ГЕАДЭЗІ́ЧНЫЯ ПРЫЛА́ДЫ І ІНСТРУМЕ́НТЫ,

прыстасаванні для вымярэння даўжынь ліній, вуглоў, перавышэнняў, азімутаў пры нівеліраванні, тапагр. здымцы, маркшэйдэрскіх работах, вышуканнях, будаўніцтве, мантажы і эксплуатацыі розных інж. збудаванняў. Паводле прынцыпу работы і будовы адрозніваюць мех., оптыка-мех., электрааптычныя і радыёэлектронныя геад. прылады. Стальныя або інварныя мерныя стужкі выкарыстоўваюць для вымярэння даўжынь ліній, базісныя прылады з падвесным інварным дротам — для вызначэння базісаў і трыянгуляцыі, дальнамерамі (святлодальнамер, радыёвышынямер, радыёдальнамер) вызначаюць даўжыню ліній без непасрэдных вымярэнняў з дакладнасцю да 0,1 мм на 100 м. Вуглы вымяраюць тэадалітамі (высокадасканальныя аптычныя, фотатэадаліты, гідратэадаліты) і бусоллю. Дакладнасць вымярэння вуглоў ад 15—10 у бусолі да 0,5 у аптычнага тэадаліта. Нівеліры выкарыстоўваюць пераважна для вымярэння перавышэнняў, стварэння нівелірнай сеткі, вышыннага абгрунтавання тапагр. здымак. Паводле дакладнасці яны падзяляюцца на высокадакладныя, дакладныя і тэхнічныя. Гідрастатычнымі нівелірамі карыстаюцца зрэдку, прынцып дзеяння іх заснаваны на вымярэнні ўзроўняў вадкасці ў сасудах, злучаных гнуткім шлангам. З камбінаваных геадэзічных прылад найчасцей выкарыстоўваюць тахеометр (для вымярэння гарыз. і верт. вуглоў, даўжынь ліній і перавышэнняў) і кіпрэгель (для вымярэння верт. вуглоў, адлегласцей, перавышэнняў і графічнай пабудовы напрамкаў пры выкананні спец. мензульнай здымкі). Экліметр выкарыстоўваюць у геад. здымцы для вымярэння вуглоў нахілу ліній з дакладнасцю да 0,1°; экер — для адкладання на мясцовасці фіксаванага вугла; мензула (дошка-планшэт і падстаўкі з установачнымі прыстасаваннямі) — асн. ч. камплекта для тапагр. мензульнай здымкі; ватэрпас вадкасны або электрамеханічны — для вызначэння становішча геад. прылад і іх асобных вузлоў адносна верт. ліній; рэйка геадэзічная (брусок даўж. 1,5—4 м з нанесенай шкалой) — для вымярэння адлегласцей або перавышэнняў пры тапагр. здымцы. Пры складанні планаў, картаў і пры карыстанні імі ўжываюцца каардынатографы, маштабныя лінейкі і вымяральнікі, транспарціры, планіметры і курвіметры.

Р.​А.​Жмойдзяк.

Геадэзічныя прылады і інструменты: 1 — аптычны тэадаліт Т-2; 2 — кіпрэгель; 3 — нівелір, 4 — экліметр.

т. 5, с. 116

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ІНСТЫТУ́Т ЭЛЕКТРО́НІКІ Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі.

Засн. ў 1973 на базе Лабараторыі электронікі АН Беларусі (існавала з 1961). У ін-це (1998) 10 лабараторый, аспірантура, савет па абароне канд. і доктарскіх дысертацый.

