Verbum

ДЭБА́Я—ШЭ́РЭРА МЕ́ТАД,

метад даследаванняў полікрышталічных матэрыялаў з дапамогай дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў. Прапанаваны П.Дэбаем і швейц. фізікам П.​Шэрэрам (1916). Выкарыстоўваецца ў рэнтгенаўскім структурным аналізе для вымярэнняў параметраў элементарнай ячэйкі крышталёў, фазавага аналізу полікрышт. матэрыялаў і інш.

У Д.—Ш.м. тонкі пучок монахраматычных рэнтгенаўскіх прамянёў накіроўваецца на ўзор, які рассейвае выпрамяненне ўздоўж утваральных сувосевых конусаў (рассеянне адбываецца на крышталіках, для якіх выконваецца Брэга—Вульфа ўмова). Пры раўнамерным вярчэнні ўзору вакол восі, перпендыкулярнай першаснаму пучку выпрамянення, усе крышталікі ўводзяцца ў адбівальнае становішча. Рассеянае выпрамяненне рэгіструецца на фотаплёнцы ў цыліндрычнай (дэбаеўскай) рэнтгенаўскай камеры або з дапамогай рэнтгенаўскага дыфрактометра.

М.​М.​Аляхновіч.

т. 6, с. 320

НАЙМЕ́НШЫХ КВАДРА́ТАЎ МЕ́ТАД,

адзін з метадаў памылак тэорыі для ацэньвання невядомых велічынь па выніках вымярэнняў. Выкарыстоўваецца для статыстычных апрацовак.

Прапанаваны К.Гаўсам (1794—95) і А.Лежандрам (1805—06). Першасна прызначаўся для апрацоўкі астр. і геад. вымярэнняў. Строгае матэм. абгрунтаванне і вызначэнне межаў дастасавальнасці Н.к.м. далі А.А.Маркаў і А.М.Калмагораў. Паводле Н.к.м., калі n вынікаў вымярэнняў y₁, y₂, ..., y_n звязаны з m (m < n) пераменных x₁, x₂, ..., x_m зададзенай функцыянальнай залежнасцю y_i = 𝑓(x₁, x₂, ..., x_m) + σ_i, дзе σ_i — невядомыя выпадковыя хібнасці, ацэнкамі для x_i бяруцца такія X_i, для якіх сума квадратаў ${\displaystyle S=\sum _{i=1}^n{p}_i{\text{[}{y}_i-𝑓\text{(}{X}_i\text{)}\text{]}}^2}$ , дзе p_i — зададзеныя лікі, будзе найменшая. Для мінімізацыі S першыя частковыя вытворныя па невядомых велічынях прыраўноўваюць да нуля. Рашэнне сістэм ураўненняў $\partial S/\partial x_i=0$ дае ацэнкі для X_i.

т. 11, с. 130