Verbum

ПОЛІКАРБАНА́ТЫ,

сінтэтычныя палімеры, складаныя поліэфіры вугальнай к-ты і дыгідроксізлучэнняў. Маюць агульную ф-лу [—ORO—C(O)—]_n, дзе R — араматычны ці аліфатычны радыкал.

Найб. пашыраны араматычныя П. на аснове дыфенілолпрапану (бісфенолу А), найважн. з іх П., які атрымліваюць полікандэнсацыяй бісфенолу А з фасгенам [—OC₆H₄C(CH₃)₂C₆H₄OC(O)—]_n. Цвёрдае аморфнае бясколернае рэчыва, мал. м. (2—12)∙10​⁴, шчыльн. 1200 кг/м³, t_пл 220—230 °C, раскладаецца пры t > 320 ​^oC. Тэрмапласт. Раствараецца ў метыленхларыдзе, хлараформе і інш. арган. растваральніках. Характарызуецца высокімі трываласцю і цвёрдасцю, добрымі электраізаляцыйнымі ўласцівасцямі. Аптычна празрысты, атмасфера- і марозаўстойлівы (т-ра эксплуатацыі ад -100 да 135 °C), цяжкагаручы матэрыял. Выкарыстоўваюць П. як канстр. матэрыялы ў аўтамабілебудаванні, электроннай і электратэхн. прам-сці, як высокачастотныя дыэлектрыкі ў радыёэлектроніцы, у вытв-сці фільтраў для крыві, касцявых пратэзаў, абалонак для лек. сродкаў пралангаванага дзеяння, вочных лінзаў, лінзаў для оптыкі, асвятляльнай арматуры і інш.

М.​Р.​Пракапчук.

т. 12, с. 474

АПТЫ́ЧНАЯ ПРЫЛА́ДА вымяральная,

прылада, прынцып дзеяння якой заснаваны на выкарыстанні эл.-магн. хваляў аптычнага дыяпазону. З дапамогай аптычнай прылады вымяраюць лінейныя і вуглавыя памеры, некаторыя фіз. велічыні, параўноўваюць форму вырабу ці стан апрацаваных паверхняў з эталонам. Адрозніваюць рабочыя (для практычных вымярэнняў) і ўзорныя, па якіх вывяраюць рабочыя аптычныя прылады.

Асноўная частка аптычнай прылады — аптычная сістэма з лінзаў, люстэркаў, прызмаў і інш., прызначаных для ўтварэння відарысаў прадметаў на сятчатцы вока, экране і інш. або перадачы светлавой энергіі. Для іх разліку карыстаюцца формуламі геам. оптыкі. Канструкцыя прылады абумоўлена метадам вымярэнняў. Паводле прынцыпу дзеяння аптычнай прылады бываюць з аптычным візіраваннем і мех. (электронным або інш. неаптычным) адлікам перамяшчэння пунктаў кантакту з аб’ектам вымярэння (праектары, інстр. мікраскопы, праекцыйныя насадкі), аптычным візіраваннем і аптычным адлікам перамяшчэння (вымяральныя мікраскопы, інтэрферэнцыйныя кампаратары), з мех. кантактам з аб’ектам вымярэння і аптычным адлікам перамяшчэння (аптыметры, кантактныя інтэрферометры, аптычныя даўжынямеры). Выкарыстоўваюцца ў машына- і прыладабудаванні, геадэзіі і інш.

т. 1, с. 438

АДБІЦЦЁ СВЯТЛА́,

частковае ці поўнае вяртанне ў першае асяроддзе светлавога патоку, які падае на мяжу двух асяроддзяў з рознымі паказчыкамі пераламлення. Адбівальная здольнасць цела залежыць ад аптычных уласцівасцяў сумежных рэчываў, даўж. хвалі λ святла, якое падае, і якасці адбівальнай паверхні.

