Verbum

ГЕАДЭЗІ́ЧНЫЯ ПРЫЛА́ДЫ І ІНСТРУМЕ́НТЫ,

прыстасаванні для вымярэння даўжынь ліній, вуглоў, перавышэнняў, азімутаў пры нівеліраванні, тапагр. здымцы, маркшэйдэрскіх работах, вышуканнях, будаўніцтве, мантажы і эксплуатацыі розных інж. збудаванняў. Паводле прынцыпу работы і будовы адрозніваюць мех., оптыка-мех., электрааптычныя і радыёэлектронныя геад. прылады. Стальныя або інварныя мерныя стужкі выкарыстоўваюць для вымярэння даўжынь ліній, базісныя прылады з падвесным інварным дротам — для вызначэння базісаў і трыянгуляцыі, дальнамерамі (святлодальнамер, радыёвышынямер, радыёдальнамер) вызначаюць даўжыню ліній без непасрэдных вымярэнняў з дакладнасцю да 0,1 мм на 100 м. Вуглы вымяраюць тэадалітамі (высокадасканальныя аптычныя, фотатэадаліты, гідратэадаліты) і бусоллю. Дакладнасць вымярэння вуглоў ад 15′—10′ у бусолі да 0,5″ у аптычнага тэадаліта. Нівеліры выкарыстоўваюць пераважна для вымярэння перавышэнняў, стварэння нівелірнай сеткі, вышыннага абгрунтавання тапагр. здымак. Паводле дакладнасці яны падзяляюцца на высокадакладныя, дакладныя і тэхнічныя. Гідрастатычнымі нівелірамі карыстаюцца зрэдку, прынцып дзеяння іх заснаваны на вымярэнні ўзроўняў вадкасці ў сасудах, злучаных гнуткім шлангам. З камбінаваных геадэзічных прылад найчасцей выкарыстоўваюць тахеометр (для вымярэння гарыз. і верт. вуглоў, даўжынь ліній і перавышэнняў) і кіпрэгель (для вымярэння верт. вуглоў, адлегласцей, перавышэнняў і графічнай пабудовы напрамкаў пры выкананні спец. мензульнай здымкі). Экліметр выкарыстоўваюць у геад. здымцы для вымярэння вуглоў нахілу ліній з дакладнасцю да 0,1°; экер — для адкладання на мясцовасці фіксаванага вугла; мензула (дошка-планшэт і падстаўкі з установачнымі прыстасаваннямі) — асн. ч. камплекта для тапагр. мензульнай здымкі; ватэрпас вадкасны або электрамеханічны — для вызначэння становішча геад. прылад і іх асобных вузлоў адносна верт. ліній; рэйка геадэзічная (брусок даўж. 1,5—4 м з нанесенай шкалой) — для вымярэння адлегласцей або перавышэнняў пры тапагр. здымцы. Пры складанні планаў, картаў і пры карыстанні імі ўжываюцца каардынатографы, маштабныя лінейкі і вымяральнікі, транспарціры, планіметры і курвіметры.

Р.​А.​Жмойдзяк.

т. 5, с. 116

ВЫМЯРА́ЛЬНЫ ПЕРАЎТВАРА́ЛЬНІК,

прыстасаванне, якое пераўтварае фіз. велічыню, што вымяраецца або рэгулюецца, у сігнал (звычайна электрычны) для далейшай перадачы, апрацоўкі ці рэгістрацыі. Адна з асн. частак сродкаў вымяральнай тэхнікі, сістэм аўтаматыкі і тэлемеханікі. Тэрмін «вымяральны пераўтваральнік» уведзены стандартам замест тэрміна «датчык».

Параметры, якія ўспрымаюцца вымяральным пераўтваральнікам, бываюць механічныя (намаганне, перамяшчэнне, скорасць, вібрацыя), гідраўлічныя і пнеўматычныя (ціск, расход), аптычныя (сіла святла), цеплавыя (т-ра), электрычныя (напружанне і ток), радыеактыўныя. Выходныя сігналы падзяляюцца на электрычныя і пнеўматычныя (часам гідраўлічныя), амплітудныя, часаімпульсныя, частотныя і фазавыя, аналагавыя (неперарыўныя) і лічбавыя (дыскрэтныя). Вымяральны пераўтваральнік складаецца з аднаго (напр., тэрмапара, тэнзометр) або з некалькіх элементарных пераўтваральнікаў, найважнейшы з якіх — адчувальны элемент. Пераўтваральнікі злучаюцца па каскаднай, дыферэнцыяльнай і кампенсацыйнай схемах. Найб. Пашыраны маштабныя і функцыянальныя вымяральныя пераўтваральнікі. Маштабныя (напр., дзялільнікі частаты і напружання, трансфарматары вымяральныя) мяняюць маштаб велічыні, якая вымяраецца, без змены яе фіз. прыроды. Гэтыя вымяральныя пераўтваральнікі пашыраюць межы вымярэнняў сродкамі вымяральнай тэхнікі. Функцыянальныя вымяральныя пераўтваральнікі (напр., тэрмарэзістары, фотаэлементы) пераўтвараюць велічыню той ці іншай фіз. прыроды ў функцыянальна звязаны з ёй сігнал (звычайна электрычны). Такімі вымяральнымі пераўтваральнікамі можна вымяраць разнастайныя неэл. велічыні. Асобны клас складаюць аперацыйныя вымяральныя пераўтваральнікі, якія выконваюць над велічынямі пэўныя матэм. аперацыі (інтэграванне, дыферэнцыраванне і інш.). Асн. характарыстыкі вымяральных пераўтваральнікаў: від функцыянальнай залежнасці паміж уваходнай і выходнай велічынямі, адчувальнасць і парог адчувальнасці, хібнасць.

