ГУКАЗА́ПІС,

запіс гукавых ваганняў на гуканосьбіце для наступнага ўзнаўлення. Гуказапісвальны элемент (разец, светлавы прамень, магн. поле ці інш.) пакідае след гукавога вагання (гукавую дарожку, ці фанаграму) на рухомым гуканосьбіце. У залежнасці ад колькасці каналаў запісу—узнаўлення адрозніваюць гуказапіс мона- (1 канал), стэрэа- (2 каналы), квадра- (4 каналы) і поліфанічны (больш за 4 каналы). Найб. пашыраны мех., фатагр. (аптычныя) і магн. метады гуказапісу, якія выкарыстоўваюцца ў вытв-сці грампласцінак, гукавым кіно, пры стварэнні радыё- і тэлевізійных праграм і інш.

Для мех. гуказапісу выкарыстоўваюць эл.-акустычны (найб. пашыраны) ці акустычны спосаб. Пры акустычным спосабе гукавыя ваганні непасрэдна ўздзейнічаюць на гуказапісвальны элемент (напр., іголку фанографа), які стварае гукавую канаўку, пры эл.-акустычным — гукавыя ваганні пераўтвараюцца мікрафонам у эл. і пасля ўзмацнення ўздзейнічаюць на запісвальны элемент. Пры фатагр. гуказапісе гукавыя ваганні пераўтвараюцца ў светлавыя і фіксуюцца на святлоадчувальнай плёнцы (гл. Гукавое кіно), кампакт-дыску і інш., пры магн. гуказапісе зменьваецца намагнічанасць дарожкі запісу на магнітных дроце, стужцы, дыску і інш. Гл. таксама Дыктафон, Магнітафон, Магнітарадыёла, Магнітола.

У муз. мастацтве гуказапіс адкрыў новыя магчымасці і зрабіў вял. ўплыў на ўсе сферы музыкі 20 ст. Ён ператварыў музыку ў прадмет масавай вытворчасці, вылучыў гукарэжысуру як новую разнавіднасць муз. творчай працы і прывёў да істотных змен у кампазіцыі, выканальніцтве (гл. Электронная музыка) і ўспрыманні музыкі.

Літ.:

Синклер Я. Введение в цифровую звукотехнику: Пер. с англ. М., 1990;

Рождение звукового образа. М., 1985.

А.​П.​Ткачэнка.

т. 5, с. 524

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

МЕРКУ́РЫЙ,

першая ад Сонца планета Сонечнай сістэмы, астр. знак .

Сярэдняя адлегласць ад Сонца 57,91 млн. км. Арбіта вельмі выцягнутая: адлегласць у перыгеліі 46 млн. км, у афеліі 70 млн. км (эксцэнтрысітэт 0,206). Перыяд абарачэння вакол Сонца 87,97 зямных сутак. вакол восі — 58,65 зямных сутак (​2/3 перыяду арбітальнага абарачэння). Сонечныя суткі на М. роўныя 176 зямным суткам. Сярэдняя скорасць руху па арбіце 47,9 км/с. Нахіл плоскасці экватара да плоскасці арбіты невялікі (~3°), таму сезонныя змены на М. практычна адсутнічаюць. Дыяметр М. 4879,4 км, маса 3,303∙10​23 кг (0,055 масы Зямлі), сярэдняя шчыльнасць 5420 кг/м³.

Т-ра паверхні ў поўдзень 430 °C, ноччу да -173 °C. Атмасфера ў асноўным вадародна-геліевая, вельмі разрэджаная (ціск на паверхні ~0,2 нПа). Паверхня М. нагадвае паверхню Месяца (шмат кратэраў), існуюць характэрныя для М. ўтварэнні — эскарпы, або абрывы. Сярэдняя адбівальная здольнасць паверхні М. ў адносінах да сонечнага выпрамянення нізкая (6%). Бляск мяняецца ад -1 да ​1/3 зорнай велічыні. У М. назіраюцца фазы, аналагічныя фазам Месяца. Спадарожнікі адсутнічаюць. Магнітнае поле прыблізна ў 100 разоў меншае, чым у Зямлі. Аптычныя назіранні М. ўскладняюцца блізкасцю да Сонца (найб. вуглавая адлегласць для зямнога назіральніка 28°). Даследаванні М. праводзяцца радыёастр. метадамі, радыёлакацыяй. Найб грунтоўныя і дакладныя звесткі атрыманы пры дапамозе касм. апарата «Марынер-10» (гл. «Марынер»).