Калі няроўнасці паверхні падзелу меншыя за λ, наглядаецца люстраное адбіццё святла. Пры гэтым выконваюцца 2 законы адбіцця святла: адбіты прамень S′ ляжыць у адной плоскасці з праменем S, што падае, і перпендыкулярам ON да адбівальнай паверхні ў пункце падзення; вугал адбіцця Z′ роўны вуглу падзення α (рыс. 1). Калі няроўнасці адбівальнай паверхні большыя за λ, святло адбіваецца па ўсіх напрамках у межах паўсферы — дыфузнае адбіццё (рыс. 2). У 1954 Ф.І.Фёдаравым адкрыта з’ява перпендыкулярнага да плоскасці падзення зруху адбітага пучка святла (гл. Фёдарава зрух). Асобны выпадак адбіцця святла — поўнае ўнутранае адбіццё. Памяншэнне адбіцця святла дасягаецца прасвятленнем оптыкі; для павелічэння адбіцця на люстраныя паверхні наносяць метал. дыэлектрычныя пакрыцці. Гл. таксама Пераламленне святла.

т. 1, с. 97

ГЮ́ЙГЕНСА—ФРЭНЕ́ЛЯ ПРЫ́НЦЫП,

асноўны прынцып хвалевай оптыкі, які дае магчымасць вызначаць амплітуду (інтэнсіўнасць) хвалі ў кожным пункце, калі вядомыя яе амплітуда і фаза на якой-н. адвольнай паверхні. Першапачаткова сфармуляваны К.Гюйгенсам (1690), развіты з улікам інтэрферэнцыі А.Ж.Фрэнелем (1818), строгую матэм. фармулёўку Гюйгенса—Фрэнеля прынцыпу даў Г.Р.Кірхгоф (1882).

Паводле Гюйгенса—Фрэнеля прынцыпу кожны пункт хвалевай паверхні (фронту хвалі), якой у дадзены момант дасягнула светлавая хваля, з’яўляецца цэнтрам другасных (фіктыўных) кагерэнтных хваль, агінальная якіх у кожны наступны момант часу вызначае новую хвалевую паверхню. Інтэнсіўнасць святла ў пункце назірання вызначаецца вынікам інтэрферэнцыі другасных хваль. Пры гэтым амплітуда другасных хваль залежыць ад вугла паміж нармаллю да хвалевай паверхні ў цэнтры другаснай хвалі і напрамкам на пункт назірання. Гюйгенса—Фрэнеля прынцып выкарыстоўваецца пры рашэнні дыфракцыйных задач. Гл. таксама Дыфракцыя святла, Інтэрферэнцыя святла.

А.​І.​Болсун.

т. 5, с. 554

ІНТЭРФЕРЭ́НЦЫЯ СВЯТЛА́,

прасторавае пераразмеркаванне энергіі светлавога выпрамянення пры накладанні дзвюх ці больш дапасаваных па фазе светлавых хваль (гл. Кагерэнтнасць); асобны выпадак інтэрферэнцыі хваль. Выніковыя ваганні ў вобласці перакрыцця аслабляюцца ці ўзмацняюцца. Выкарыстоўваецца ў спектраскапіі, метралогіі, крышталяграфіі і мінералогіі (інтэрферэнцыя палярызаванага святла), на І.с. заснаваны галаграфія, прасвятленне оптыкі і інш.

Некаторыя з’явы І.с. назіраў яшчэ І.Ньютан; тлумачэнне далі А.Фрэнель і Т.Юнг Найб. часта адбываецца І.с., якая характарызуецца стацыянарнай (устойлівай у часе) інтэрферэнцыйнай карцінай — рэгулярным чаргаваннем абласцей павышанай і паніжанай інтэнсіўнасці святла, напр., вясёлкавая афарбоўка тонкіх масляных плёнак на паверхні вады. Калі зыходныя светлавыя хвалі маюць складаны спектр (напр., сонечнае святло), атрымліваецца каляровая карціна. Размяшчэнне і форма палос залежаць ад геам. формы крыніц святла і ад ступені кагерэнтнасці выпрамененых хваль. Для атрымання інтэрферэнцыйнай карціны ад выпрамянення адной крыніцы яго дзеляць на 2 (ці больш) пучкі, якія павінны да сумяшчэння прайсці розную адлегласць ці распаўсюджвацца ў асяроддзях з рознымі паказчыкамі пераламлення. Гл. таксама Інтэрферометр.

