука. Т. 1—2. 2 изд. М., 1955.

Літ.:

Льоцци М. История физики: Пер с итал. М., 1970.

т. 14, с. 5

РЭФЛЕ́КТАР (ад лац. reflecto адбіваю),

1) у тэхніцы — адбівальнік, прылада для змены кірунку эл.-магн., светлавых ці гукавых хваль. Складаецца з аднаго або некалькіх люстраў, якія забяспечваюць амаль поўнае адбіццё хваль, што падаюць на іх (шурпатасці адбівальнай паверхні меншыя за даўжыню хвалі). Для канцэнтрацыі адбітых хваль паверхня люстраў увагнутая (сферычная, парабалічная і г.д.). Выкарыстоўваецца ў акустыцы, астраноміі, радыётэхніцы (антэны), быце.

2) У астраноміі — тэлескоп з люстраным аб’ектывам. Відарысы свяціл (зорак, планет, Сонца і інш.), якія ствараюцца гал. увагнутым люстрам і сістэмай дапаможных люстраў (выпуклых ці плоскіх), разглядаюць у акуляр, фатаграфуюць ці рэгіструюць інш. святлопрыёмнікамі. Адрозніваюць некалькі тыпаў Р. У параўнанні з рэфрактарам у Р. адсутнічае храматычная і меншыя астаткавыя аберацыі (гл. Аберацыі аптычных сістэм). Самы вялікі ў свеце Р. знаходзіцца ў Спец. астр. абсерваторыі Рас. АН на Паўн. Каўказе (дыяметр гал. люстра 6 м).

Літ.:

Максутов Д.Д. Астрономическая оптика. 2 изд. Л., 1979.

Я.​У.​Чайкоўскі.

т. 14, с. 32

АПТЫ́ЧНЫ РЭЗАНА́ТАР,

сістэма люстраных адбівальных паверхняў, у якой узбуджаюцца і падтрымліваюцца стаячыя ці бягучыя электрамагнітныя хвалі аптычнага дыяпазону. У адрозненне ад аб’ёмнага рэзанатара аптычны з’яўляецца адкрытым (няма бакавых сценак). Аптычны рэзанатар — адзін з важнейшых элементаў лазера. Асн. характарыстыка аптычнага рэзанатара — дыхтоўнасць (вызначае страты светлавой энергіі і характарызуе рэзанансныя ўласцівасці).

Прасцейшы аптычны рэзанатар — інтэрферометр Фабры—Перо, які складаецца з 2 плоскіх строга паралельных люстэркаў, што знаходзяцца на адлегласці L, значна большай за даўжыню хвалі λ. Калі паміж люстэркамі ўздоўж восі рэзанатара распаўсюджваецца плоская светлавая хваля, то ў выніку адбіцця ад люстэркаў і інтэрферэнцыі адбітых хваляў утвараецца стаячая хваля. Умова рэзанансу: L = q∙λ/2. дзе q — падоўжны індэкс ваганняў (колькасць паўхваляў, што ўкладаюцца ўздоўж восі аптычнага рэзанатара). У лазернай тэхніцы выкарыстоўваюцца канфакальныя рэзанатары, утвораныя сферычнымі люстэркамі, якія разнесены на адлегласць, роўную радыусу іх крывізны, а таксама кальцавыя аптычныя рэзанатары, што складаюцца з 3 і болей плоскіх або сферычных люстэркаў. У аптычным рэзанатары са сферычнымі люстэркамі ўзбуджаюцца таксама незалежныя бягучыя насустрач адна адной хвалі.

Літ.:

Ананьев Ю.А. Оптические резонаторы и проблема расходимости лазерного излучения. М., 1979.

В.​В.​Валяўка.

т. 1, с. 439

КРЫШТАЛЯО́ПТЫКА,

раздзел оптыкі, які вывучае законы распаўсюджвання святла ў крышталях. Метадамі К., шырока даследуюцца мінералы, горныя пароды і інш. крышталічныя рэчывы (напр., гл. Палярызацыйна-аптычны метад даследаванняў).

Адна з асаблівасцей крышталяў — аптычная анізатрапія, з-за якой іх аптычныя ўласцівасці (паказчыкі пераламлення, аптычная актыўнасць, паглынальная здольнасць) розныя па розных напрамках. Гэта выяўляецца ў падвойным праменепраламленні, дыхраізме і інш. з’явах. У макраскапічнай К. рэчыва характарызуюць тэнзарамі дыэл. і магн. пранікальнасцей, эл.-праводнасці і аптычнай актыўнасці. У мікраскапічнай К. гэтыя ж велічыні звязваюцца з уласцівасцямі часціц, якія ўтвараюць крышталь, з іх узаемным размяшчэннем і ўзаемадзеяннем. Аптычныя канстанты (паказчыкі пераламлення і іх рознасці, агульная аптычная характарыстыка крышталя, сувязь аптычных і крышталеграфічных напрамкаў і інш.) для дыягностыкі крышт. рэчываў вызначаюцца ў шліфах ці асобных зернях (гл. Імерсійны метад) на спец. палярызацыйным мікраскопе. На Беларусі ў Ін-це фізікі Нац. АН пад кіраўніцтвам Ф.І.Фёдарава распрацавана агульная тэорыя распаўсюджвання святла ў крышталях, дадзена рашэнне многіх прынцыповых задач.

Літ.:

Федоров Ф.И. Оптика анизотропных сред. Мн., 1958;

Шубников А.В. Основы оптической кристаллографии. М., 1958;

Федоров Ф.И., Филиппов В.В. Отражение и преломление света прозрачными кристаллами. Мн., 1976.

Б.​Б.​Бойка.

т. 8, с. 529

ПА́МЯЦЬ у вылічальнай тэхніцы,

функцыянальная частка вылічальнай машыны для запісу, захоўвання і счытвання інфармацыі. Ствараецца на базе розных запамінальных прыстасаванняў. Асн. элементы: носьбіт інфармацыі, блок кіравання (выконвае пошук месца на носьбіце, запісвае і счытвае інфармацыю) і канал сувязі П. з інш. блокамі ЭВМ. Асн. параметры: аб’ём і час доступу для запісу ці счытвання інфармацыі.

П. сучасных ЭВМ мае шматступеньчатую іерархічную структуру. што забяспечвае спалучэнне вял. ёмістасці і высокага хуткадзеяння. У іерархію П. ўваходзяць: знешняя П. вял. ёмістасці на аптычных дысках, магнітных дысках, барабанах, стужках і інш.; унутраная, ці аператыўная П. (мае адносна невял. аб’ём і вял. хуткадзеянне); звышаператыўная П. (кэш-П., П. неадкладнага доступу, мае час доступу, значна меншы за час доступу да аператыўнай П., і служыць буферам паміж працэсарам і аператыўнай П.); рэгістры — запамінальныя прыстасаванні аб’ёмам 1 слова ў розных блоках працэсара; пастаянная П. (доўгачасовая, аднабаковая) для захоўвання канстант, падпраграм і мікрапраграм; буферная П. як прамежкавае звяно паміж запамінальнымі прыстасаваннямі розных узроўняў ЭВМ. Пры праграмаванні складаных задач аперацыйная сістэма забяспечвае рэжым віртуальнай П., калі П. падзяляецца на асобныя старонкі і кожнаму карыстальніку аддаецца адвольны аб’ём П., незалежны ад рэальнага аб’ёму асн. П. ЭВМ і абмежаваны толькі разраднасцю адрасоў у камандах.

М.​П.​Савік.

т. 12, с. 38