Літ.:

Уипл Ф.Л. Семья Солнца: Пер. с англ. М., 1984.

А.​А.​Шымбалёў.

Агульны выгляд планеты Меркурый (мазаіка з фатаграфій, зробленых пры дапамозе аўтаматычнай міжпланетнай станцыі «Марынер-10»; 1974, ЗША).

т. 10, с. 294

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

КАЛО́ІДНАЯ ХІ́МІЯ,

навука, якая вывучае ўласцівасці гетэрагенных высокадысперсных сістэм і працэсы, што ў іх адбываюцца. Асн. раздзелы: малекулярна-кінетычныя з’явы ў дысперсных сістэмах (ДС); тэорыя ўзнікнення і росту зародкаў новай фазы ў метастабільных сістэмах (метады атрымання ДС); паверхневыя з’явы; устойлівасць, стабілізацыя і каагуляцыя ДС; аптычныя ўласцівасці ДС (гал. ч. рассеянне святла ў іх); эл. і электракінетычныя з’явы ў ДС; структурна-мех. ўласцівасці ДС. К.х. вывучае золі, суспензіі, эмульсіі, пены, сітаватыя дысперсныя целы (адсарбенты, каталізатары), аэразолі, лаўкалоіды, структураваныя сістэмы (гелі). Метады даследаванняў у К.х.: дыяліз, ультрафільтрацыя, ультрацэнтрыфугаванне, электроліз, нефеламетрыя, электронаграфія, электронная мікраскапія і інш.

К.х. як самаст. навука ўзнікла ў 1860-я г. пасля з’яўлення прац Т.Грэма. Сістэматычнае вывучэнне калоідных сістэм пачалося ў пач. 20 ст., калі былі распрацаваны новыя метады іх даследаванняў. Сучасная К.х. распрацоўвае навук. асновы тэхналогіі буд. матэрыялаў, сілікатаў, лакаў, фарбаў, палімерных матэрыялаў, новых матэрыялаў для тэхнікі, узбагачэння карысных выкапняў, здрабнення цвёрдых цел, шматлікіх працэсаў (фарбавання, дублення, мыйнага дзеяння, вода- і газаачысткі). Метады К.х. выкарыстоўваюць у многіх галінах харч. прам-сці, для аптымізацыі структуры глебы ў сельскай гаспадарцы.

На Беларусі даследаванні па К.х. пачаліся ў БДУ (1924) пад кіраўніцтвам М.Ф.Ярмоленкі, праводзяцца ў Ін-це агульнай і неарган. хіміі і Ін-це праблем выкарыстання прыродных рэсурсаў і экалогіі Нац. АН Беларусі, БДУ (хім ф-т і НДІ фіз.-хім. праблем) і Бел. тэхнал. ун-це.

Літ.:

Воюцкий С.С. Курс коллоидной химии. 2 изд. М., 1976;

Щукин Е.Д., Перцов А.В., Амелина Е.А. Коллоидная химия. 2 изд. М., 1982;

Фридрихсберг Д.А. Курс коллоидной химии. 3 изд. СПб., 1995.

Ф.​М.​Капуцкі.

т. 7, с. 478

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

АЗЁРАЗНА́ЎСТВА, лімналогія,

галіна гідралогіі; навука пра кантынентальныя вадаёмы запаволенага водаабмену (азёры, вадасховішчы, сажалкі). Вывучае комплекс узаемазвязаных фіз., хім. і біял. працэсаў у вадаёмах; даследуе азёрныя катлавіны, донныя адклады, водны баланс і рэжым узроўню, тэрміку, лядовыя і аптычныя з’явы, гідрахімію, рух азёрнай вады, берагі, рыбапрадукцыйнасць і інш. Выкарыстоўвае метады геахіміі, геафізікі, геалогіі, гідрабіялогіі, вынікі лабараторных аналізаў станцый і пастоў сістэмы Гідраметслужбы, аэрафотаздымку.