Б.​А.​Соцкі, А.​Р.​Хаткевіч.

т. 7, с. 290

АФТАЛЬМАЛО́ГІЯ (ад грэч. ophthalmos вока + ...логія),

галіна медыцыны, якая вывучае анатомію і фізіялогію органа зроку, хваробы вачэй, распрацоўвае метады іх дыягностыкі, лячэння і прафілактыкі.

Першыя звесткі пра хваробы вачэй ёсць у стараж.-егіп. пісьмовых помніках, у працах Гіпакрата, індыйскіх і кітайскіх медыкаў. Як самаст. навука афтальмалогія пачала фарміравацца ў 17 ст. з развіццём оптыкі. Яе развіццю спрыяла вынаходства ням. вучоным Г.​Гельмгольцам вочнага люстэрка (афтальмаскопа, 1851). Да сярэдзіны 19 ст. належаць і даследаванні ў галіне фізіял. оптыкі, стварэнне вучэнняў пра рэфракцыю і акамадацыю вока. У Расіі першая кафедра вочных хвароб заснавана ў 1818, вочныя лячэбніцы ў Пецярбургу і Маскве — у 1824—26. Уклад у афтальмалогію зрабілі рас. вучоныя А.​У.​Іваноў, А.​А.​Крукаў, А.​М.​Маклакоў, Л.​Г.​Белярмінаў, М.​І.​Авербах, В.​П.​Адзінцоў, У.​П.​Філатаў (першы ў свеце распрацаваў хірург. метад перасадкі рагавіцы). У наш час у практыку ўвайшлі лазерная хірургія, вочныя аперацыі пад мікраскопам (укаранёны М.​Л.​Красновым, А.​П.​Несцеравым і інш., распрацоўваюцца ў Міжгаліновым навук.-тэхн. комплексе «Мікрахірургія вока» пад кіраўніцтвам С.​М.​Фёдарава). Сярод работ замежных афтальмолагаў найбольш вядомы працы па пытаннях патагенезу, клініцы і лячэнні глаўкомы (С.​Дзьюк-Элдэр, Вялікабрытанія; Б.​Бекер, ЗША; Р.​Эцьен, Францыя), праблемах захворванняў сятчаткі вока (М.​Газ, ЗША), выкарыстанні крыяхірургіі ў афтальмалогіі (Т.​Крвавіч, Польшча).

На Беларусі даследаванні па афтальмалогіі пачаліся з 2-й пал. 19 ст. Сучасны этап развіцця афтальмалогіі звязаны з працамі Т.​В.​Бірыч і яе вучняў: Т.​А.​Бірыч, Г.​Р.​Васільева, Д.​В.​Кантар і інш. (распрацоўкі ў галіне крыяхірургіі вочных захворванняў, глаўкомы, апёкаў вачэй і інш.). Н.-д. работа вядзецца ў Бел. ін-це ўдасканалення ўрачоў, Бел. НДІ экспертызы працы інвалідаў, на кафедрах вочных хвароб мед. ін-таў. Распрацоўваюцца пытанні лячэння і прафілактыкі траўмаў органа зроку, дыягностыкі і лячэння вочных хвароб (М.​С.​Завадская, М.​М.​Залатарова, А.​У.​Васілевіч, І.​І.​Катлярова, К.​І.​Клюцавая, І.​В.​Морхат, У.​Т.​Парамей, К.​І.​Чвялёва, Л.​К.​Яхніцкая). Асн. сучасныя кірункі даследаванняў: распрацоўка і ўкараненне мікрахірург. тэхнікі лячэння хвароб і траўмаў органа зроку, лазерная хірургія, дыягностыка і лячэнне вірусных захворванняў вачэй, пытанні прафілактыкі і лячэння блізарукасці, уздзеяння малых дозаў радыяцыі на орган зроку.

Літ.:

Бирич Т.В. Применение низких температур в офтальмологии. Мн., 1984;

Золотарева М.М. Избранные разделы клинической офтальмологии. Мн., 1973;

Клюцевая Е.И. Хирургическое лечение прогрессирующей близорукости. Мн., 1984.

Л.​К.​Яхніцкая.