У.​М.​Сацута.

т. 4, с. 315

ДЭФЕ́КТЫ Ў КРЫШТА́ЛЯХ,

парушэнні перыядычнасці размяшчэння часціц у крышталічнай рашотцы. Узнікаюць пры росце крышталёў ці іх фазавых ператварэннях, цеплавых, мех., эл. і інш. уздзеяннях, увядзенні дамешкаў. Адрозніваюць дэфекты кропкавыя (нульмерныя), лінейныя (аднамерныя), паверхневыя (двухмерныя) і аб’ёмныя (трохмерныя).

Кропкавыя дэфекты — парушэнні перыядычнасці ўласнай атамнай структуры крышталя: вакансіі атамы і іоны, што перамясціліся з нармальнага становішча ў міжвузелле (міжвузельныя атамы і іоны); атамы і іоны ў крышталях хім. злучэнняў, якія займаюць вузлы «чужой» падрашоткі; дэфекты, што ўзнікаюць пры ўвядзенні ў крышталь дамешкавых атамаў. Узаемадзеянне такіх дэфектаў паміж сабой прыводзіць да ўзнікнення складаных дэфектаў: дывакансій (падвойных вакансій), кластараў (скопішчаў дэфектаў) і інш. Лінейныя дэфекты — ланцужкі кропкавых дэфектаў, краявыя і вінтавыя дыслакацыі. Паверхневыя дэфекты: няправільна ўкладзеныя слаі атамаў (дэфекты ўпакоўкі); заканамерныя парушэнні нармальнага чаргавання атамных плоскасцей; дэфекты двайнікавання з кропкавай сіметрыяй; межы ўключэнняў; сама паверхня крышталя і інш. Аб’ёмныя дэфекты: парушэнні, звязаныя з адхіленнем ад законаў стэхіяметрыі; скопішчы вакансій; нерэгулярныя ўтварэнні ў выглядзе расколін, пустот, уключэнняў іншай фазы; скопішчы дамешкаў на дыслакацыях, у зонах росту і інш. макраскапічныя дэфекты. Д. ў к. уплываюць на мех., аптычныя, эл., магн. і інш. ўласцівасці крышталёў. У дасканалай крышт. рашотцы рух атамаў і іонаў немагчымы; у крышталях з дэфектамі міграцыя атамаў абумоўлівае ўзаемную дыфузію цвёрдых цел, хім. цвердафазныя рэакцыі і інш. з’явы. Д. ў к. могуць уводзіцца мэтанакіравана або ўзнікаць выпадкова пад уздзеяннем фактараў, якія не кантралююцца. Спец. ўвядзенне дэфектаў або іх выдаленне — важная частка тэхналогіі вытв-сці паўправадніковых матэрыялаў, люмінафораў, лазерных і фотахромных крышталёў і шкла, паўправадніковых прылад. Шчыльнасць непажаданых дэфектаў памяншаецца ўдасканаленнем метадаў вырошчвання і апрацоўкі крышталёў. Д. ў к. вывучаюцца аптычнымі метадамі, іоннай і электроннай мікраскапіяй, метадам выбіральнага траўлення, рэнтгенадыфракцыйнымі і ядз.-фіз. метадамі.

Літ.:

Современная кристаллография Т. 2. М., 1979;

Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. М., 1981;

Орлов А.Н. Введение в теорию дефектов в кристаллах. М., 1983;

Орлов А.Н., Трушин Ю.В. Энергии точечных дефектов в металлах. М., 1983.

Р.​М.​Шахлевіч.

т. 6, с. 364

ІНСТЫТУ́Т ЭЛЕКТРО́НІКІ Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі.

Засн. ў 1973 на базе Лабараторыі электронікі АН Беларусі (існавала з 1961). У ін-це (1998) 10 лабараторый, аспірантура, савет па абароне канд. і доктарскіх дысертацый.