Заснавальнік навуковага азёразнаўства — швейц. вучоны Ф.​А.​Фарэль (1885; працы па тэорыі і методыцы азёразнаўства). У развіцці азёразнаўства вял. значэнне маюць працы рус. вучоных Дз.​М.​Анучына (вывад аб сувязі азёраў з усімі кампанентамі ландшафтаў), Л.​С.​Берга (апісанні азёраў Зах. Сібіры, Аральскага, Ісык-Куля) і А.​І.​Ваейкава (выявіў сувязь вагання ўзроўню вял. азёраў з іх водным балансам і інш.). На Беларусі першыя гідралагічныя даследаванні азёраў праведзены А.​М.​Семянтоўскім (у 1872 апублікаваў гідралагічны агляд Віцебскай губ.).

Сістэматычнае вывучэнне азёраў пачалося з арганізацыі н.-д. станцыі рыбнай гаспадаркі (1928). Комплексныя даследаванні азёраў праводзяцца на біял. і геагр. ф-тах БДУ (складанні азёрнага кадастру, прыродна-гасп. класіфікацыі, стварэнне ахоўных тэрыторый на базе азёраў), выконваюцца маніторынгавыя даследаванні па міжнар. праграме «Чалавек і біясфера». Н.-д. лабараторыя азёразнаўства БДУ (з 1968) комплексна даследавала больш як 500 азёраў і 20 вадасховішчаў (вывучаны гісторыя развіцця ў галацэне, вызначана іх генетычная прыналежнасць, законы азёрнай седыментацыі; В.​П.​Якушка). У ін-тах геал. навук і праблем выкарыстання прыродных рэсурсаў і экалогіі АН Беларусі вывучаюцца азёры як аб’екты намнажэння сапрапеляў. У вытв. мэтах азёры і вадасховішчы даследуюцца ў Цэнтр. НДІ комплекснага выкарыстання водных рэсурсаў. Вынікі даследаванняў улічваюцца ў рыбнай гаспадарцы, энергетыцы, курортнай справе, водазабеспячэнні, меліярацыі, здабычы карысных выкапняў і інш.

В.​П.​Якушка.

т. 1, с. 162

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ГЕАДЭЗІ́ЧНЫЯ ПРЫЛА́ДЫ І ІНСТРУМЕ́НТЫ,

прыстасаванні для вымярэння даўжынь ліній, вуглоў, перавышэнняў, азімутаў пры нівеліраванні, тапагр. здымцы, маркшэйдэрскіх работах, вышуканнях, будаўніцтве, мантажы і эксплуатацыі розных інж. збудаванняў. Паводле прынцыпу работы і будовы адрозніваюць мех., оптыка-мех., электрааптычныя і радыёэлектронныя геад. прылады. Стальныя або інварныя мерныя стужкі выкарыстоўваюць для вымярэння даўжынь ліній, базісныя прылады з падвесным інварным дротам — для вызначэння базісаў і трыянгуляцыі, дальнамерамі (святлодальнамер, радыёвышынямер, радыёдальнамер) вызначаюць даўжыню ліній без непасрэдных вымярэнняў з дакладнасцю да 0,1 мм на 100 м. Вуглы вымяраюць тэадалітамі (высокадасканальныя аптычныя, фотатэадаліты, гідратэадаліты) і бусоллю. Дакладнасць вымярэння вуглоў ад 15—10 у бусолі да 0,5 у аптычнага тэадаліта. Нівеліры выкарыстоўваюць пераважна для вымярэння перавышэнняў, стварэння нівелірнай сеткі, вышыннага абгрунтавання тапагр. здымак. Паводле дакладнасці яны падзяляюцца на высокадакладныя, дакладныя і тэхнічныя. Гідрастатычнымі нівелірамі карыстаюцца зрэдку, прынцып дзеяння іх заснаваны на вымярэнні ўзроўняў вадкасці ў сасудах, злучаных гнуткім шлангам. З камбінаваных геадэзічных прылад найчасцей выкарыстоўваюць тахеометр (для вымярэння гарыз. і верт. вуглоў, даўжынь ліній і перавышэнняў) і кіпрэгель (для вымярэння верт. вуглоў, адлегласцей, перавышэнняў і графічнай пабудовы напрамкаў пры выкананні спец. мензульнай здымкі). Экліметр выкарыстоўваюць у геад. здымцы для вымярэння вуглоў нахілу ліній з дакладнасцю да 0,1°; экер — для адкладання на мясцовасці фіксаванага вугла; мензула (дошка-планшэт і падстаўкі з установачнымі прыстасаваннямі) — асн. ч. камплекта для тапагр. мензульнай здымкі; ватэрпас вадкасны або электрамеханічны — для вызначэння становішча геад. прылад і іх асобных вузлоў адносна верт. ліній; рэйка геадэзічная (брусок даўж. 1,5—4 м з нанесенай шкалой) — для вымярэння адлегласцей або перавышэнняў пры тапагр. здымцы. Пры складанні планаў, картаў і пры карыстанні імі ўжываюцца каардынатографы, маштабныя лінейкі і вымяральнікі, транспарціры, планіметры і курвіметры.