Асн. кірункі навук. даследаванняў: фіз. асновы оптаэлектронікі і аптычныя метады апрацоўкі інфармацыі; фіз. асновы мікраэлектронікі, у межах якіх распрацоўкі накіраваны на стварэнне элементнай базы для звышхуткадзейных і высокапрадукцыйных сістэм атрымання, захоўвання, перадачы і апрацоўкі інфармацыі; оптаэлектронных элементаў і прылад для аптычнай (у т. л. лазерна-галаграфічных сістэм) апрацоўкі інфармацыі, валаконна-аптычных ліній сувязі, вымяральнай тэхнікі і фотааўтаматыкі; оптыка-электронных, магн.-эл. і інш. пераўтваральнікаў для сістэм кантролю і вымярэння; вакуумных мікраэлектронных прылад для экстрэмальных умоў эксплуатацыі, прылад мікрамеханікі і мікрасенсорыкі; матэрыялаў для мікраэлектронікі і нанатэхналогій. Вынікі навук. даследаванняў: распрацаваны новыя матэрыялы для мікраэлектронікі; метады і сродкі прасторавай і прасторава-часавай мадуляцыі светлавых патокаў, якія забяспечваюць эфектыўнае пераўтварэнне двух- і аднамерных аптычных сігналаў; распрацаваны і створаны фотапрыёмнікі і фотапрыёмныя структуры для валаконна-аптычных ліній сувязі, сістэм аўтафакусіроўкі, рэгістрацыі звышслабых свячэнняў; высокаадчувальныя фотарэзістары і на іх аснове створаны оптаэлектронныя пераўтваральнікі для нанавальтметраў і мультыметраў; створаны спецыялізаваныя высокакагерэнтныя цвердацелыя лазеры для патрэб аптычнай лакацыі, галаграфіі і неразбуральнага кантролю вібратрываласных характарыстык вырабаў машынабудавання метадамі галаграфічнай інтэрфераметрыі, алюма-аксідная тэхналогія стварэння вакуумнай мікраэлектронікі, мікрамеханікі і нанаэлектронікі, вакуумныя інтэгральныя схемы для экстрэмальных умоў эксплуатацыі пры высокіх узроўнях т-р і радыяцыі; выпрацаваны прынцыпы пабудовы высокаадчувальных вымяральнікаў кампанентаў вектара індукцыі магн. поля Зямлі; створана апаратура арыентацыі галаўных частак метэаракет, вымярэння траекторый ствалоў свідравін у працэсе бурэння, спектрафотаметрычная апаратура, якая ўстанаўліваецца на ШСЗ для даследаванняў азонасферы Зямлі, шэраг высокапрадукцыйных сістэм аўтаматызаванага высокадакладнага вымярэння і кантролю памераў вырабаў электроннай тэхнікі, валаконнай оптыкі, а таксама субмікронных часцінак у тэхнал. асяроддзях; устаноўлены заканамернасці структурных і фазавых пераўтварэнняў у тонкіх паўправадніковых і метал. плёнках, сістэмах метал-паўправаднік пры імпульсным лазерным уздзеянні. Распрацоўкі ін-та адзначаны Дзярж. прэміяй СССР (1985), Дзярж. прэміямі Беларусі (1982, 1996), ЛКСМБ (1974). У Ін-це працаваў чл.-кар. АН СССР В.М.Аўдзееў; працуюць акад. Нац. АН Беларусі У.А.Піліповіч і чл.-кар. А.А.Кавалёў.

Я.​К.​Чаховіч.

т. 7, с. 275

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ДЭФЕ́КТЫ Ў КРЫШТА́ЛЯХ,

парушэнні перыядычнасці размяшчэння часціц у крышталічнай рашотцы. Узнікаюць пры росце крышталёў ці іх фазавых ператварэннях, цеплавых, мех., эл. і інш. уздзеяннях, увядзенні дамешкаў. Адрозніваюць дэфекты кропкавыя (нульмерныя), лінейныя (аднамерныя), паверхневыя (двухмерныя) і аб’ёмныя (трохмерныя).

Кропкавыя дэфекты — парушэнні перыядычнасці ўласнай атамнай структуры крышталя: вакансіі атамы і іоны, што перамясціліся з нармальнага становішча ў міжвузелле (міжвузельныя атамы і іоны); атамы і іоны ў крышталях хім. злучэнняў, якія займаюць вузлы «чужой» падрашоткі; дэфекты, што ўзнікаюць пры ўвядзенні ў крышталь дамешкавых атамаў. Узаемадзеянне такіх дэфектаў паміж сабой прыводзіць да ўзнікнення складаных дэфектаў: дывакансій (падвойных вакансій), кластараў (скопішчаў дэфектаў) і інш. Лінейныя дэфекты — ланцужкі кропкавых дэфектаў, краявыя і вінтавыя дыслакацыі. Паверхневыя дэфекты: няправільна ўкладзеныя слаі атамаў (дэфекты ўпакоўкі); заканамерныя парушэнні нармальнага чаргавання атамных плоскасцей; дэфекты двайнікавання з кропкавай сіметрыяй; межы ўключэнняў; сама паверхня крышталя і інш. Аб’ёмныя дэфекты: парушэнні, звязаныя з адхіленнем ад законаў стэхіяметрыі; скопішчы вакансій; нерэгулярныя ўтварэнні ў выглядзе расколін, пустот, уключэнняў іншай фазы; скопішчы дамешкаў на дыслакацыях, у зонах росту і інш. макраскапічныя дэфекты. Д. ў к. уплываюць на мех., аптычныя, эл., магн. і інш. ўласцівасці крышталёў. У дасканалай крышт. рашотцы рух атамаў і іонаў немагчымы; у крышталях з дэфектамі міграцыя атамаў абумоўлівае ўзаемную дыфузію цвёрдых цел, хім. цвердафазныя рэакцыі і інш. з’явы. Д. ў к. могуць уводзіцца мэтанакіравана або ўзнікаць выпадкова пад уздзеяннем фактараў, якія не кантралююцца. Спец. ўвядзенне дэфектаў або іх выдаленне — важная частка тэхналогіі вытв-сці паўправадніковых матэрыялаў, люмінафораў, лазерных і фотахромных крышталёў і шкла, паўправадніковых прылад. Шчыльнасць непажаданых дэфектаў памяншаецца ўдасканаленнем метадаў вырошчвання і апрацоўкі крышталёў. Д. ў к. вывучаюцца аптычнымі метадамі, іоннай і электроннай мікраскапіяй, метадам выбіральнага траўлення, рэнтгенадыфракцыйнымі і ядз.-фіз. метадамі.