Асн. кірункі навук. даследаванняў: фіз. асновы оптаэлектронікі і аптычныя метады апрацоўкі інфармацыі; фіз. асновы мікраэлектронікі, у межах якіх распрацоўкі накіраваны на стварэнне элементнай базы для звышхуткадзейных і высокапрадукцыйных сістэм атрымання, захоўвання, перадачы і апрацоўкі інфармацыі; оптаэлектронных элементаў і прылад для аптычнай (у т. л. лазерна-галаграфічных сістэм) апрацоўкі інфармацыі, валаконна-аптычных ліній сувязі, вымяральнай тэхнікі і фотааўтаматыкі; оптыка-электронных, магн.-эл. і інш. пераўтваральнікаў для сістэм кантролю і вымярэння; вакуумных мікраэлектронных прылад для экстрэмальных умоў эксплуатацыі, прылад мікрамеханікі і мікрасенсорыкі; матэрыялаў для мікраэлектронікі і нанатэхналогій. Вынікі навук. даследаванняў: распрацаваны новыя матэрыялы для мікраэлектронікі; метады і сродкі прасторавай і прасторава-часавай мадуляцыі светлавых патокаў, якія забяспечваюць эфектыўнае пераўтварэнне двух- і аднамерных аптычных сігналаў; распрацаваны і створаны фотапрыёмнікі і фотапрыёмныя структуры для валаконна-аптычных ліній сувязі, сістэм аўтафакусіроўкі, рэгістрацыі звышслабых свячэнняў; высокаадчувальныя фотарэзістары і на іх аснове створаны оптаэлектронныя пераўтваральнікі для нанавальтметраў і мультыметраў; створаны спецыялізаваныя высокакагерэнтныя цвердацелыя лазеры для патрэб аптычнай лакацыі, галаграфіі і неразбуральнага кантролю вібратрываласных характарыстык вырабаў машынабудавання метадамі галаграфічнай інтэрфераметрыі, алюма-аксідная тэхналогія стварэння вакуумнай мікраэлектронікі, мікрамеханікі і нанаэлектронікі, вакуумныя інтэгральныя схемы для экстрэмальных умоў эксплуатацыі пры высокіх узроўнях т-р і радыяцыі; выпрацаваны прынцыпы пабудовы высокаадчувальных вымяральнікаў кампанентаў вектара індукцыі магн. поля Зямлі; створана апаратура арыентацыі галаўных частак метэаракет, вымярэння траекторый ствалоў свідравін у працэсе бурэння, спектрафотаметрычная апаратура, якая ўстанаўліваецца на ШСЗ для даследаванняў азонасферы Зямлі, шэраг высокапрадукцыйных сістэм аўтаматызаванага высокадакладнага вымярэння і кантролю памераў вырабаў электроннай тэхнікі, валаконнай оптыкі, а таксама субмікронных часцінак у тэхнал. асяроддзях; устаноўлены заканамернасці структурных і фазавых пераўтварэнняў у тонкіх паўправадніковых і метал. плёнках, сістэмах метал-паўправаднік пры імпульсным лазерным уздзеянні. Распрацоўкі ін-та адзначаны Дзярж. прэміяй СССР (1985), Дзярж. прэміямі Беларусі (1982, 1996), ЛКСМБ (1974). У Ін-це працаваў чл.-кар. АН СССР В.М.Аўдзееў; працуюць акад. Нац. АН Беларусі У.А.Піліповіч і чл.-кар. А.А.Кавалёў.

Я.​К.​Чаховіч.

т. 7, с. 275

ІНФРАЧЫРВО́НАЯ СПЕКТРАСКАПІ́Я,

раздзел спектраскапіі, які займаецца атрыманнем, даследаваннем і выкарыстаннем спектраў вылучэння, паглынання і адбіцця ў інфрачырвонай вобласці спектра (гл. Інфрачырвонае выпрамяненне). Паводле сістэм, што вывучаюцца, І.с. адносіцца да малекулярнай спектраскапіі; паводле станаў, пераходы паміж якімі выклікаюць лініі і палосы інфрачырвонага спектра, — да вагальнай і вярчальнай спектраскапіі. Вывучае ў асн. малекулярныя спектры, бо ў інфрачырв. вобласці размешчана большасць вагальных і вярчальных спектраў малекул.

Найб пашыраны даследаванні інфрачырв спектраў паглынання, якія ўзнікаюць з прычыны паглынання інфрачырв. выпрамянення пры праходжанні яго праз рэчыва. Колькасную сувязь паміж інтэнсіўнасцю выпрамянення, якое падае на рэчыва, прайшло праз яго, і велічынямі, што характарызуюць паглынальнае рэчыва, дае Бугера—Ламберта—Бэра закон. На практыцы звычайна інфрачырв. спектр паглынання паказваюць графічна ў выглядзе залежнасці ад частаты (або даўжыні хвалі) шэрагу велічынь, якія характарызуюць паглынальнае рэчыва (каэф. прапускання, паглынання, аптычная шчыльнасць і інш.). Асн. характарыстыкі спектраў інфрачырв. паглынання: колькасць палос паглынання ў спектры, іх становішча (размяшчэнне), шырыня і форма, велічыня паглынання Яны вызначаюцца структурай і хім. саставам паглынальнага рэчыва, залежаць ад яго агрэгатнага стану, т-ры, ціску і інш. Характарызуюцца высокай выбіральнасцю і адчувальнасцю да розных хім. і структурных пераўтварэнняў рэчываў, саставу іх сумесей. Метады І.с. выкарыстоўваюцца для вызначэння структуры малекул, іх хім. саставу, для якаснага і колькаснага аналізу хім. груп і сувязей, сумесей розных рэчываў і матэрыялаў, біял. аб’ектаў і інш. (гл. Спектры аптычныя).