Р.​А.​Жмойдзяк.

Геадэзічныя прылады і інструменты: 1 — аптычны тэадаліт Т-2; 2 — кіпрэгель; 3 — нівелір, 4 — экліметр.

т. 5, с. 116

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ВЫМЯРА́ЛЬНЫ ПЕРАЎТВАРА́ЛЬНІК,

прыстасаванне, якое пераўтварае фіз. велічыню, што вымяраецца або рэгулюецца, у сігнал (звычайна электрычны) для далейшай перадачы, апрацоўкі ці рэгістрацыі. Адна з асн. частак сродкаў вымяральнай тэхнікі, сістэм аўтаматыкі і тэлемеханікі. Тэрмін «вымяральны пераўтваральнік» уведзены стандартам замест тэрміна «датчык».

Параметры, якія ўспрымаюцца вымяральным пераўтваральнікам, бываюць механічныя (намаганне, перамяшчэнне, скорасць, вібрацыя), гідраўлічныя і пнеўматычныя (ціск, расход), аптычныя (сіла святла), цеплавыя (т-ра), электрычныя (напружанне і ток), радыеактыўныя. Выходныя сігналы падзяляюцца на электрычныя і пнеўматычныя (часам гідраўлічныя), амплітудныя, часаімпульсныя, частотныя і фазавыя, аналагавыя (неперарыўныя) і лічбавыя (дыскрэтныя). Вымяральны пераўтваральнік складаецца з аднаго (напр., тэрмапара, тэнзометр) або з некалькіх элементарных пераўтваральнікаў, найважнейшы з якіх — адчувальны элемент. Пераўтваральнікі злучаюцца па каскаднай, дыферэнцыяльнай і кампенсацыйнай схемах. Найб. Пашыраны маштабныя і функцыянальныя вымяральныя пераўтваральнікі. Маштабныя (напр., дзялільнікі частаты і напружання, трансфарматары вымяральныя) мяняюць маштаб велічыні, якая вымяраецца, без змены яе фіз. прыроды. Гэтыя вымяральныя пераўтваральнікі пашыраюць межы вымярэнняў сродкамі вымяральнай тэхнікі. Функцыянальныя вымяральныя пераўтваральнікі (напр., тэрмарэзістары, фотаэлементы) пераўтвараюць велічыню той ці іншай фіз. прыроды ў функцыянальна звязаны з ёй сігнал (звычайна электрычны). Такімі вымяральнымі пераўтваральнікамі можна вымяраць разнастайныя неэл. велічыні. Асобны клас складаюць аперацыйныя вымяральныя пераўтваральнікі, якія выконваюць над велічынямі пэўныя матэм. аперацыі (інтэграванне, дыферэнцыраванне і інш.). Асн. характарыстыкі вымяральных пераўтваральнікаў: від функцыянальнай залежнасці паміж уваходнай і выходнай велічынямі, адчувальнасць і парог адчувальнасці, хібнасць.

У.​М.​Сацута.

