траекторыя руху нябеснага цела ў касм. прасторы. У найпрасцейшым выпадку прыцягненне двух целаў, адно з іх рухаецца адносна другога паводле Кеплера законаў па кеплеравай (няўзбуранай) арбіце, што мае форму эліпса, у фокусе якога знаходзіцца цэнтр. цела S.
Арбіта цела ляжыць у нязменнай плоскасці, што праходзіць праз пачатак каардынат (цела S). Лінія SN перасячэння плоскасці арбіты з асн. каардынатнай плоскасцю (плоскасцю экліптыкі) наз. лініяй вузлоў. Няўзбураную арбіту вызначаюць элементы: i — нахіл арбіты да плоскасці экліптыкі і Ω — даўгата ўзыходнага вузла (становішча арбіты ў прасторы); a — вял. паўвось і e — эксцэнтрысітэт (памеры і форма арбіты); w — вуглавая адлегласць перыцэнтра П ад узыходнага вузла (становішча арбіты ў яе плоскасці); T — момант праходжання цела праз перыцэнтр. Адхіленні рэальнай арбіты ад кеплеравай наз. ўзбурэннямі (гл.Узбурэнні нябесных целаў). Для вызначэння элементаў узбурэнняў арбіце неабходны сістэматычныя назіранні (астраметрыя, радыёлакацыя, аптычная лакацыя).
Эліптычная арбіта планеты P у прасторы: S — Сонца; П — перыгелій; N — узыходны вузел. Вось SX накіравана ў пункт веснавога раўнадзенства.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ДЫФРАКЦЫ́ЙНАЯ РАШО́ТКА,
аптычная прылада, якая мае вял. колькасць элементаў (шчылін, штрыхоў або люстраных палосак) у непразрыстым экране.
Адрозніваюць рэгулярныя Д.р. (элементы размешчаны перыядычна) і нерэгулярныя Д.р. (элемента размешчаны хаатычна, напр., галаграма). Асн. характарыстыкі Д.р. — перыяд (адлегласць паміж суседнімі элементамі), дысперсія і раздзяляльная здольнасць. Д.р. бываюць плоскія і сферычныя, адбівальныя (з ступеньчатым профілем элементаў наз. эшэлетамі) і празрыстыя. Праходзячы праз Д.р. або адбіваючыся ад яе, святло раскладаецца на шэраг спектраў (гл.Дыфракцыйныя спектры). Уласцівасці Д.р. маюць крышталі, што служаць прасторавай Д.р. для рэнтгенаўскіх прамянёў, а таксама паверхні з вял. колькасцю штучных або натуральных штрыхоў (грамафонныя дыскі, птушыныя пёры, рыбная луска і інш.), на якіх адбываецца дыфракцыя святла. Д.р. выкарыстоўваюцца як асн. элемент спектральных прылад, як аптычныя датчыкі лінейных і вуглавых перамяшчэнняў, палярызатары і фільтры інфрачырвонага выпрамянення і інш.
К.М.Грушэцкі.
Да арт.Дыфракцыйная рашотка. Перыядычная структура (разрэз пры моцным павелічэнні) і схема дзеяння празрыстай (a) і абвівальнай (б) дыфракцыйнай рашоткі: d — перыяд рашоткі; 1 — падаючыя 12 — Дыфрагаваныя прамяні.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ПАЛЯРЫ́МЕТР,
прылада для вымярэння вугла павароту плоскасці палярызацыі монахраматычнага святла ў аптычна актыўных рэчывах або для вызначэння ступені палярызацыі часткова палярызаванага святла (гл.Палярыметрыя).