т. 2, с. 142

АРТАГАНА́ЛЬНАЯ СІСТЭ́МА,

1) мноства {x_n} ненулявых вектараў у эўклідавай (гільбертавай) прасторы, для якіх скалярны здабытак (x_n, x_m) = 0 пры n ≠ m. Калі модуль кожнага вектара роўны 1, то сістэма {x_n} наз. артанармоўнай. Поўную артаганальную сістэму наз. артаганальным базісам. Адпаведна вызначаецца і артанармоўны базіс.

2) Сістэма каардынатаў, у якой каардынатныя лініі (або паверхні) перасякаюцца пад прамым вуглом. Звычайна карыстаюцца дэкартавымі, палярнымі, эліптычнымі, сферычнымі, цыліндрычнымі артаганальнай сістэмай каардынатаў.

3) Сістэма мнагаскладаў {P_n(x)}, n = 0, 1, 2, ..., якія на адрэзку [a, b] з вагой g(x) задавальняюць умовам артаганальнасці ∫​^b_a P_n(x)P_m(x)g(x)dx = 0 /n≠m/, пры гэтым ступень кожнага мнагасклада P_n(x) супадае з яго індэксам n. Выкарыстоўваюцца ў задачах матэм. фізікі, тэорыі выяўленняў груп, вылічальнай матэматыкі і інш. 4) Сістэма функцый, n = 1, 2..., якія на адрэзку [a, b] з вагой p(x) задавальняюць умовам артаганальнасці: ∫​^b_a φ_n(x)φ​^*_m(x)p(x)dz = 0 пры n≠m, дзе ​^* — знак камплекснай спалучанасці. Напр., сістэма трыганаметр. функцый ½, cos nπx, sin nπx (n = 1, 2, ...) — артаганальная сістэма на адрэзку [-1,1] з вагой 1. Выкарыстоўваецца для рашэння задач, напр., спектральнага аналізу ў тэорыі ваганняў, акустыкі, радыёфізікі, оптыкі.

В.​А.​Ліпніцкі.

т. 1, с. 504

ДЫСПЕРСІ́ЙНЫЯ СУАДНО́СІНЫ,

суадносіны паміж велічынямі, што характарызуюць рэакцыю (водгук) фіз. сістэмы на знешняе ўздзеянне. Д.с. не залежаць ад канкрэтнага механізму ўзаемадзеяння сістэмы са знешнім уздзеяннем і з’яўляюцца вынікам прычыннасці прынцыпу.

У оптыцы Д.с. звязваюць рэчаісную і ўяўную часткі дыэлектрычнай (магнітнай) пранікальнасці асяроддзя, у квантавай тэорыі поля — рэчаісныя і ўяўныя часткі амплітуд працэсаў узаемадзеяння паміж элементарнымі часціцамі. Д.с. ўпершыню атрыманы ў тэорыі дысперсіі святла (гл. Дысперсія хваль) галанд. фізікам Р.​Кронігам (1926) і англ. фізікам Х.​Крамерсам (1927; суадносіны Крамерса—Кроніга). Першыя доказы Д.с. для пі-мезон-нуклоннага рассеяння дадзены М.М.Багалюбавым (1956). На аснове Д.с. вырашаны многія прынцыповыя пытанні оптыкі, электрадынамікі, фізікі эл. і магн. з’яў, ядз. фізікі і фізікі элементарных часціц.

У Беларусі даследаванні па выкарыстанні Д.с. у фізіцы элементарных часціц праводзяцца з 1964 у Ін-це фізікі Нац. АН, БДУ і Гомельскім ун-це.

Літ.:

Туров Е.А. Материальные уравнения электродинамики. М., 1983;

Нуссенцвейг Х.М. Причинность и дисперсионные соотношения: Пер. с англ. М., 1976;

Максименко Н.В., Мороз Л.Г. Феноменологическое описание поляризуемостей элементарных частиц в полевой теории // XI Междунар. школа молодых ученых по физике высоких энергий и релятивистской ядерной физике. Дубна, 1979.

Л.​Р.​Мороз.