Вымяральны пераўтваральнік: а — тэмпературы (1, 2 — тэрмаэлектроды); б — ціску (1 — мембрана, 2 — газ або вадкасць); в — акустычны (1 — мембрана, 2 — вугальны парашок); г — нахілу (1 — электроды, 2 — электраліт); д — вызначэння канцэнтрацыі кіслаты ў растворы (1 — электроды, 2 — электрамагніт, 3 — рычаг, 4 — клапан).
Схема палярызацыйнага валаконна-аптычнага вымяральнага пераўтваральніка ціску, акустычных ваганняў і лінейных паскарэнняў: 1 — крыніца аптычнага выпрамянення (AB); 2 — валаконныя светлаводы; 3 — палярызатар AB; 4 — аптычны адчувальны элемент (прызма); 5 — мембрана; 6 — аналізатар AB; 7 — прыёмнік AB.

т. 4, с. 315

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ДЭФЕ́КТЫ Ў КРЫШТА́ЛЯХ,

парушэнні перыядычнасці размяшчэння часціц у крышталічнай рашотцы. Узнікаюць пры росце крышталёў ці іх фазавых ператварэннях, цеплавых, мех., эл. і інш. уздзеяннях, увядзенні дамешкаў. Адрозніваюць дэфекты кропкавыя (нульмерныя), лінейныя (аднамерныя), паверхневыя (двухмерныя) і аб’ёмныя (трохмерныя).

Кропкавыя дэфекты — парушэнні перыядычнасці ўласнай атамнай структуры крышталя: вакансіі атамы і іоны, што перамясціліся з нармальнага становішча ў міжвузелле (міжвузельныя атамы і іоны); атамы і іоны ў крышталях хім. злучэнняў, якія займаюць вузлы «чужой» падрашоткі; дэфекты, што ўзнікаюць пры ўвядзенні ў крышталь дамешкавых атамаў. Узаемадзеянне такіх дэфектаў паміж сабой прыводзіць да ўзнікнення складаных дэфектаў: дывакансій (падвойных вакансій), кластараў (скопішчаў дэфектаў) і інш. Лінейныя дэфекты — ланцужкі кропкавых дэфектаў, краявыя і вінтавыя дыслакацыі. Паверхневыя дэфекты: няправільна ўкладзеныя слаі атамаў (дэфекты ўпакоўкі); заканамерныя парушэнні нармальнага чаргавання атамных плоскасцей; дэфекты двайнікавання з кропкавай сіметрыяй; межы ўключэнняў; сама паверхня крышталя і інш. Аб’ёмныя дэфекты: парушэнні, звязаныя з адхіленнем ад законаў стэхіяметрыі; скопішчы вакансій; нерэгулярныя ўтварэнні ў выглядзе расколін, пустот, уключэнняў іншай фазы; скопішчы дамешкаў на дыслакацыях, у зонах росту і інш. макраскапічныя дэфекты. Д. ў к. уплываюць на мех., аптычныя, эл., магн. і інш. ўласцівасці крышталёў. У дасканалай крышт. рашотцы рух атамаў і іонаў немагчымы; у крышталях з дэфектамі міграцыя атамаў абумоўлівае ўзаемную дыфузію цвёрдых цел, хім. цвердафазныя рэакцыі і інш. з’явы. Д. ў к. могуць уводзіцца мэтанакіравана або ўзнікаць выпадкова пад уздзеяннем фактараў, якія не кантралююцца. Спец. ўвядзенне дэфектаў або іх выдаленне — важная частка тэхналогіі вытв-сці паўправадніковых матэрыялаў, люмінафораў, лазерных і фотахромных крышталёў і шкла, паўправадніковых прылад. Шчыльнасць непажаданых дэфектаў памяншаецца ўдасканаленнем метадаў вырошчвання і апрацоўкі крышталёў. Д. ў к. вывучаюцца аптычнымі метадамі, іоннай і электроннай мікраскапіяй, метадам выбіральнага траўлення, рэнтгенадыфракцыйнымі і ядз.-фіз. метадамі.