Найпрасцейшы П. для вызначэння ступені палярызацыі — паўценявы П. Карню, асн. элементы якога — прызма Воластана (гл.Прызма аптычная) і аналізатар (гл.Аналізатар у оптыцы). Фотаэл. П. складаецца з аналізатара і фотапрыёмніка. Адносіны пераменнай складальнай току прыёмніка, атрыманай пры вярчэнні аналізатара, да яго пастаяннай складальнай вызначаюць ступень палярызацыі. Пры ўстаноўцы перад П. пласцінкі ў чвэрць даўжыні хвалі (гл.Палярызацыйныя прылады) вымяраюць ступень кругавой палярызацыі. У П., пабудаваных па схеме паўценявых прылад, вымярэнне вугла павароту плоскасці палярызацыі зводзіцца да ўраўновання яркасцей палавін поля зроку і адліку паказанняў па шкале вярчэнняў (прылады высокай адчувальнасці). Больш пашыраны аўтам. П. з фотаэл. рэгістрацыяй, дзе супастаўленне светлавых патокаў зводзіцца да палярызацыйнай мадуляцыі (гл.Мадуляцыя святла) і вылучэння на выхадзе прыёмніка святла сігналу асн. частаты. Гл. таксама Палярыскоп, Спектрапалярыметрыя.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
міра́ж
(фр. mirage)
1) аптычная з’ява ў атмасферы, пры якой узнікаюць уяўныя адлюстраванні далёкіх наземных прадметаў у сувязі з пераламленнем сонечных праменяў у нераўнамерна нагрэтых слаях паветра (назіраецца ў пустынях, стэпах, на моры);
2) перан. нешта падманлівае, уяўнае.
Слоўнік іншамоўных слоў (А. Булыка, 1999, правапіс да 2008 г.)
ПАДВО́ЙНАЕ ПРАМЕНЕПЕРАЛАМЛЕ́ННЕ,
падваенне светлавых прамянёў пры праходжанні праз анізатропнае асяроддзе (напр., крышталь). Абумоўлена залежнасцю пераламлення паказчыка дадзенага асяроддзя ад напрамку эл. вектара светлавой хвалі (гл.Анізатрапія ў фізіцы, Крышталяоптыка).
Пры падзенні светлавой хвалі на анізатропнае асяроддзе ў ёй узнікаюць 2 хвалі з узаемна перпендыкулярнымі плоскасцямі палярызацыі (гл.Палярызацыя святла). У аднавосевых крышталях адна з хваль мае плоскасць палярызацыі, перпендыкулярную да плоскасці, якая праходзіць праз напрамак праменя святла і аптычную вось крышталя (звычайны прамень), плоскасць палярызацыі другой хвалі паралельная гэтай плоскасці (незвычайны прамень). Скорасць распаўсюджвання звычайнай хвалі і яе паказчык пераламлення не залежаць ад напрамку распаўсюджвання, а скорасць і паказчык пераламлення незвычайнай хвалі — залежаць, і для яе парушаюцца звычайныя законы пераламлення, напр., незвычайны прамень не можа ляжаць у плоскасці падзення. П.п. назіраецца таксама ў асяроддзях са штучнай анізатрапіяй, напр., пры накладанні эл. поля (Кера эфект), магн. поля (Катона—Мутона эфект) або поля пругкіх сіл (гл.Палярызацыйна-аптычны метад даследаванняў, Фотапругкасць).
Падвойнае праменепераламленне ў аднавосевым крышталі: 1 — падаючы прамень, 2 — крышталь, 3 — звычайны прамень, 4 — незвычайны прамень, α — вугал падвойнага праменепераламлення, OZ — аптычная вось крышталю.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ПАЎПРАВАДНІКО́ВЫ ЛА́ЗЕР,
лазер з паўправадніковым крышталём у якасці рабочага рэчыва. Асаблівасці — высокая эфектыўнасць пераўтварэння эл. энергіі ў энергію кагерэнтнага выпрамянення, малая інерцыйнасць, магчымасць перастройкі даўжыні хвалі выпрамянення і інш.