Літ.:

Современная кристаллография Т. 2. М., 1979;

Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. М., 1981;

Орлов А.Н. Введение в теорию дефектов в кристаллах. М., 1983;

Орлов А.Н., Трушин Ю.В. Энергии точечных дефектов в металлах. М., 1983.

Р.​М.​Шахлевіч.

т. 6, с. 364

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ПРЫКЛАДНЫ́Х ФІЗІ́ЧНЫХ ПРАБЛЕ́М ІНСТЫТУ́Т імя А.​Н.​Сеўчанкі Беларускага дзяржаўнага універсітэта.

Засн. ў 1971 у Мінску на базе н.-д. лабараторый БДУ. Арганізатар і першы дырэктар — акад. АН Беларусі А.Н.Сеўчанка. У ін-це 4 аддзелы (27 лабараторый).

Асн. кірункі навук. даследаванняў: фізіка нізкатэмпературнай плазмы, уздзеянне іанізавальнага выпрамянення на матэрыялы і прылады электроннай тэхнікі, распаўсюджванне ультрагуку ў неаднародных асяроддзях, спектраскапія і люмінесцэнцыя кандэнсаваных сістэм, распрацоўка і стварэнне спектральнай апаратуры, лагічных элементаў і сістэм, электронна-выліч. прылад. У галіне оптыкі, спектраскапіі і люмінесцэнцыі здзейснены мэтанакіраваны сінтэз неарган. і арган. злучэнняў (вадкакрышт. матэрыялы для прылад адлюстравання інфармацыі і кіравання, актыўныя і пасіўныя лазерныя асяроддзі, аптычныя асяроддзі для запісу інфармацыі, негатыўныя і пазітыўныя фотарэзістары, матэрыялы колеракадзіравання і колераперадачы інфармацыі, пажаравыбуховабяспечныя цеплаізаляцыйныя матэрыялы, лекавыя прэпараты радыёпратэктарнага дзеяння, індыкатары для аналізу біял. вадкасцей чалавека, фарбавальнікі для онкатэрапіі і інш.); створаны метады і прылады экспрэс-дыягностыкі газавых патокаў, пылавых і дымавых выкідаў і інш. У галіне фізікі цвёрдага цела і паўправаднікоў распрацаваны тэорыя і метады іонна-прамянёвага легіравання і выкарыстанне іх у тэхналогіі вырабаў электроннай тэхнікі, сістэма скразнога камп’ютэрнага мадэліравання тэхналогій мікра- і нанаэлектронікі, метады атрымання звышцвёрдых і зносастойкіх матэрыялаў; даследаваны працэсы дэфектаўтварэння ў крышталях крэмнію, арсеніду галію і фасфіду індыю; прапанаваны і рэалізаваны спосабы кіравання пучкамі рэнтгенаўскіх і гама-квантаў. У галіне радыёфізікі і інфарматыкі створаны радыёгалаграфічныя сродкі для бескантактнага вымярэння вільготнасці, масы, шчыльнасці і інш. характарыстык дыэл. матэрыялаў; метады і прылады для выяўлення ачагоў узгарання лясных пажараў, ультрагукавыя расхадамеры вадкасці і газу, тэлеметрычны комплекс сейсмаразведкі, вымяральны комплекс аператыўнага маніторынгу дозных размеркаванняў пучкоў рэнтгенаўскага і электроннага выпрамяненняў; уведзена ў дзеянне першая нац. азонаметрычная станцыя, распрацаваны люмінесцэнтныя бескантактныя тэрмадатчыкі крыягенных т-р. Навук. і канструктарскія распрацоўкі ін-та знайшлі практычнае выкарыстанне ў прам-сці, нар. гаспадарцы, медыцыне і інш. Навук. дасягненні супрацоўнікаў ін-та адзначаны Дзярж. прэміяй СССР, 6 Дзярж. прэміямі Беларусі і інш. У ін-це працаваў акад. АН Беларусі Л.В.Валадзько, працуюць акад. Нац. АН Беларусі А.Ф.Чарняўскі, чл.-кар. Ф.Ф.Камароў.

У.​І.​Папечыц.

т. 13, с. 68

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ІНФРАЧЫРВО́НАЯ СПЕКТРАСКАПІ́Я,

раздзел спектраскапіі, які займаецца атрыманнем, даследаваннем і выкарыстаннем спектраў вылучэння, паглынання і адбіцця ў інфрачырвонай вобласці спектра (гл. Інфрачырвонае выпрамяненне). Паводле сістэм, што вывучаюцца, І.с. адносіцца да малекулярнай спектраскапіі; паводле станаў, пераходы паміж якімі выклікаюць лініі і палосы інфрачырвонага спектра, — да вагальнай і вярчальнай спектраскапіі. Вывучае ў асн. малекулярныя спектры, бо ў інфрачырв. вобласці размешчана большасць вагальных і вярчальных спектраў малекул.