Літ.:

Современная кристаллография Т. 2. М., 1979;

Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. М., 1981;

Орлов А.Н. Введение в теорию дефектов в кристаллах. М., 1983;

Орлов А.Н., Трушин Ю.В. Энергии точечных дефектов в металлах. М., 1983.

Р.​М.​Шахлевіч.

т. 6, с. 364

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ІНСТЫТУ́Т ЭЛЕКТРО́НІКІ Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі.

Засн. ў 1973 на базе Лабараторыі электронікі АН Беларусі (існавала з 1961). У ін-це (1998) 10 лабараторый, аспірантура, савет па абароне канд. і доктарскіх дысертацый.

Асн. кірункі навук. даследаванняў: фіз. асновы оптаэлектронікі і аптычныя метады апрацоўкі інфармацыі; фіз. асновы мікраэлектронікі, у межах якіх распрацоўкі накіраваны на стварэнне элементнай базы для звышхуткадзейных і высокапрадукцыйных сістэм атрымання, захоўвання, перадачы і апрацоўкі інфармацыі; оптаэлектронных элементаў і прылад для аптычнай (у т. л. лазерна-галаграфічных сістэм) апрацоўкі інфармацыі, валаконна-аптычных ліній сувязі, вымяральнай тэхнікі і фотааўтаматыкі; оптыка-электронных, магн.-эл. і інш. пераўтваральнікаў для сістэм кантролю і вымярэння; вакуумных мікраэлектронных прылад для экстрэмальных умоў эксплуатацыі, прылад мікрамеханікі і мікрасенсорыкі; матэрыялаў для мікраэлектронікі і нанатэхналогій. Вынікі навук. даследаванняў: распрацаваны новыя матэрыялы для мікраэлектронікі; метады і сродкі прасторавай і прасторава-часавай мадуляцыі светлавых патокаў, якія забяспечваюць эфектыўнае пераўтварэнне двух- і аднамерных аптычных сігналаў; распрацаваны і створаны фотапрыёмнікі і фотапрыёмныя структуры для валаконна-аптычных ліній сувязі, сістэм аўтафакусіроўкі, рэгістрацыі звышслабых свячэнняў; высокаадчувальныя фотарэзістары і на іх аснове створаны оптаэлектронныя пераўтваральнікі для нанавальтметраў і мультыметраў; створаны спецыялізаваныя высокакагерэнтныя цвердацелыя лазеры для патрэб аптычнай лакацыі, галаграфіі і неразбуральнага кантролю вібратрываласных характарыстык вырабаў машынабудавання метадамі галаграфічнай інтэрфераметрыі, алюма-аксідная тэхналогія стварэння вакуумнай мікраэлектронікі, мікрамеханікі і нанаэлектронікі, вакуумныя інтэгральныя схемы для экстрэмальных умоў эксплуатацыі пры высокіх узроўнях т-р і радыяцыі; выпрацаваны прынцыпы пабудовы высокаадчувальных вымяральнікаў кампанентаў вектара індукцыі магн. поля Зямлі; створана апаратура арыентацыі галаўных частак метэаракет, вымярэння траекторый ствалоў свідравін у працэсе бурэння, спектрафотаметрычная апаратура, якая ўстанаўліваецца на ШСЗ для даследаванняў азонасферы Зямлі, шэраг высокапрадукцыйных сістэм аўтаматызаванага высокадакладнага вымярэння і кантролю памераў вырабаў электроннай тэхнікі, валаконнай оптыкі, а таксама субмікронных часцінак у тэхнал. асяроддзях; устаноўлены заканамернасці структурных і фазавых пераўтварэнняў у тонкіх паўправадніковых і метал. плёнках, сістэмах метал-паўправаднік пры імпульсным лазерным уздзеянні. Распрацоўкі ін-та адзначаны Дзярж. прэміяй СССР (1985), Дзярж. прэміямі Беларусі (1982, 1996), ЛКСМБ (1974). У Ін-це працаваў чл.-кар. АН СССР В.М.Аўдзееў; працуюць акад. Нац. АН Беларусі У.А.Піліповіч і чл.-кар. А.А.Кавалёў.

Я.​К.​Чаховіч.