т. 6, с. 295

КРЫШТАЛЯО́ПТЫКА,

раздзел оптыкі, які вывучае законы распаўсюджвання святла ў крышталях. Метадамі К., шырока даследуюцца мінералы, горныя пароды і інш. крышталічныя рэчывы (напр., гл. Палярызацыйна-аптычны метад даследаванняў).

Адна з асаблівасцей крышталяў — аптычная анізатрапія, з-за якой іх аптычныя ўласцівасці (паказчыкі пераламлення, аптычная актыўнасць, паглынальная здольнасць) розныя па розных напрамках. Гэта выяўляецца ў падвойным праменепраламленні, дыхраізме і інш. з’явах. У макраскапічнай К. рэчыва характарызуюць тэнзарамі дыэл. і магн. пранікальнасцей, эл.-праводнасці і аптычнай актыўнасці. У мікраскапічнай К. гэтыя ж велічыні звязваюцца з уласцівасцямі часціц, якія ўтвараюць крышталь, з іх узаемным размяшчэннем і ўзаемадзеяннем. Аптычныя канстанты (паказчыкі пераламлення і іх рознасці, агульная аптычная характарыстыка крышталя, сувязь аптычных і крышталеграфічных напрамкаў і інш.) для дыягностыкі крышт. рэчываў вызначаюцца ў шліфах ці асобных зернях (гл. Імерсійны метад) на спец. палярызацыйным мікраскопе. На Беларусі ў Ін-це фізікі Нац. АН пад кіраўніцтвам Ф.І.Фёдарава распрацавана агульная тэорыя распаўсюджвання святла ў крышталях, дадзена рашэнне многіх прынцыповых задач.

Літ.:

Федоров Ф.И. Оптика анизотропных сред. Мн., 1958;

Шубников А.В. Основы оптической кристаллографии. М., 1958;

Федоров Ф.И., Филиппов В.В. Отражение и преломление света прозрачными кристаллами. Мн., 1976.

Б.​Б.​Бойка.

т. 8, с. 529

ЛІ́ЧБАВАЯ АПРАЦО́ЎКА ВІДАРЫ́САЎ,

сукупнасць метадаў і сродкаў (тэхн. і праграмных) уводу і апрацоўкі відарысаў у аўтам. і аўтаматызаваных сістэмах. Выкарыстоўваюць у картаграфіі, метэаралогіі, крыміналістыцы, настольных рэд.-выдавецкіх сістэмах і апрацоўцы дакументаў, сістэмах машыннага зроку, пры апрацоўцы касм. відарысаў і аэрафотаздымкаў, даследаванні фіз.-мед. працэсаў і інш.

Зыходны відарыс дыскрэтызуюць і квантуюць з дапамогай прылад сканіравання (гл. Дыгітайзер, Сканер) і атрымліваюць лічбавы відарыс у выглядзе матрыцы асобных элементаў (пікселаў). Пры Л.а.в. выконваюць лінейную фільтрацыю відарысаў і іх «згладжванне», выдзяляюць контуры, выдаляюць выпадковыя скажэнні і інш. Больш складаныя метады выкарыстоўваюць для ўзнаўлення 3-мернай структуры аб’екта па яго праекцыях, нярэзкага ці «змазанага» відарыса. Напр., у выліч. тамаграфіі такімі метадамі атрымліваюць відарысы папярочнага сячэння цела чалавека, з вял. дакладнасцю выяўляюць пухліны, анамаліі.

На Беларусі даследаванні па праблемах Л.а.в. праводзяцца ў Ін-це тэхн. кібернетыкі і Ін-це фізікі, Магілёўскім ін-це прыкладной оптыкі Нац. АН, БДУ, Бел. ун-це інфарматыкі і радыёэлектронікі і інш.

Літ.:

Прэтт У. Цифровая обработка изображений: Пер. с англ. Кн. 1—2. М., 1982;

Старовойтов В.В. Локальные геометрические методы цифровой обработки и анализа изображений. Мн., 1997;

Абламейко С.В., Лагуновский Д.М. Обработка изображений: технология, методы, применение. Мн., 1999.

С.​У.​Абламейка, В.​В.​Старавойтаў.

т. 9, с. 327