У Беларусі даследаванні па І.с. вядуцца з 1954—55 у БДУ і Нац. АН (Б.​І.​Сцяпанаў, М.​А.​Барысевіч, Р.​Г.​Жбанкоў, К.​М.​Салаўёў, Дз.​С.​Умрэйка, В.​Р.​Верашчагін і інш.). Асн. кірункі: вывучэнне вугляводаў (у т. л. цэлюлозы), іх фіз. і хім. мадыфікацый, іонных і іонарадыкальных злучэнняў, парфірынаў, каардынацыйных злучэнняў цяжкіх металаў, пары арган. малекул, рассеяння інфрачырв. выпрамянення дысперснымі сістэмамі.

Літ.:

Кросс А Введение в практическую инфракрасную спектроскопию: Пер. с англ. М., 1961;

Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию. М., 1979;

Жбанков Р.Г. Инфракрасные спектры и структура углеводов. Мн., 1972;

Колебания молекул. 2 изд. М., 1972.

Р.​Г.​Жбанкоў.

т. 7, с. 295

ВЫМЯРА́ЛЬНАЯ ТЭ́ХНІКА,

галіна навукі і тэхнікі, звязаная з вывучэннем, вырабам і выкарыстаннем сродкаў вымярэнняў. Грунтуецца на навук. дысцыплінах, якія вывучаюць метады і сродкі атрымання колькаснай інфармацыі аб велічынях, што характарызуюць аб’екты і вытв. працэсы. Уключае вымяральныя прылады, інструменты, машыны і ўстаноўкі, прызначаныя для рэгістрацыі вынікаў вымярэння. Звязана з вылічальнай тэхнікай, кібернетыкай тэхнічнай, тэлемеханікай, электронікай, аўтаматыкай і інш.

Вымяральная тэхніка ўзнікла ў глыбокай старажытнасці і была звязана з вымярэннем мас і аб’ёмаў, адлегласцей і плошчаў, адрэзкаў часу, вуглоў і г.д. Да 16—18 ст. адносіцца ўдасканаленне гадзіннікаў і вагаў, вынаходства мікраскопа, барометра, тэрмометра. У канцы 18 — 1-й пал. 19 ст. з пашырэннем паравых рухавікоў і развіццём машынабудавання развіваецца прамысл. вымяральная тэхніка: удасканальваюцца прылады для вызначэння памераў, з’яўляюцца вымяральныя машыны, уводзяцца калібры, розныя меры фіз. велічынь (у т. л. эталоны) і г.д. У 19 ст. створаны асновы тэорыі вымяральнай тэхнікі і метралогіі, пашырылася метрычная сістэма мер, з’явіліся электравымяральныя прылады і цеплатэхнічныя прылады. У 20 ст. пачынаюць выкарыстоўвацца эл. і электронныя сродкі для вымярэння мех., цеплавых, аптычных і інш. велічынь, для хім. аналізу і геолагаразведкі, развіваюцца радыёвымярэнні і спектраметрыя, узнікае прыладабуд. прам-сць. Гал. кірункі развіцця сучаснай вымяральнай тэхнікі: лінейныя і вуглавыя вымярэнні; мех., аптычныя, акустычныя, цеплафіз., фіз.-хім. вымярэнні; эл., магн. і радыёвымярэнні; вымярэнні частаты і часу, выпрамяненняў (гл., напр., Арэометр, Асцылограф, Вакуумметр, Вісказіметр, Вымяральны пераўтваральнік, Газааналізатар, Геадэзічныя прылады і інструменты, Дазіметрычныя прылады, Інтэрферометр, Каларыметр, Люксметр, Манометр, Пнеўматычны пераўтваральнік, Радыёвымяральныя прылады, Спектрометр, Частатамер).