Найб пашыраны даследаванні інфрачырв спектраў паглынання, якія ўзнікаюць з прычыны паглынання інфрачырв. выпрамянення пры праходжанні яго праз рэчыва. Колькасную сувязь паміж інтэнсіўнасцю выпрамянення, якое падае на рэчыва, прайшло праз яго, і велічынямі, што характарызуюць паглынальнае рэчыва, дае Бугера—Ламберта—Бэра закон. На практыцы звычайна інфрачырв. спектр паглынання паказваюць графічна ў выглядзе залежнасці ад частаты (або даўжыні хвалі) шэрагу велічынь, якія характарызуюць паглынальнае рэчыва (каэф. прапускання, паглынання, аптычная шчыльнасць і інш.). Асн. характарыстыкі спектраў інфрачырв. паглынання: колькасць палос паглынання ў спектры, іх становішча (размяшчэнне), шырыня і форма, велічыня паглынання Яны вызначаюцца структурай і хім. саставам паглынальнага рэчыва, залежаць ад яго агрэгатнага стану, т-ры, ціску і інш. Характарызуюцца высокай выбіральнасцю і адчувальнасцю да розных хім. і структурных пераўтварэнняў рэчываў, саставу іх сумесей. Метады І.с. выкарыстоўваюцца для вызначэння структуры малекул, іх хім. саставу, для якаснага і колькаснага аналізу хім. груп і сувязей, сумесей розных рэчываў і матэрыялаў, біял. аб’ектаў і інш. (гл. Спектры аптычныя).

У Беларусі даследаванні па І.с. вядуцца з 1954—55 у БДУ і Нац. АН (Б.​І.​Сцяпанаў, М.​А.​Барысевіч, Р.​Г.​Жбанкоў, К.​М.​Салаўёў, Дз.​С.​Умрэйка, В.​Р.​Верашчагін і інш.). Асн. кірункі: вывучэнне вугляводаў (у т. л. цэлюлозы), іх фіз. і хім. мадыфікацый, іонных і іонарадыкальных злучэнняў, парфірынаў, каардынацыйных злучэнняў цяжкіх металаў, пары арган. малекул, рассеяння інфрачырв. выпрамянення дысперснымі сістэмамі.

Літ.:

Кросс А Введение в практическую инфракрасную спектроскопию: Пер. с англ. М., 1961;

Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию. М., 1979;

Жбанков Р.Г. Инфракрасные спектры и структура углеводов. Мн., 1972;

Колебания молекул. 2 изд. М., 1972.

Р.​Г.​Жбанкоў.

Да арт. Інфрачырвоная спектраскапія. Схема аднапрамянёвага ІЧ-спектрометра: К — крыніца неперарыўнага ІЧ-выпрамянення; Л1 і Л2 — люстэркі асвятляльніка і кандэнсатара; С — кювета з рэчывам, якое даследуецца; М — монахраматар; П — прыёмнік выпрамянення; У — узмацняльнік; В — вымяральная або рэгістравальная прылада.

т. 7, с. 295

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ВЫМЯРА́ЛЬНАЯ ТЭ́ХНІКА,

галіна навукі і тэхнікі, звязаная з вывучэннем, вырабам і выкарыстаннем сродкаў вымярэнняў. Грунтуецца на навук. дысцыплінах, якія вывучаюць метады і сродкі атрымання колькаснай інфармацыі аб велічынях, што характарызуюць аб’екты і вытв. працэсы. Уключае вымяральныя прылады, інструменты, машыны і ўстаноўкі, прызначаныя для рэгістрацыі вынікаў вымярэння. Звязана з вылічальнай тэхнікай, кібернетыкай тэхнічнай, тэлемеханікай, электронікай, аўтаматыкай і інш.

Вымяральная тэхніка ўзнікла ў глыбокай старажытнасці і была звязана з вымярэннем мас і аб’ёмаў, адлегласцей і плошчаў, адрэзкаў часу, вуглоў і г.д. Да 16—18 ст. адносіцца ўдасканаленне гадзіннікаў і вагаў, вынаходства мікраскопа, барометра, тэрмометра. У канцы 18 — 1-й пал. 19 ст. з пашырэннем паравых рухавікоў і развіццём машынабудавання развіваецца прамысл. вымяральная тэхніка: удасканальваюцца прылады для вызначэння памераў, з’яўляюцца вымяральныя машыны, уводзяцца калібры, розныя меры фіз. велічынь (у т. л. эталоны) і г.д. У 19 ст. створаны асновы тэорыі вымяральнай тэхнікі і метралогіі, пашырылася метрычная сістэма мер, з’явіліся электравымяральныя прылады і цеплатэхнічныя прылады. У 20 ст. пачынаюць выкарыстоўвацца эл. і электронныя сродкі для вымярэння мех., цеплавых, аптычных і інш. велічынь, для хім. аналізу і геолагаразведкі, развіваюцца радыёвымярэнні і спектраметрыя, узнікае прыладабуд. прам-сць. Гал. кірункі развіцця сучаснай вымяральнай тэхнікі: лінейныя і вуглавыя вымярэнні; мех., аптычныя, акустычныя, цеплафіз., фіз.-хім. вымярэнні; эл., магн. і радыёвымярэнні; вымярэнні частаты і часу, выпрамяненняў (гл., напр., Арэометр, Асцылограф, Вакуумметр, Вісказіметр, Вымяральны пераўтваральнік, Газааналізатар, Геадэзічныя прылады і інструменты, Дазіметрычныя прылады, Інтэрферометр, Каларыметр, Люксметр, Манометр, Пнеўматычны пераўтваральнік, Радыёвымяральныя прылады, Спектрометр, Частатамер).