т. 7, с. 275

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ІНФРАЧЫРВО́НАЯ СПЕКТРАСКАПІ́Я,

раздзел спектраскапіі, які займаецца атрыманнем, даследаваннем і выкарыстаннем спектраў вылучэння, паглынання і адбіцця ў інфрачырвонай вобласці спектра (гл. Інфрачырвонае выпрамяненне). Паводле сістэм, што вывучаюцца, І.с. адносіцца да малекулярнай спектраскапіі; паводле станаў, пераходы паміж якімі выклікаюць лініі і палосы інфрачырвонага спектра, — да вагальнай і вярчальнай спектраскапіі. Вывучае ў асн. малекулярныя спектры, бо ў інфрачырв. вобласці размешчана большасць вагальных і вярчальных спектраў малекул.

Найб пашыраны даследаванні інфрачырв спектраў паглынання, якія ўзнікаюць з прычыны паглынання інфрачырв. выпрамянення пры праходжанні яго праз рэчыва. Колькасную сувязь паміж інтэнсіўнасцю выпрамянення, якое падае на рэчыва, прайшло праз яго, і велічынямі, што характарызуюць паглынальнае рэчыва, дае Бугера—Ламберта—Бэра закон. На практыцы звычайна інфрачырв. спектр паглынання паказваюць графічна ў выглядзе залежнасці ад частаты (або даўжыні хвалі) шэрагу велічынь, якія характарызуюць паглынальнае рэчыва (каэф. прапускання, паглынання, аптычная шчыльнасць і інш.). Асн. характарыстыкі спектраў інфрачырв. паглынання: колькасць палос паглынання ў спектры, іх становішча (размяшчэнне), шырыня і форма, велічыня паглынання Яны вызначаюцца структурай і хім. саставам паглынальнага рэчыва, залежаць ад яго агрэгатнага стану, т-ры, ціску і інш. Характарызуюцца высокай выбіральнасцю і адчувальнасцю да розных хім. і структурных пераўтварэнняў рэчываў, саставу іх сумесей. Метады І.с. выкарыстоўваюцца для вызначэння структуры малекул, іх хім. саставу, для якаснага і колькаснага аналізу хім. груп і сувязей, сумесей розных рэчываў і матэрыялаў, біял. аб’ектаў і інш. (гл. Спектры аптычныя).

У Беларусі даследаванні па І.с. вядуцца з 1954—55 у БДУ і Нац. АН (Б.​І.​Сцяпанаў, М.​А.​Барысевіч, Р.​Г.​Жбанкоў, К.​М.​Салаўёў, Дз.​С.​Умрэйка, В.​Р.​Верашчагін і інш.). Асн. кірункі: вывучэнне вугляводаў (у т. л. цэлюлозы), іх фіз. і хім. мадыфікацый, іонных і іонарадыкальных злучэнняў, парфірынаў, каардынацыйных злучэнняў цяжкіх металаў, пары арган. малекул, рассеяння інфрачырв. выпрамянення дысперснымі сістэмамі.

Літ.:

Кросс А Введение в практическую инфракрасную спектроскопию: Пер. с англ. М., 1961;

Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию. М., 1979;

Жбанков Р.Г. Инфракрасные спектры и структура углеводов. Мн., 1972;

Колебания молекул. 2 изд. М., 1972.

Р.​Г.​Жбанкоў.

Да арт. Інфрачырвоная спектраскапія. Схема аднапрамянёвага ІЧ-спектрометра: К — крыніца неперарыўнага ІЧ-выпрамянення; Л1 і Л2 — люстэркі асвятляльніка і кандэнсатара; С — кювета з рэчывам, якое даследуецца; М — монахраматар; П — прыёмнік выпрамянення; У — узмацняльнік; В — вымяральная або рэгістравальная прылада.

т. 7, с. 295

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)

ВЫМЯРА́ЛЬНАЯ ТЭ́ХНІКА,

галіна навукі і тэхнікі, звязаная з вывучэннем, вырабам і выкарыстаннем сродкаў вымярэнняў. Грунтуецца на навук. дысцыплінах, якія вывучаюць метады і сродкі атрымання колькаснай інфармацыі аб велічынях, што характарызуюць аб’екты і вытв. працэсы. Уключае вымяральныя прылады, інструменты, машыны і ўстаноўкі, прызначаныя для рэгістрацыі вынікаў вымярэння. Звязана з вылічальнай тэхнікай, кібернетыкай тэхнічнай, тэлемеханікай, электронікай, аўтаматыкай і інш.