Шырока выкарыстоўваюцца (пераважна ў машынабудаванні) вымяральныя інструменты: універсальныя (для вымярэння дыяпазонаў памераў) і бясшкальныя (для вымярэння аднаго пэўнага памеру). Універсальныя падзяляюцца на штрыхавыя (штанген-інструменты, вугламеры, лінейкі, вугольнікі, кронцыркулі), мікраметрычныя (глыбінямеры, мікрометры, нутрамеры), механічныя з рознымі тыпамі мех. перадач (індыкатары гадзіннікавага тыпу, мініметры, мікатары), оптыка-механічныя (праектары, вымяральныя мікраскопы) і інш. Многія прылады далучаюць розныя канструкцыйныя асаблівасці, напр. аптыметры (рычажна-аптычная сістэма). Бясшкальныя інструменты — сродкі допускавага кантролю; гэта калібры (кольцы, шаблоны, коркі, скобы) і канцавыя меры (стальныя пліткі пэўнай таўшчыні ў наборах). Адным з гал. кірункаў далейшага развіцця вымяральнай тэхнікі з’яўляецца распрацоўка інфарм.-вымяральных сістэм. Удасканальваюцца сродкі дылатаметрыі, дазіметрыі, мас-спектраметрыі, рэфрактаметрыі, тэлеметрыі. Тэарэт. і навук.-практычную аснову ўдасканалення вымяральнай тэхнікі як аднаго з кірункаў прыладабудавання складаюць дасягненні і распрацоўкі ў галіне фіз тэхн. навук. На Беларусі сродкі вымяральнай тэхнікі выпускаюць Гомельскі завод вымяральных прылад, Віцебскае вытворчае аб’яднанне «Электравымяральнік» і інш.

А.​Р.​Архіпенка, У.​М.​Сацута.

т. 4, с. 314

ВЫСОКАМАЛЕКУЛЯ́РНЫЯ ЗЛУЧЭ́ННІ, палімеры,

хімічныя злучэнні з малекулярнай масай ад некалькіх тысяч да дзесяткаў мільёнаў. Малекулы высокамалекулярных злучэнняў (макрамалекулы) складаюцца з тысяч атамаў, звязаных хім. сувязямі. Паводле паходжання падзяляюць на прыродныя, ці біяпалімеры (напр., бялкі, нуклеінавыя кіслоты, поліцукрыды), і сінтэтычныя (напр., поліэтылен, поліаміды), паводле саставу — на неарганічныя палімеры, арганічныя і элементаарганічныя палімеры.

У залежнасці ад размяшчэння ў макрамалекуле атамаў і груп атамаў (манамерных звёнаў) адрозніваюць высокамалекулярныя злучэнні: лінейныя, макрамалекулы якіх утвараюць адкрыты лінейны ланцуг (напр., каўчук натуральны) ці выцягнутую ў ланцуг паслядоўнасць цыклаў (напр., цэлюлоза); разгалінаваныя, макрамалекулы якіх — лінейны ланцуг з адгалінаваннямі (напр., крухмал); сеткавыя — трохвымерная сетка з адрэзкаў высокамалекулярных злучэнняў ланцуговай будовы (напр., ацверджаныя фенола-альдэгідныя смолы). Макрамалекулы аднолькавага хім. саставу могуць быць пабудаваны з манамерных звёнаў рознай прасторавай канфігурацыі (гл. Прасторавая ізамерыя). Палімеры з адвольным чаргаваннем стэрэаізамерных звёнаў наз. атактычнымі. Стэрэарэгулярныя палімеры складаюцца з аднолькавых ці розных, але размешчаных у ланцугу ў пэўнай паслядоўнасці стэрэаізамераў. Паводле тыпу манамерных звёнаў палімеры падзяляюць на гомапалімеры (палімер утвораны адным манамерам, напр. поліэтылен) і супалімеры (палімер утвораны з розных манамерных звёнаў, напр. бутадыен-стырольныя каўчукі). Асн. фіз.-хім. і мех. ўласцівасці высокамалекулярных злучэнняў: здольнасць утвараць высокатрывалыя валокны і плёнкі палімерныя, набракаць перад растварэннем і ўтвараць высокавязкія растворы, здольнасць да вял. абарачальных дэфармацый (высокаэластычнасць). Гэтыя ўласцівасці абумоўлены высокай малекулярнай масай, ланцуговай будовай і гнуткасцю макрамалекул. У лінейных высокамалекулярных злучэннях яны выяўлены найб. поўна. Трохвымерныя высокамалекулярныя злучэнні з вял. частатой сеткі нерастваральныя, няплаўкія і не здольныя да высокаэластычных дэфармацый. Высокамалекулярныя злучэнні могуць існаваць у крышт. і аморфным фазавым стане. Аморфныя высокамалекулярныя злучэнні акрамя высокаэластычнага могуць знаходзіцца ў шклопадобным і вязкацякучым станах. Высокамалекулярныя злучэнні з нізкай (ніжэй за пакаёвую) т-рай пераходу з шклопадобнага ў высокаэластычны стан наз. эластамерамі, з высокай — пластыкамі (гл. Пластычныя масы).