Шырока выкарыстоўваюцца (пераважна ў машынабудаванні) вымяральныя інструменты: універсальныя (для вымярэння дыяпазонаў памераў) і бясшкальныя (для вымярэння аднаго пэўнага памеру). Універсальныя падзяляюцца на штрыхавыя (штанген-інструменты, вугламеры, лінейкі, вугольнікі, кронцыркулі), мікраметрычныя (глыбінямеры, мікрометры, нутрамеры), механічныя з рознымі тыпамі мех. перадач (індыкатары гадзіннікавага тыпу, мініметры, мікатары), оптыка-механічныя (праектары, вымяральныя мікраскопы) і інш. Многія прылады далучаюць розныя канструкцыйныя асаблівасці, напр. аптыметры (рычажна-аптычная сістэма). Бясшкальныя інструменты — сродкі допускавага кантролю; гэта калібры (кольцы, шаблоны, коркі, скобы) і канцавыя меры (стальныя пліткі пэўнай таўшчыні ў наборах). Адным з гал. кірункаў далейшага развіцця вымяральнай тэхнікі з’яўляецца распрацоўка інфарм.-вымяральных сістэм. Удасканальваюцца сродкі дылатаметрыі, дазіметрыі, мас-спектраметрыі, рэфрактаметрыі, тэлеметрыі. Тэарэт. і навук.-практычную аснову ўдасканалення вымяральнай тэхнікі як аднаго з кірункаў прыладабудавання складаюць дасягненні і распрацоўкі ў галіне фіз тэхн. навук. На Беларусі сродкі вымяральнай тэхнікі выпускаюць Гомельскі завод вымяральных прылад, Віцебскае вытворчае аб’яднанне «Электравымяральнік» і інш.

А.​Р.​Архіпенка, У.​М.​Сацута.

т. 4, с. 314

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ВЫСОКАМАЛЕКУЛЯ́РНЫЯ ЗЛУЧЭ́ННІ, палімеры,

хімічныя злучэнні з малекулярнай масай ад некалькіх тысяч да дзесяткаў мільёнаў. Малекулы высокамалекулярных злучэнняў (макрамалекулы) складаюцца з тысяч атамаў, звязаных хім. сувязямі. Паводле паходжання падзяляюць на прыродныя, ці біяпалімеры (напр., бялкі, нуклеінавыя кіслоты, поліцукрыды), і сінтэтычныя (напр., поліэтылен, поліаміды), паводле саставу — на неарганічныя палімеры, арганічныя і элементаарганічныя палімеры.

У залежнасці ад размяшчэння ў макрамалекуле атамаў і груп атамаў (манамерных звёнаў) адрозніваюць высокамалекулярныя злучэнні: лінейныя, макрамалекулы якіх утвараюць адкрыты лінейны ланцуг (напр., каўчук натуральны) ці выцягнутую ў ланцуг паслядоўнасць цыклаў (напр., цэлюлоза); разгалінаваныя, макрамалекулы якіх — лінейны ланцуг з адгалінаваннямі (напр., крухмал); сеткавыя — трохвымерная сетка з адрэзкаў высокамалекулярных злучэнняў ланцуговай будовы (напр., ацверджаныя фенола-альдэгідныя смолы). Макрамалекулы аднолькавага хім. саставу могуць быць пабудаваны з манамерных звёнаў рознай прасторавай канфігурацыі (гл. Прасторавая ізамерыя). Палімеры з адвольным чаргаваннем стэрэаізамерных звёнаў наз. атактычнымі. Стэрэарэгулярныя палімеры складаюцца з аднолькавых ці розных, але размешчаных у ланцугу ў пэўнай паслядоўнасці стэрэаізамераў. Паводле тыпу манамерных звёнаў палімеры падзяляюць на гомапалімеры (палімер утвораны адным манамерам, напр. поліэтылен) і супалімеры (палімер утвораны з розных манамерных звёнаў, напр. бутадыен-стырольныя каўчукі). Асн. фіз.-хім. і мех. ўласцівасці высокамалекулярных злучэнняў: здольнасць утвараць высокатрывалыя валокны і плёнкі палімерныя, набракаць перад растварэннем і ўтвараць высокавязкія растворы, здольнасць да вял. абарачальных дэфармацый (высокаэластычнасць). Гэтыя ўласцівасці абумоўлены высокай малекулярнай масай, ланцуговай будовай і гнуткасцю макрамалекул. У лінейных высокамалекулярных злучэннях яны выяўлены найб. поўна. Трохвымерныя высокамалекулярныя злучэнні з вял. частатой сеткі нерастваральныя, няплаўкія і не здольныя да высокаэластычных дэфармацый. Высокамалекулярныя злучэнні могуць існаваць у крышт. і аморфным фазавым стане. Аморфныя высокамалекулярныя злучэнні акрамя высокаэластычнага могуць знаходзіцца ў шклопадобным і вязкацякучым станах. Высокамалекулярныя злучэнні з нізкай (ніжэй за пакаёвую) т-рай пераходу з шклопадобнага ў высокаэластычны стан наз. эластамерамі, з высокай — пластыкамі (гл. Пластычныя масы).