У П.л. ўзбуджаюцца і выпрамяняюць (калектыўна) атамы крышт. рашоткі, што вызначае малыя памеры і кампактнасць прылады. У адрозненне ад лазераў інш. тыпаў у П.л. выкарыстоўваюцца выпрамяняльныя квантавыя пераходы паміж дазволенымі энергет. зонамі крышталёў (гл.Зонная тэорыя, Цвёрдае цела): пры рэкамбінацыі электронаў і дзірак вызваляецца энергія, якая выпрамяняецца ў выглядзе квантаў святла (люмінесцэнцыя) ці перадаецца ўсяму крышталю, як цеплавая энергія. У некаторых паўправадніках, напр. у арсенідзе галію, доля выпрамененай энергіі набліжаецца да 100%. Важнейшы спосаб пампоўкі ў П.л. — інжэкцыя праз p-n-пераход ці гетэрапераход (інжэкцыйны П.л.), што дазваляе непасрэдна пераўтвараць эл. энергію ў кагерэнтнае выпрамяненне. Інш. спосабы пампоўкі: эл. прабой (стрымерны П.л.), бамбардзіроўка электронамі (П.л. з электроннай пампоўкай) і аптычная пампоўка. П.л. выкарыстоўваюцца ў аптычнай сувязі і лакацыі, спец. аўтаматыцы, оптаэлектроніцы, тэхніцы спец. асвятлення (напр., скарасной фатаграфіі), для вызначэння забруджванняў і дамешкаў у розных асяроддзях, для лазернага праекцыйнага тэлебачання.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
РАЗДЗЯЛЯ́ЛЬНАЯ ЗДО́ЛЬНАСЦЬ,
здольнасць сістэм, прылад і фотаматэрыялаў адрозніваць (узнаўляць) блізкія ў прасторы, часе ці па фіз. уласцівасцях аб’екты ці працэсы; колькасная мера такой здольнасці.
Р.з. аптычных сістэм — здольнасць аптычных сістэм даваць раздзельны відарыс двух блізкіх адзін ад аднаго пунктаў прадмета. З-за дыфракцыі святла аптычная сістэма адлюстроўвае святлівы пункт у выглядзе светлай плямы, абкружанай папераменна цёмнымі і светлымі кольцамі. Паводле крытэрыя У.Рэлея, 2 дыфракцыйныя плямы, адпаведныя відарысам пунктаў аднолькавай яркасці, лічацца раздзельнымі, калі светлы цэнтр адной з іх прыпадае на сярэдзіну першага цёмнага кольца суседняй. Р.з. спектральнай прылады — здольнасць такой прылады ўзнаўляць 2 спектральныя лініі з блізкімі даўжынямі хваль. Паводле крытэрыя Дж.Рэлея такія лініі раздзяляюцца, калі адлегласць паміж максімумамі іх інтэнсіўнасцей не меншая за шырыню ліній. Р.з. фотаматэрыялаў — уласцівасць матэрыялу раздзельна ўзнаўляць у фотаматэрыяле дробныя суседнія дэталі аб’екта. Абумоўлена ступенню дысперснасці святлоадчувальных кампанентаў фотаслоя, залежыць ад кантрасту аптычнага відарыса, спектральнага складу аптычнага выпрамянення, часу асвятлення (экспазіцыі), умоў праяўлення і інш. Вызначаецца найб. колькасцю паралельных ліній на 1 мм фотавідарыса штрыхавой міры, якія бачныя паасобку ў мікраскопе.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ГЕАМЕТРЫ́ЧНАЯ ІЗАМЕ́РЫЯ, цыс-транс-ізамерыя,
з’ява існавання малекул рознай прасторавай будовы пры аднолькавай паслядоўнасці і тыпе хім. сувязей у злучэнні; від прасторавай ізамерыі. З’яву геаметрычнай ізаметрыі растлумачыў Я.Х. вант Гоф (1874).
Геаметрычная ізаметрыя ўласцівая злучэнням з падвойнымі сувязямі (найчасцей C=C і C=N), вакол якіх немагчыма свабоднае вярчэнне атамаў, і цыклічным злучэнням з малымі (неараматычнымі) цыкламі. Магчыма, калі атам вугляроду пры падвойнай сувязі ці ў цыкле мае неаднолькавыя замяшчальнікі (групоўку атамаў тыпу RR′C = CRR′), якія па-рознаму размешчаны адносна плоскасці падвойнай сувязі (гл.Кратныя сувязі) ці кольца ў цыклічных злучэннях. Існуюць 2 формы геам. ізамераў: цыс-ізамеры — аднолькавыя замяшчальнікі знаходзяцца па адзін бок ад плоскасці падвойнай сувязі (формула 1) ці кольца (формула 3), транс-ізамеры — па розныя бакі (формулы 2, 4). У цыклічных злучэннях адначасова з геаметрычнай ізаметрыяй магчыма і аптычная ізамерыя. Геам. ізамеры маюць розныя фіз. і хім. ўласцівасці. Цыс-ізамеры даволі лёгка (пад уздзеяннем святла, цяпла, хім. рэагентаў) пераходзяць у больш устойлівыя транс-ізамеры, напр., малеінавая кіслата. Геаметрычная ізамерыя ўласцівая і палімерам, напр., гутаперча (транс-поліізапрэн), каўчук натуральны (цыс-полііэалрэн).