Палімеры маюць малую шчыльнасць (900—2200 кг/м³), нізкі каэф. трэння і малы знос, выдатныя дыэл. і аптычныя ўласцівасці, высокую хім. ўстойлівасць да к-т, шчолачаў і інш. агрэсіўных рэчываў. Прыродныя высокамалекулярныя злучэнні, якія ўтвараюцца ў клетках жывых арганізмаў у выніку біясінтэзу, вылучаюць з расліннай і жывёльнай сыравіны. Сінт. высокамалекулярныя злучэнні атрымліваюць полімерызацыяй і полікандэнсацыяй. Асн. тыпы палімерных матэрыялаў — пластычныя масы, гума, валокны хімічныя, лакі, фарбы, эмалі, клеі, герметыкі, іонаабменныя смолы выкарыстоўваюць у розных галінах нар. гаспадаркі і побыце. Біяпалімеры складаюць аснову жывых арганізмаў і ўдзельнічаюць ва ўсіх працэсах іх жыццядзейнасці.

М.​Р.​Пракапчук.

т. 4, с. 322

НЕРАЗБУРА́ЛЬНЫ КАНТРО́ЛЬ,

кантроль якасці матэрыялаў, паўфабрыкатаў, вырабаў без іх разбурэння. Засн. на залежнасці паміж уласцівасцямі прадукцыі. што кантралююцца, і якімі-небудзь фіз. параметрамі, якія можна вымераць без пашкоджання вырабу. Адрозніваюць метады Н.к.: акустычныя, магн., аптычныя, радыяцыйныя, радыёхвалевыя, цеплавыя, эл., віхратокавыя і пранікальных рэчываў.

Сродкі Н.к. выконваюцца ў выглядзе аўтаномных прылад, апаратаў, аўтам. ліній, сістэм кіравання тэхнал. працэсамі па адзнаках якасці. Метадамі Н.к. знаходзяць адкрытыя і скрытыя дэфекты тыпу парушэння суцэльнасці (дэфектаскапія), кантралююць геам. характарыстыкі (таўшчыню вырабу, пакрыцця і г.д.), вымяраюць мех. характарыстыкі (цвёрдасць, трываласць, якасць умацавальных слаёў), вызначаюць структуру рэчываў (зярністасць, наяўнасць ферытнай фазы ў сплавах) і інш. Развіццё Н.к. пачалося пасля адкрыцця рэнтгенаўскага выпрамянення (1895). У СССР метады Н.к. пачалі інтэнсіўна развівацца з 1920-х г. Ультрагукавы метад Н.к. дэфектаў (ультрагукавая дэфектаскапія) упершыню прапанавана ў 1928 (С.​Я.​Сакалоў). Значны ўклад у распрацоўку метадаў Н.к. зрабілі рас. вучоныя У.​У.​Клюеў. Р.​І.​Янус, М.​М.​Міхееў. І.​М.​Ярмолаў, В.​Я.​Шчарбінін. В.​Г.​Герасімаў, У.​Ф.​Мужыцкі, В.​В.​Сухарукаў і інш.

На Беларусі развіццё Н.к. звязана з працамі М.С.Акулава, які ў 1963 заснаваў Аддзел фізікі неразбуральнага кантролю (з 1980 Ін-т прыкладной фізікі). Далейшае развіццё Н.к. атрымаў у працах М.М.Зацэпіна. які сфарміраваў навук. кірунак ін-та і распрацаваў тэарэт. асновы эл.-магн. кантролю. Закладзены тэарэт. асновы Н.к. пранікальнымі вадкасцямі (П.П.Прахарэнка, М.​П.​Мігун). Распрацаваны ці атрымалі далейшае развіццё: магн. таўшчыняметрыя, метад тэрма-эрс (А.​А.​Лухвіч), кантактна-дынамічны метад кантролю цвёрдасці і інш. мех. уласцівасцей (В.​А.​Рудніцкі), радыёхвалевыя метады (І.​С.​Кавалёў), імпульсны метад магн. кантролю мех. уласцівасцей сталей (М.​А.​Мяльгуй), магн. кантроль ліставога пракату, што рухаецца ў вытв. патоку (У.​Ф.​Мацюк), выкарыстанне магн. вадкасцей (А.​Р.​Баеў), кантроль магн. страт і індукцыі ў электратэхн. сталі і вырабах з яе (І.​І.​Бранавіцкі), ультрагукавы кантроль (Г.​Я.​Канавалаў), магніташумавая структураскапія (В.​Л.​Венгрыновіч), магн. кантроль малагабарытных вырабаў у вытв. патоку (С.​Р.​Сандамірскі), тэорыя дынамічных сістэм з выпадковымі зменамі структуры, кантроль узроўню вадкіх і сыпкіх прадуктаў у рэзервуарах (В.​М.​Арцём’еў) і інш. Метады і сродкі Н.к. распрацоўваюцца таксама ў БДУ, БПА, Мінскім навукова-прамысл. ін-це «Падшыпнік», Магілёўскім машынабуд. ін-це і інш.

Літ.:

Зацепин Н.Н. Неразрушающий контроль: (Избр. вопр. теории поля). Мн., 1979;

Мельгуй М.А. Магнитный контроль механических свойств сталей. Мн., 1980;

Prokhorenko P., Migoun N., Stadthaus M. Theoretical principies of liquid penetrant testing. Berlin, 1999;

Венгринович В.Л. Магнитошумовая структуроскопия. Мн., 1991.