Палімеры маюць малую шчыльнасць (900—2200 кг/м³), нізкі каэф. трэння і малы знос, выдатныя дыэл. і аптычныя ўласцівасці, высокую хім. ўстойлівасць да к-т, шчолачаў і інш. агрэсіўных рэчываў. Прыродныя высокамалекулярныя злучэнні, якія ўтвараюцца ў клетках жывых арганізмаў у выніку біясінтэзу, вылучаюць з расліннай і жывёльнай сыравіны. Сінт. высокамалекулярныя злучэнні атрымліваюць полімерызацыяй і полікандэнсацыяй. Асн. тыпы палімерных матэрыялаў — пластычныя масы, гума, валокны хімічныя, лакі, фарбы, эмалі, клеі, герметыкі, іонаабменныя смолы выкарыстоўваюць у розных галінах нар. гаспадаркі і побыце. Біяпалімеры складаюць аснову жывых арганізмаў і ўдзельнічаюць ва ўсіх працэсах іх жыццядзейнасці.

М.​Р.​Пракапчук.

т. 4, с. 322

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

НЕРАЗБУРА́ЛЬНЫ КАНТРО́ЛЬ,

кантроль якасці матэрыялаў, паўфабрыкатаў, вырабаў без іх разбурэння. Засн. на залежнасці паміж уласцівасцямі прадукцыі. што кантралююцца, і якімі-небудзь фіз. параметрамі, якія можна вымераць без пашкоджання вырабу. Адрозніваюць метады Н.к.: акустычныя, магн., аптычныя, радыяцыйныя, радыёхвалевыя, цеплавыя, эл., віхратокавыя і пранікальных рэчываў.

Сродкі Н.к. выконваюцца ў выглядзе аўтаномных прылад, апаратаў, аўтам. ліній, сістэм кіравання тэхнал. працэсамі па адзнаках якасці. Метадамі Н.к. знаходзяць адкрытыя і скрытыя дэфекты тыпу парушэння суцэльнасці (дэфектаскапія), кантралююць геам. характарыстыкі (таўшчыню вырабу, пакрыцця і г.д.), вымяраюць мех. характарыстыкі (цвёрдасць, трываласць, якасць умацавальных слаёў), вызначаюць структуру рэчываў (зярністасць, наяўнасць ферытнай фазы ў сплавах) і інш. Развіццё Н.к. пачалося пасля адкрыцця рэнтгенаўскага выпрамянення (1895). У СССР метады Н.к. пачалі інтэнсіўна развівацца з 1920-х г. Ультрагукавы метад Н.к. дэфектаў (ультрагукавая дэфектаскапія) упершыню прапанавана ў 1928 (С.​Я.​Сакалоў). Значны ўклад у распрацоўку метадаў Н.к. зрабілі рас. вучоныя У.​У.​Клюеў. Р.​І.​Янус, М.​М.​Міхееў. І.​М.​Ярмолаў, В.​Я.​Шчарбінін. В.​Г.​Герасімаў, У.​Ф.​Мужыцкі, В.​В.​Сухарукаў і інш.

На Беларусі развіццё Н.к. звязана з працамі М.С.Акулава, які ў 1963 заснаваў Аддзел фізікі неразбуральнага кантролю (з 1980 Ін-т прыкладной фізікі). Далейшае развіццё Н.к. атрымаў у працах М.М.Зацэпіна. які сфарміраваў навук. кірунак ін-та і распрацаваў тэарэт. асновы эл.-магн. кантролю. Закладзены тэарэт. асновы Н.к. пранікальнымі вадкасцямі (П.П.Прахарэнка, М.​П.​Мігун). Распрацаваны ці атрымалі далейшае развіццё: магн. таўшчыняметрыя, метад тэрма-эрс (А.​А.​Лухвіч), кантактна-дынамічны метад кантролю цвёрдасці і інш. мех. уласцівасцей (В.​А.​Рудніцкі), радыёхвалевыя метады (І.​С.​Кавалёў), імпульсны метад магн. кантролю мех. уласцівасцей сталей (М.​А.​Мяльгуй), магн. кантроль ліставога пракату, што рухаецца ў вытв. патоку (У.​Ф.​Мацюк), выкарыстанне магн. вадкасцей (А.​Р.​Баеў), кантроль магн. страт і індукцыі ў электратэхн. сталі і вырабах з яе (І.​І.​Бранавіцкі), ультрагукавы кантроль (Г.​Я.​Канавалаў), магніташумавая структураскапія (В.​Л.​Венгрыновіч), магн. кантроль малагабарытных вырабаў у вытв. патоку (С.​Р.​Сандамірскі), тэорыя дынамічных сістэм з выпадковымі зменамі структуры, кантроль узроўню вадкіх і сыпкіх прадуктаў у рэзервуарах (В.​М.​Арцём’еў) і інш. Метады і сродкі Н.к. распрацоўваюцца таксама ў БДУ, БПА, Мінскім навукова-прамысл. ін-це «Падшыпнік», Магілёўскім машынабуд. ін-це і інш.