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
ІНТЭГРА́ЛЬНАЯ О́ПТЫКА,
раздзел оптаэлектронікі, які вывучае аптычныя з’явы ў тонкіх слаях празрыстых матэрыялаў, распрацоўвае прынцыпы і метады стварэння яе элементарнай базы. Узнікла ў 1960-я г. на стыку электронікі, лазернай тэхнікі і класічнай оптыкі. Элементы І.о. выкарыстоўваюцца для стварэння аптычных ліній сувязі (гл Аптычная сувязь), аптычных сістэм апрацоўкі і перадачы інфармацыі, у аптычных камп’ютэрах і інш.
Да І.о. адносяць прылады і прыстасаванні, дзе традыцыйныя правады і кабелі заменены на аптычныя хваляводы, звычайныя электронныя схемы — на аптычныя інтэгральныя схемы, розныя элементы якіх размешчаны на агульнай падложцы і злучаны паміж сабой танкаплёначнымі аптычнымі хваляводамі. Хваляводы ўяўляюць сабой празрыстыя плоскапаралельныя пласцінкі (ці слаі) з паказчыкам пераламлення большым, чым у падложцы і навакольным асяроддзі. Іх атрымліваюць высокачастотным распыленнем дыэлектрыкаў, дыфузіяй, іонным абпрамяненнем (імплантацыяй) і інш.
На Беларусі даследаванні па І.о. вядуцца з 1972 у Ін-це прыкладной оптыкі (пад кіраўніцтвам А.М.Ганчарэнкі), у Ін-це электронікі Нац.АН і інш.
Літ.:
Гончаренко А.М., Редько В.П. Введение в интегральную оптику. Мн., 1975;
Гончаренко А.М., Карпенко В.А. Основы теории оптических волноводов Мн., 1983;
Хансперджер Р. Интегральная оптика. Теория и технология: Пер. с англ.М., 1985.
Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)
АБ’ЕКТЫ́Ў,
аптычная сістэма або яе частка, якая стварае сапраўдны адваротны відарыс аб’екта. Створаны аб’ектывам відарыс разглядаецца праз акуляр (звычайна пасля абарачальнай сістэмы) ці фіксуецца на экране, фатагр. плёнцы, фотакатодзе перадавальнай тэлевізійнай трубкі і інш. Бываюць лінзавыя, люстраныя і люстрана-лінзавыя.
Асн. аптычныя характарыстыкі: фокусная адлегласць f; дыяметр уваходнай зрэнкі d; святласіла d/f; вугал (поле) зроку; раздзяляльная здольнасць. Аб’ектывы тэлескапічных сістэм маюць фокусную адлегласць да некалькіх метраў і дыяметр уваходнай зрэнкі ад некалькіх сантыметраў (у геад., вымяральных і падзорных трубах) да некалькіх метраў (у тэлескопах-рэфрактарах), аб’ектывы мікраскопаў — фокусную адлегласць 1,5—40 мм, малафарматных фотаапаратаў — 6—2000 мм (для аматарскай практыкі 28—200 мм). Фатагр. аб’ектывы бываюць нармальныя (вугал зроку 40—50°), шырокавугольныя (больш за 70°), звышшырокавугольныя (больш за 83°, аб’ектывы тыпу «рыбіна вока» больш за 180°), даўгафокусныя (менш за 39°) і звышдаўгафокусныя (менш за 9°). Канструкцыя складаных аб’ектываў дазваляе выправіць храматычную і геам.аберацыі аптычных сістэм. Большасць аб’ектываў — анастыгматы. Аб’ектывы з пераменнай фокуснай адлегласцю (панкратычныя), у якіх плоскасць відарыса і святласіла нязменныя, выкарыстоўваюцца ў кіна- і тэлекамерах, спец. прамянёвастойкія — у лазерных сістэмах. Для павелічэння фіз. святласілы аб’ектывы прасвятляюць (гл.Прасвятленне оптыкі).