М.​А.​Мяльгуй. П.​П.​Прахарэнка.

т. 11, с. 290

КАРТАДРУКАВА́ННЕ,

комплекс тэхнал. працэсаў па стварэнні картаграфічнай прадукцыі. Уключае работы; рэдакцыйна-падрыхтоўчыя, картаскладальныя, падрыхтоўкі карты да друку, картавыдавецкія.

Рэдакцыйна-падрыхтоўчыя работы — гэта збор, сістэматызацыя і навук. абагульненне картаграфічных матэрыялаў, выбар маштабу і картаграфічных праекцый, пабудова макета кампаноўкі, вызначэнне спосабаў адлюстравання і ўмоўных адзнак, стварэнне ўзору фарбавага афармлення, пабудова картаграфічнай (пры неабходнасці каардынатнай) сеткі, нанясенне пунктаў дзярж. геадэзічнай сеткі і інш. Картаскладальныя работы — графічная пабудова арыгінала карты і перанос картаграфічнага відарыса з зыходных матэрыялаў на падрыхтаваную аснову. Перанос ажыццяўляюць спосабамі камп’ютэрнага картаграфавання ці традыцыйнымі: оптыка-механічным пры дапамозе фотарэпрадуцыравання, фотатрансфармавання; праектыўным — праз эпідыяскоп або аптычныя рысавальныя прылады; графамеханічным з выкарыстаннем пантографа, перспектографа і інш. Пры камп’ютэрным картаграфаванні выкарыстоўваюць спец. графічныя сістэмы на базе персанальных камп’ютэраў з адпаведным праграмным забеспячэннем (фотаграмметрычныя, картаграфічныя, графічныя і тэкставыя праграмы). Адначасова з графічнай пабудовай зместу карты робяць фарбавае афармленне і наносяць подпісы назваў. Падрыхтоўка да друку ўключае выраб штрыхавых выдавецкіх арыгіналаў гравіраваннем на пласцінах мех., хім., тэрмаэл. лазерным спосабамі або вычэрчваннем на пластычнай ці папяровай аснове. У выніку гравіравання атрымліваюць арыгінал з негатыўным відарысам элементаў. Фарбавы арыгінал і макеты (неабходныя пры стварэнні дыяпазітываў фонавых элементаў карты) робяць акварэльнымі фарбамі ад рукі. Картавыдавецкія працэсы ўключаюць рэпрадукцыйныя, рэтушорныя, святлокапіравальныя, друкарскія і пераплётна-брашуровачныя работы. Пры камп’ютэрнай тэхналогіі колерадзяленне і фотавывад дыяпазітываў карты ажыццяўляюць на электронным фотанаборным аўтамаце, дзе атрымліваюць фотаформы штрыхавога і растравага тонавага відарыса на фотаадчувальным матэрыяле (плёнцы, паперы) пры экспаніраванні яго лазерным промнем. Пры традыцыйнай тэхналогіі выкарыстоўваюцца чорна-белыя штрыхавыя, паўтонавыя, фонавыя і каляровыя арыгіналы на маладэфармавальнай арміраванай аснове. Вычарчаныя на ватмане арыгіналы фатаграфуюць і з негатываў робяць столькі дыяпазітываў, колькі на карце выкарыстана фарбаў; паўтонавыя арыгіналы рэпрадуцыруюць з дапамогай праекцыйных або кантактных растраў; фонавыя вырабляюцца ўручную або метадам здымнага слоя з выкарыстаннем залівак або сетак, каляровыя ўзнаўляюцца электроннымі сканіруючымі прыладамі або рэпрадуцыруюцца з дапамогай святлафільтраў і колеракарэкціруючых аптычных прыстасаванняў. Са створаных дыяпазітываў на фотапалімерных алюмініевых пласцінах пазітыўным кантактным святлокапіраваннем атрымліваюць друкарскія формы плоскага (афсетнага) друку. Тыраж друкуецца на ратацыйных ліставых друкарскіх машынах (у асн. 2- і 4-фарбавых).

На Беларусі К. на прамысл. узроўні вядзецца з 1939 на Мінскай картаграфічнай ф-цы (цяпер дзярж. прадпрыемства «Мінская друкарская фабрыка»), з 1947 таксама на Бел. картографа-геадэзічным прадпрыемстве (цяпер Бел. картаграфічнае аб’яднанне «Белгеадэзія»). З 1990-х г. існуюць і прыватныя картаграфічныя выд-вы і прадпрыемствы («Трывіум», «Арты-фекс», «Квадрограф», «Еўраферлаг»), якія шырока выкарыстоўваюць камп’ютэрнае абсталяванне і высокія сучасныя тэхналогіі. Гл. таксама Геаграфічныя карты, Картаграфія.