Літ.:

Зацепин Н.Н. Неразрушающий контроль: (Избр. вопр. теории поля). Мн., 1979;

Мельгуй М.А. Магнитный контроль механических свойств сталей. Мн., 1980;

Prokhorenko P., Migoun N., Stadthaus M. Theoretical principies of liquid penetrant testing. Berlin, 1999;

Венгринович В.Л. Магнитошумовая структуроскопия. Мн., 1991.

М.​А.​Мяльгуй. П.​П.​Прахарэнка.

Неразлучнікі: 1 — ружовашчокі; 2 — маскавы.

т. 11, с. 290

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

КАРТАДРУКАВА́ННЕ,

комплекс тэхнал. працэсаў па стварэнні картаграфічнай прадукцыі. Уключае работы; рэдакцыйна-падрыхтоўчыя, картаскладальныя, падрыхтоўкі карты да друку, картавыдавецкія.

Рэдакцыйна-падрыхтоўчыя работы — гэта збор, сістэматызацыя і навук. абагульненне картаграфічных матэрыялаў, выбар маштабу і картаграфічных праекцый, пабудова макета кампаноўкі, вызначэнне спосабаў адлюстравання і ўмоўных адзнак, стварэнне ўзору фарбавага афармлення, пабудова картаграфічнай (пры неабходнасці каардынатнай) сеткі, нанясенне пунктаў дзярж. геадэзічнай сеткі і інш. Картаскладальныя работы — графічная пабудова арыгінала карты і перанос картаграфічнага відарыса з зыходных матэрыялаў на падрыхтаваную аснову. Перанос ажыццяўляюць спосабамі камп’ютэрнага картаграфавання ці традыцыйнымі: оптыка-механічным пры дапамозе фотарэпрадуцыравання, фотатрансфармавання; праектыўным — праз эпідыяскоп або аптычныя рысавальныя прылады; графамеханічным з выкарыстаннем пантографа, перспектографа і інш. Пры камп’ютэрным картаграфаванні выкарыстоўваюць спец. графічныя сістэмы на базе персанальных камп’ютэраў з адпаведным праграмным забеспячэннем (фотаграмметрычныя, картаграфічныя, графічныя і тэкставыя праграмы). Адначасова з графічнай пабудовай зместу карты робяць фарбавае афармленне і наносяць подпісы назваў. Падрыхтоўка да друку ўключае выраб штрыхавых выдавецкіх арыгіналаў гравіраваннем на пласцінах мех., хім., тэрмаэл. лазерным спосабамі або вычэрчваннем на пластычнай ці папяровай аснове. У выніку гравіравання атрымліваюць арыгінал з негатыўным відарысам элементаў. Фарбавы арыгінал і макеты (неабходныя пры стварэнні дыяпазітываў фонавых элементаў карты) робяць акварэльнымі фарбамі ад рукі. Картавыдавецкія працэсы ўключаюць рэпрадукцыйныя, рэтушорныя, святлокапіравальныя, друкарскія і пераплётна-брашуровачныя работы. Пры камп’ютэрнай тэхналогіі колерадзяленне і фотавывад дыяпазітываў карты ажыццяўляюць на электронным фотанаборным аўтамаце, дзе атрымліваюць фотаформы штрыхавога і растравага тонавага відарыса на фотаадчувальным матэрыяле (плёнцы, паперы) пры экспаніраванні яго лазерным промнем. Пры традыцыйнай тэхналогіі выкарыстоўваюцца чорна-белыя штрыхавыя, паўтонавыя, фонавыя і каляровыя арыгіналы на маладэфармавальнай арміраванай аснове. Вычарчаныя на ватмане арыгіналы фатаграфуюць і з негатываў робяць столькі дыяпазітываў, колькі на карце выкарыстана фарбаў; паўтонавыя арыгіналы рэпрадуцыруюць з дапамогай праекцыйных або кантактных растраў; фонавыя вырабляюцца ўручную або метадам здымнага слоя з выкарыстаннем залівак або сетак, каляровыя ўзнаўляюцца электроннымі сканіруючымі прыладамі або рэпрадуцыруюцца з дапамогай святлафільтраў і колеракарэкціруючых аптычных прыстасаванняў. Са створаных дыяпазітываў на фотапалімерных алюмініевых пласцінах пазітыўным кантактным святлокапіраваннем атрымліваюць друкарскія формы плоскага (афсетнага) друку. Тыраж друкуецца на ратацыйных ліставых друкарскіх машынах (у асн. 2- і 4-фарбавых).

На Беларусі К. на прамысл. узроўні вядзецца з 1939 на Мінскай картаграфічнай ф-цы (цяпер дзярж. прадпрыемства «Мінская друкарская фабрыка»), з 1947 таксама на Бел. картографа-геадэзічным прадпрыемстве (цяпер Бел. картаграфічнае аб’яднанне «Белгеадэзія»). З 1990-х г. існуюць і прыватныя картаграфічныя выд-вы і прадпрыемствы («Трывіум», «Арты-фекс», «Квадрограф», «Еўраферлаг»), якія шырока выкарыстоўваюць камп’ютэрнае абсталяванне і высокія сучасныя тэхналогіі. Гл. таксама Геаграфічныя карты, Картаграфія.