Вымяральная тэхніка ўзнікла ў глыбокай старажытнасці і была звязана з вымярэннем мас і аб’ёмаў, адлегласцей і плошчаў, адрэзкаў часу, вуглоў і г.д. Да 16—18 ст. адносіцца ўдасканаленне гадзіннікаў і вагаў, вынаходства мікраскопа, барометра, тэрмометра. У канцы 18 — 1-й пал. 19 ст. з пашырэннем паравых рухавікоў і развіццём машынабудавання развіваецца прамысл. вымяральная тэхніка: удасканальваюцца прылады для вызначэння памераў, з’яўляюцца вымяральныя машыны, уводзяцца калібры, розныя меры фіз. велічынь (у т. л. эталоны) і г.д. У 19 ст. створаны асновы тэорыі вымяральнай тэхнікі і метралогіі, пашырылася метрычная сістэма мер, з’явіліся электравымяральныя прылады і цеплатэхнічныя прылады. У 20 ст. пачынаюць выкарыстоўвацца эл. і электронныя сродкі для вымярэння мех., цеплавых, аптычных і інш. велічынь, для хім. аналізу і геолагаразведкі, развіваюцца радыёвымярэнні і спектраметрыя, узнікае прыладабуд. прам-сць. Гал. кірункі развіцця сучаснай вымяральнай тэхнікі: лінейныя і вуглавыя вымярэнні; мех., аптычныя, акустычныя, цеплафіз., фіз.-хім. вымярэнні; эл., магн. і радыёвымярэнні; вымярэнні частаты і часу, выпрамяненняў (гл., напр., Арэометр, Асцылограф, Вакуумметр, Вісказіметр, Вымяральны пераўтваральнік, Газааналізатар, Геадэзічныя прылады і інструменты, Дазіметрычныя прылады, Інтэрферометр, Каларыметр, Люксметр, Манометр, Пнеўматычны пераўтваральнік, Радыёвымяральныя прылады, Спектрометр, Частатамер).

Шырока выкарыстоўваюцца (пераважна ў машынабудаванні) вымяральныя інструменты: універсальныя (для вымярэння дыяпазонаў памераў) і бясшкальныя (для вымярэння аднаго пэўнага памеру). Універсальныя падзяляюцца на штрыхавыя (штанген-інструменты, вугламеры, лінейкі, вугольнікі, кронцыркулі), мікраметрычныя (глыбінямеры, мікрометры, нутрамеры), механічныя з рознымі тыпамі мех. перадач (індыкатары гадзіннікавага тыпу, мініметры, мікатары), оптыка-механічныя (праектары, вымяральныя мікраскопы) і інш. Многія прылады далучаюць розныя канструкцыйныя асаблівасці, напр. аптыметры (рычажна-аптычная сістэма). Бясшкальныя інструменты — сродкі допускавага кантролю; гэта калібры (кольцы, шаблоны, коркі, скобы) і канцавыя меры (стальныя пліткі пэўнай таўшчыні ў наборах). Адным з гал. кірункаў далейшага развіцця вымяральнай тэхнікі з’яўляецца распрацоўка інфарм.-вымяральных сістэм. Удасканальваюцца сродкі дылатаметрыі, дазіметрыі, мас-спектраметрыі, рэфрактаметрыі, тэлеметрыі. Тэарэт. і навук.-практычную аснову ўдасканалення вымяральнай тэхнікі як аднаго з кірункаў прыладабудавання складаюць дасягненні і распрацоўкі ў галіне фіз тэхн. навук. На Беларусі сродкі вымяральнай тэхнікі выпускаюць Гомельскі завод вымяральных прылад, Віцебскае вытворчае аб’яднанне «Электравымяральнік» і інш.

А.​Р.​Архіпенка, У.​М.​Сацута.

т. 4, с. 314

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)