Літ.:

Билич Ю.С., Васмут А.С. Проектирование и составление карт. М., 1984;

Справочник по картографии. М., 1988;

Издание карт [Справ.]. М., 1995.

В.​М.​Пейхвасер.

т. 8, с. 103

МІНЕРА́ЛЫ (ад позналац. minera руда),

прыродныя хім. злучэнні, радзей самародныя элементы, пераважна цвёрдыя целы крышталічнай і аморфнай будовы, прыкладна аднародныя паводле хім. саставу і фіз. уласцівасцей, утвораныя ў выніку фіз.-хім. працэсаў у нетрах і на паверхні Зямлі або інш. планет, устойлівыя ў пэўных фіз.-хім. межах; састаўная ч. горных парод і руд. Гэта самародныя элементы, сульфіды, галагеніды, аксіды і гідраксіды, кіслародныя солі. Да М. часам адносяць некаторыя арган. злучэнні і ваду. М., якія складаюць горныя пароды, наз. пародаўтваральнымі, тыя, што прысутнічаюць у пародзе ў нязначнай колькасці — акцэсорнымі.

Фіз. і хім. ўласцівасці пераважнай большасці М. залежаць ад хім. саставу і структуры крышт. рашоткі. Вылучаюць ізаморфныя разнавіднасці мінералаў (пры аднолькавай форме пераменны хім. састаў) і паліморфныя аднаго хім. саставу (напр., алмаз і графіт). Вядома каля 2 тыс. М. Найб. пашыраны М. класа сілікатаў (34% ад агульнай колькасці), аксіды і гідраксіды (каля 25%), сульфідныя злучэнні і іх аналагі (каля 20%). Колер, бляск, празрыстасць, цвёрдасць, шчыльнасць, спайнасць, злом, аптычныя характарыстыкі, магнітнасць, электраправоднасць, радыеактыўнасць і інш. ўласцівасці М. цесна звязаны з хім. саставам і структурай. Колер М. разнастайны і залежыць ад храмафорных (афарбоўваючых) элементаў, змены аптычнай аднароднасці крышт. рашоткі, мех. дамешкаў і інш. Бляск М. шкляны, алмазны, паўметалічны і металічны. М. падзяляюцца на празрыстыя (напр., тапаз, горны хрусталь), паўпразрыстыя (напр., кінавар, сфалерыт), непразрыстыя (напр., магнетыт, графіт). Цвёрдасць М. вызначаецца пераважна паводле шкалы Моаса (ад 1 да 10, напр., тальк — цв. 1, алмаз — цв. 10). Пры вызначэнні М. і ўмоў іх утварэння вял. значэнне мае марфалогія (вонкавы выгляд крышталяў — прызматычныя, таблітчастыя, ігольчастыя, слупковыя, ліставатыя, лускавінкавыя і інш.; характар агрэгатаў — друзы, жэоды, сакрэцыі і інш.). Тэрыторыі з пэўным комплексам М. наз. мінералагічнымі правінцыямі; прамежкі часу, спрыяльныя ўтварэнню пэўнага комплексу М., наз. мінералагічнымі эпохамі. Вывучэнне ўзаемасувязі паміж хім., фіз. і марфал. асаблівасцямі М. і ўмовамі іх утварэння ўзнаўляе гісторыю фарміравання радовішчаў, што складае навук. аснову пошукаў і разведкі карысных выкапняў. У аснове сучаснай класіфікацыі М. ляжыць крышталехім. прынцып, які адлюстроўвае тып хім. злучэння і тып. хім. сувязі паміж структурнымі адзінкамі. Паводле класіфікацыі А.​Г.​Бяцехціна, усе М. падзяляюцца на арганічныя і неарганічныя, неарганічныя — на 6 раздзелаў, унутры іх вылучаюцца класы, падкласы і групы.

На Беларусі вядома некалькі соцень М. У крышт. фундаменце трапляюцца акцэсорныя М.: самародныя элементы (плаціна, ірыдый, золата, ртуць), сульфіды (кінавар, барніт, кавелін), групы гранатаў (андрадыт, альмандын, піроп), піраксены (аўгіт, дыяпсід, саліт, ферасаліт, гіперстэн, эгірын, энстатыт), амфіболы (рагавая падманка, актыналіт, трэмаліт і інш.). У асадкавай тоўшчы трапляюцца самародная медзь, спадарожнік алмазу — піроп, з групы гідраксідаў — дыяспор і інш. Мінеральную сыравіну, што здабываюць у Беларусі, выкарыстоўваюць у прам-сці буд. матэрыялаў, хім., керамічнай, як агранамічныя руды, абліцовачныя матэрыялы і інш.

Літ.:

Бетехтин А.Г. Минералогия. М., 1950;

Лазаренко Е.К. Курс минералогии. 2 изд. М., 1971;

Ярцев В.И., Аношко Я.И. Минералогия. Мн., 1998.

Я.​І.​Аношка.

т. 10, с. 382