Літ.:

Билич Ю.С., Васмут А.С. Проектирование и составление карт. М., 1984;

Справочник по картографии. М., 1988;

Издание карт [Справ.]. М., 1995.

В.​М.​Пейхвасер.

т. 8, с. 103

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ПРЫЛАДАБУДАВА́ННЕ,

комплекс галін прам-сці па вытв-сці сродкаў вымярэнняў, аналізу, апрацоўкі і прадастаўлення інфармацыі, прылад і прыстасаванняў кантролю і рэгулявання тэхнал. працэсаў, сродкаў аўтаматызацыі вытворчасці, сістэм кіравання і навук. даследаванняў. У залежнасці ад тэхнал. асаблівасцей адрозніваюць П. дакладнай механікі і электрамеханікі, аптычнае, оптаэлектроннае і лазернае, электроннае. Найб. пашыраны прылады вымярэння мех. (вуглавых і лінейных памераў і перамяшчэнняў, масы, сілы, вібрацыі, цвёрдасці, дэфармацыі, трываласці), эл. і магн. (напружання, току, магутнасці, частаты, супраціўлення, ёмістасці), цеплаэнергет. (т-ры, ціску, расходу рэчыва, узроўню), аптычных, радыяцыйных і інш. велічынь. Сродкі вымяральнай тэхнікі ў спалучэнні з рэгулюючымі, вылічальнымі і выканаўчымі прыстасаваннямі складаюць тэхн. базу аўтаматызаваных сістэм кіравання тэхнал. працэсамі.

Значнае месца ў П. займаюць: прылады і прыстасаванні вылічальнай тэхнікі, што выкарыстоўваюцца для механізацыі і аўтаматызацыі працэсаў вылічэнняў і апрацоўкі інфармацыі пры рашэнні інж. і навук. задач; аналітычныя прылады для вызначэння саставу і канцэнтрацыі рэчываў у розных асяроддзях, матэрыялах і прадуктах (электрахім., ультрагукавыя, аптычныя, ядзерныя і інш. аналізатары); сродкі тэлемеханікі для перадачы інфармацыйных сігналаў і кіроўных імпульсаў на вял. адлегласці; прылады і прыстасаванні выпрабавальнай тэхнікі, аргтэхнікі. Стварэнню кампактных надзейных прылад, вымяральных, вылічальных і інш. сродкаў тэлемеханікі і аўтаматыкі садзейнічала развіццё мікраэлектронікі. оптаэлектронікі, мікрамеханікі і г.д., выкарыстанне матэрыялаў з асаблівымі ўласцівасцямі (плёнак, вадкіх крышталёў, магн. вадкасцей і да т.п.), новых тэхналогій.

Прадукцыя П. шырока выкарыстоўваецца ва ўсіх галінах нар. гаспадаркі і быту.

У 19 ст. ў Расіі было некалькі невял. прадпрыемстваў, якія выпускалі тэрмометры, вагі. манометры, вадамеры і інш. найпрасцейшыя прылады. У СССР прамысл. вытв-сць прадукцыі П. пачалася ў канцы 1920 — пач. 1930-х г. З 1965 існавала Мін-ва прыладабудавання, сродкаў аўтаматызацыі і сістэм кіравання. Найбольшыя спецыялізаваныя прадпрыемствы пабудаваны ў Маскве, Ленінградзе, на Украіне, Беларусі, у рэспубліках Прыбалтыкі.

На Беларусі ў 1789—93 дзейнічала Беражанская гадзіннікавая мануфактура, з канца 19 ст.ф-ка ў Віцебску, якая вырабляла акуляры, фіз., аптэкарскія і хірург. інструменты, і некалькі майстэрняў па рамонце нескладаных прылад. У 1920-я г. адзін з цэхаў мінскага з-да «Энергія» вырабляў вагі. У 1930 створаны вагавы з-д «Ударнік». У пач. 1950-х г. пачата вытв-сць больш складаных і дакладных прылад. Як асобная галіна П. сфарміравалася ў 1950—60-я г. з уводам у дзеянне Гомельскага завода вымяральных прылад і інш. Разнастайныя прылады прамысл., энергет. і быт. прызначэння выпускаюць Брэсцкі электрамеханічны завод, Віцебскае вытворчае аб’яднанне «Электравымяральнік», Віцебскі прыладабудаўнічы завод, Гродзенскі завод «Радыёпрылада», Магілёўскі завод «Электрарухавік», Мінскае вытворчае аб’яднанне вылічальнай тэхнікі, Мінскі гадзіннікавы завод, Мінскі прыборабудаўнічы завод і інш. Н.-д. і доследна-канструктарскія работы ў галіне П. вядуцца ў Мінскім навукова-даследчым прыборабудаўнічым інстытуце.

У.​І.​Шамкаловіч.

т. 13, с. 69

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)